المؤلفون: Simon, Uicich, Bruno, Allard, Pascal, Bevilacqua, Pascal, Venet

المساهمون: Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Airbus France

المصدر: 2023 IEEE Workshop on Power Electronics for Aerospace Applications (PEASA)
https://hal.science/hal-04562801
2023 IEEE Workshop on Power Electronics for Aerospace Applications (PEASA), Jul 2023, Nottingham, France. pp.1-6, ⟨10.1109/PEASA58318.2023.10235576⟩

مصطلحات موضوعية: Super Capacitor, EDLC, Lifetime model, Ageing, Eyrings Law, Avionics, [SPI]Engineering Sciences [physics]

جغرافية الموضوع: Nottingham, France

Relation: hal-04562801; https://hal.science/hal-04562801; https://hal.science/hal-04562801/document; https://hal.science/hal-04562801/file/Study_of_EDLC__Ageing_for_Next_Gen_Avionics.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-04562801
https://hal.science/hal-04562801/document
https://hal.science/hal-04562801/file/Study_of_EDLC__Ageing_for_Next_Gen_Avionics.pdf
https://doi.org/10.1109/PEASA58318.2023.10235576

المؤلفون: Pangsui Usifu Linge, Tony Gerges, Pascal Bevilacqua, Jean-Marc Duchamp, Philippe Benech, Jacques Verdier, Philippe Lombard, Michel Cabrera, Pierre Tsafack, Fabien Mieyeville, Bruno Allard

المصدر: Journal of Low Power Electronics and Applications; Volume 13; Issue 2; Pages: 34

مصطلحات موضوعية: additive manufacturing, 3D printing, plastronics, polylactic acid polymer, radio frequency, rectenna, two transmission line method

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://dx.doi.org/10.3390/jlpea13020034

الاتاحة: https://doi.org/10.3390/jlpea13020034

المؤلفون: Xuan Viet Linh Nguyen, Tony Gerges, Pascal Bevilacqua, Jean-Marc Duchamp, Philippe Benech, Jacques Verdier, Philippe Lombard, Pangsui Usifu Linge, Fabien Mieyeville, Michel Cabrera, Bruno Allard

المصدر: Journal of Low Power Electronics and Applications; Volume 13; Issue 1; Pages: 19

مصطلحات موضوعية: energy harvesting, 3D Plastronics, radio frequency, array of antenna, stereolithography, electroless deposition

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://dx.doi.org/10.3390/jlpea13010019

الاتاحة: https://doi.org/10.3390/jlpea13010019

المؤلفون: Etienne Foray, Christian Martin, Bruno Allard, Pascal Bevilacqua

المصدر: IEEE Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics. 10:6929-6937

مصطلحات موضوعية: Energy Engineering and Power Technology, Electrical and Electronic Engineering

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::42e3fa245f1b5df44f25bd07fde2e075
https://doi.org/10.1109/jestpe.2022.3144281

المؤلفون: Etienne Foray, Christian Martin, Bruno Allard, Pascal Bevilacqua

المصدر: IEEE Transactions on Magnetics. 58:1-6

مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Electronic, Optical and Magnetic Materials

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::40c86ad4517004248680c6edeed3f591
https://doi.org/10.1109/tmag.2022.3166229

المؤلفون: Malorie, Hologne, Pascal, Bevilacqua, Bruno, Allard, Guy, Clerc, Hubert, Razik

المساهمون: Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), European Project: 636170,IMPECT

المصدر: IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society ; https://hal.science/hal-04705914 ; IECON 2018 - 44th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society, Oct 2018, Washington, France. pp.1531-1536, ⟨10.1109/IECON.2018.8592696⟩

مصطلحات موضوعية: Health monitoring Remaining Useful Lifetime ageing Power Active Cycling SiC MOSFET power module, Health monitoring, Remaining Useful Lifetime, ageing, Power Active Cycling, SiC MOSFET power module, [SPI]Engineering Sciences [physics]

جغرافية الموضوع: Washington, France

Time: Washington, France

Relation: info:eu-repo/grantAgreement//636170/EU/Integrated, Intelligent Modular Power Electronic Converter/IMPECT

الاتاحة: https://hal.science/hal-04705914
https://hal.science/hal-04705914v1/document
https://hal.science/hal-04705914v1/file/IECON_Hologne.pdf
https://doi.org/10.1109/IECON.2018.8592696

