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1Conference
المؤلفون: Bahoumina, Prince, Hallil, Hamida, Lachaud, Jean-Luc, Dejous, Corinne, Rebiere, Dominique, Paragua Macuri, Carlos Alberto, Frigui, Kamel, Bila, Stéphane, Baillargeat, Dominique, Pacchini, Sébastien, Philippe, Coquet, Pichonnat, Emmanuelle, Happy, Henri
المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Systèmes RF (XLIM-SRF), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CINTRA / SEEE Nanyang Technological University, Nanyang Technological University Singapour, CNRS International - NTU - Thales Research Alliance (CINTRA), THALES France -Nanyang Technological University Singapour -Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
المصدر: IEEE Sensors ; https://unilim.hal.science/hal-01302216 ; IEEE Sensors, 2015, Busan, South Korea
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
جغرافية الموضوع: Busan, South Korea
Relation: hal-01302216; https://unilim.hal.science/hal-01302216
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2Conference
المؤلفون: Bahoumina, Prince, Hallil, Hamida, Lachaud, Jean-Luc, Dejous, Corinne, Rebiere, Dominique, Paragua Macuri, Carlos Alberto, Frigui, Kamel, Bila, Stéphane, Baillargeat, Dominique, Pacchini, Sébastien, Philippe, Coquet, Pichonnat, Emmanuelle, Happy, Henri
المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Systèmes RF (XLIM-SRF), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CINTRA / SEEE Nanyang Technological University, Nanyang Technological University Singapour, CNRS International - NTU - Thales Research Alliance (CINTRA), THALES France -Nanyang Technological University Singapour -Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
المصدر: IEEE Sensors ; https://unilim.hal.science/hal-01302216 ; IEEE Sensors, 2015, Busan, South Korea
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
جغرافية الموضوع: Busan, South Korea
Relation: hal-01302216; https://unilim.hal.science/hal-01302216
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3Conference
المؤلفون: BAHOUMINA, Prince, Hallil, Hamida, Lachaud, Jean-Luc, Dejous, Corinne, Rebiere, Dominique, Paragua Macuri, Carlos Alberto, Frigui, Kamel, Bila, Stéphane, Baillargeat, Dominique, Pacchini, Sébastien, Philippe, Coquet, Pichonnat, Emmanuelle, Happy, Henri
المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1, Systèmes RF (XLIM-SRF), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CINTRA / SEEE Nanyang Technological University, Nanyang Technological University Singapour, CINTRA CNRS/NTU/THALES, UMI 3288, Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
المصدر: IEEE Sensors ; https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01302216 ; IEEE Sensors, 2015, Busan, South Korea
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
جغرافية الموضوع: Busan, South Korea
Relation: hal-01302216; https://hal-unilim.archives-ouvertes.fr/hal-01302216
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4Conference
المؤلفون: Bahoumina, Prince, Hallil, Hamida, Lachaud, Jean-Luc, Dejous, Corinne, Rebiere, Dominique, Paragua Macuri, Carlos Alberto, Frigui, Kamel, Bila, Stéphane, Baillargeat, Dominique, Pacchini, Sébastien, Philippe, Coquet, Pichonnat, Emmanuelle, Happy, Henri
المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Systèmes RF (XLIM-SRF), XLIM (XLIM), Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Limoges (UNILIM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CINTRA / SEEE Nanyang Technological University, Nanyang Technological University Singapour, CNRS International - NTU - Thales Research Alliance (CINTRA), THALES France -Nanyang Technological University Singapour -Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
المصدر: IEEE Sensors ; https://unilim.hal.science/hal-01302216 ; IEEE Sensors, 2015, Busan, South Korea
مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
جغرافية الموضوع: Busan, South Korea
Relation: hal-01302216; https://unilim.hal.science/hal-01302216