المؤلفون: Luong Viet Phung, Michel Mermet-Guyennet, Hervé Morel, Pascal Bevilacqua, Besar Asllani, Dominique Planson, Thomas Lagier, Beverley Choucoutou

المصدر: Materials Science Forum. 1004:923-932

مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Class (computer programming), Materials science, business.industry, Mechanical Engineering, 020208 electrical & electronic engineering, Transistor, 02 engineering and technology, Condensed Matter Physics, 01 natural sciences, 7. Clean energy, law.invention, chemistry.chemical_compound, chemistry, Mechanics of Materials, law, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Silicon carbide, Optoelectronics, General Materials Science, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8dafdd84b724977464172aea74f9c8d0
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.1004.923

المؤلفون: Dominique Planson, Camille Sonneville, Pascal Bevilacqua, Luong Viêt Phung, Besar Asllani, Dominique Tournier, Pierre Brosselard

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), CALY Technologies, Planson, Dominique

المصدر: European Conference on Silicon Carbide and Related Materials
European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Oct 2021, Tours, France

مصطلحات موضوعية: OBIC, Mechanics of Materials, Mechanical Engineering, high voltage device, 4H-SiC bipolar diode, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, electro-physical characterisation, General Materials Science, periphery protection, Condensed Matter Physics, [SPI.NRJ] Engineering Sciences [physics]/Electric power

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::abadf39341e0d6fc1707edc545bf3942
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03410274/file/micro_obic.pdf

المؤلفون: Quentin Avenas, Marie Frénéa-Robin, Michael Canva, Marion Costella, Pascal Bevilacqua, Paul G. Charette, Julien Marchalot

المساهمون: Ampère, Département Bioingénierie (BioIng), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Laboratoire Nanotechnologies et Nanosystèmes [Sherbrooke] (LN2), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique [Sherbrooke] (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS), INL - Dispositifs Electroniques (INL - DE), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE), Ampère, Département Energie Electrique (EE)

المصدر: Electrophoresis
Electrophoresis, Wiley-VCH Verlag, 2019, 40, pp.1417-1425. ⟨10.1002/elps.201800439⟩

مصطلحات موضوعية: Electrophoresis, Analyte, Materials science, Latex, [SDV]Life Sciences [q-bio], Clinical Biochemistry, Electro-osmosis, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Biochemistry, Analytical Chemistry, Diffusion, [SPI]Engineering Sciences [physics], Lab-On-A-Chip Devices, Electric field, Humans, Top‐bottom electrodes, Surface plasmon resonance, Electrodes, dielectrophoresis, business.industry, 010401 analytical chemistry, Equipment Design, Dielectrophoresis, 021001 nanoscience & nanotechnology, 0104 chemical sciences, HEK293 Cells, Electro‐osmosis, Electrode, Optoelectronics, biosensing instrumentation, Electrohydrodynamics, Electroosmosis, 0210 nano-technology, business, Biosensor, surface plasmon resonance

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::32ff53b7043458f99f748d64bb9872e1
https://doi.org/10.1002/elps.201800439

المؤلفون: Khalil El Falahi, Stanislas Hascoët, Cyril Buttay, Pascal Bevilacqua, Luong-viet Phung, Insa Lyon, Université Claude, Bernard Lyon

المساهمون: The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

المصدر: http://hal.inria.fr/docs/00/87/46/66/PDF/article.pdf.

مصطلحات موضوعية: SiC, SOI, Power module

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.406.4692; http://hal.inria.fr/docs/00/87/46/66/PDF/article.pdf

الاتاحة: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.406.4692
http://hal.inria.fr/docs/00/87/46/66/PDF/article.pdf

المؤلفون: Marie Laure Locatelli, Pascal Bevilacqua, Luong Viet Phung, Roxana Arvinte, Besar Asllani, Dominique Planson, Hassan Hamad, Christophe Raynaud

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Matériaux Diélectriques dans la Conversion d’Energie (LAPLACE-MDCE), LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Planson, Dominique

المصدر: International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017 (ICSCRM 2017)
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017 (ICSCRM 2017), Sep 2017, Washington, United States. pp.TH.DP.4
Materials Science Forum
Materials Science Forum, Trans Tech Publications Inc., 2018, Silicon Carbide and Related Materials 2017, 924, pp.577-580. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.924.577⟩

مصطلحات موضوعية: OBIC, 4H-SiC, Materials science, Optical beam-induced current, 02 engineering and technology, Electroluminescence, 01 natural sciences, high voltage device, Electric field, 0103 physical sciences, Breakdown voltage, General Materials Science, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Diode, 010302 applied physics, business.industry, Mechanical Engineering, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, TCAD simulation, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Overcurrent, Mechanics of Materials, Bipolar diode, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, [SPI.NRJ] Engineering Sciences [physics]/Electric power

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::36b81a28bfacea0cbc4e39f98a37e79c
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.924.577

المؤلفون: Dominique Bergogne, Asif Hammoud, Dominique Tournier, Cyril Buttay, Youness Amieh, Pascal Bevilacqua, Abderahime Zaoui, Hervé Morel, Bruno Allard

المساهمون: The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

المصدر: http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/60/59/PDF/Bergogne2009.pdf.

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.413.7626; http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/60/59/PDF/Bergogne2009.pdf

الاتاحة: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.413.7626
http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/44/60/59/PDF/Bergogne2009.pdf

المؤلفون: Dominique Bergogne, Hervé Morel, Dominique Planson, Dominique Tournier, Pascal Bevilacqua, Bruno Allard, Régis Meuret, Sébastien Vieillard, Stéphane Raël, Farid Meibodytabar

المساهمون: The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

المصدر: http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/46/76/59/PDF/paper8810updated.pdf.

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.400.9662; http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/46/76/59/PDF/paper8810updated.pdf

الاتاحة: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.400.9662
http://hal.archives-ouvertes.fr/docs/00/46/76/59/PDF/paper8810updated.pdf

المؤلفون: Jean-François Mogniotte, Stephane Azzopardi, Bruno Allard, Charles Joubert, Hervé Morel, Cyril Buttay, Thilini Wickramasinghe, Pascal Bevilacqua, Thanh-Long Le, Christian Martin

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Safran Tech

المصدر: The 7th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA 2019)
The 7th Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications (WiPDA 2019), Oct 2019, Raleigh, United States

مصطلحات موضوعية: Materials science, Spice, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, 02 engineering and technology, High-electron-mobility transistor, 01 natural sciences, parallel, 0103 physical sciences, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Parasitic extraction, 010302 applied physics, business.industry, GaN HEMT, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, 020208 electrical & electronic engineering, high frequency, Dissipation, Threshold voltage, CVR, Optoelectronics, Coaxial, business, Index Terms-current balancing, Shunt (electrical), Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::322935dd0071884437c977be9ffc7bd6
https://doi.org/10.1109/wipda46397.2019.8998816

المؤلفون: Luong-Viet Phung, Dominique Planson, Besar Asllani, Hassan Hamad, Christophe Raynaud, Pascal Bevilacqua

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)

المصدر: Materials Science in Semiconductor Processing
Materials Science in Semiconductor Processing, Elsevier, 2019, 94, pp.116-127. ⟨10.1016/j.mssp.2019.01.042⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Optical beam-induced current, Gallium nitride, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, chemistry.chemical_compound, 0103 physical sciences, Silicon carbide, General Materials Science, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 010302 applied physics, power devices, Silicon Carbide, business.industry, Mechanical Engineering, Wide-bandgap semiconductor, Schottky diode, High voltage, Semiconductor device, Carrier lifetime, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, optical device characterization, Gallium Nitride, chemistry, Mechanics of Materials, Optoelectronics, Diamond, 0210 nano-technology, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2325c3ad8e52515a2ea28df2910197da
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02053053/document

المؤلفون: Hervé Morel, Abderrahime Zaoui, Mustapha Jamma, Pascal Bevilacqua, Mohamed Barara, Guy Clerc

المساهمون: Informatique, Biologie Intégrative et Systèmes Complexes (IBISC), Université d'Évry-Val-d'Essonne (UEVE), Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Ampère, Département Méthodes pour l'Ingénierie des Systèmes (MIS), University of Mohammed V, Université Mohammed V de Rabat [Agdal] (UM5)

المصدر: Climate Change and Energy Dynamics in the Middle East-Modeling and Simulation-Based Solutions
Climate Change and Energy Dynamics in the Middle East-Modeling and Simulation-Based Solutions, pp.109-129, 2019, ⟨10.1007/978-3-030-11202-8_5⟩
Understanding Complex Systems ISBN: 9783030112011

مصطلحات موضوعية: business.industry, Computer science, 020209 energy, 020208 electrical & electronic engineering, Photovoltaic system, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, DSPACE, 02 engineering and technology, Modular design, Converters, Grid, 7. Clean energy, Renewable energy, [SPI.AUTO]Engineering Sciences [physics]/Automatic, [SPI]Engineering Sciences [physics], 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Redundancy (engineering), Electronic engineering, business, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Efficient energy use

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c3d15ab15a9f41c964169da5889dfd15
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02088323

المؤلفون: Dominique Tournier, Maxime Berthou, Jean Baptiste Fonder, Pascal Bevilacqua

المصدر: Materials Science Forum. 858:812-816

مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Mechanical Engineering, 020208 electrical & electronic engineering, Electrical engineering, Pulse duration, 02 engineering and technology, Condensed Matter Physics, Fault (power engineering), Term (time), Reliability (semiconductor), Mechanics of Materials, VMOS, Limit (music), MOSFET, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, 020201 artificial intelligence & image processing, General Materials Science, business, Short circuit

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a2282bb15b78305cedb7f5e3193f7174
https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/msf.858.812

المؤلفون: Dominique Planson, Jean Baptiste Fonder, Pascal Bevilacqua, Hervé Morel, Luong Viet Phung, Beverley Choucoutou, Besar Asllani

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), CALY Technologies, SuperGrid Institute SAS, SuperGrid Institute, Planson, Dominique

المصدر: Materials Science Forum
Materials Science Forum, Trans Tech Publications Inc., 2019, 963, pp.567-571. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.963.567⟩
Proceedings of the 2018 European Conference on Silicon Carbide and Related Materials
ECSCRM'18
ECSCRM'18, Sep 2018, Birmingham, United Kingdom. pp.WE.P.RD2

مصطلحات موضوعية: device robustness, Materials science, high current stress, device processing, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, law.invention, Stress (mechanics), law, high voltage device, 0103 physical sciences, Breakdown voltage, General Materials Science, High current, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Diode, 010302 applied physics, double-pulse test, business.industry, Mechanical Engineering, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, PIN diode, High voltage, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Mechanics of Materials, 4H-SiC bipolar diode, Optoelectronics, 0210 nano-technology, business, Degradation (telecommunications), [SPI.NRJ] Engineering Sciences [physics]/Electric power

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6ef85d3e12104b537454b37b4fc0575e
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02060334

المؤلفون: Camille Sonneville, Dominique Planson, Luong Viet Phung, Pascal Bevilacqua, Besar Asllani

المساهمون: Planson, Dominique, Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), SuperGrid Institute SAS

المصدر: International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) 2019
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) 2019, Sep 2019, Kyoto, Japan. pp.Mo-P-23
Materials Science Forum
Materials Science Forum, Trans Tech Publications Inc., 2020, 1004, pp.290. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.1004.290⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Optical beam-induced current, Field (physics), Silicon Carbide High Voltage Diodes, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, law.invention, Depletion region, law, Electric field, 0103 physical sciences, General Materials Science, Image resolution, 010302 applied physics, Wide Band Gap semi- conductor, TCAD, business.industry, Mechanical Engineering, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, PIN diode, High voltage, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, Semiconductor, Mechanics of Materials, Optoelectronics, OBIC characterization, 0210 nano-technology, business, [SPI.NRJ] Engineering Sciences [physics]/Electric power

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::03e4fd9373c97d24e187c111d846c888
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02428502

المؤلفون: Jean Baptiste Fonder, Dominique Planson, Luong Viet Phung, Pierre Brosselard, Besar Asllani, Pascal Bevilacqua

المساهمون: Ampère, Département Energie Electrique (EE), Ampère (AMPERE), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE), CALY Technologies, Planson, Dominique, Ampère, Département Energie Electrique ( EE ), Ampère, École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 ( UCBL ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon ( INSA Lyon ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS )

المصدر: Materials Science Forum
Materials Science Forum, Trans Tech Publications Inc., 2018, 924, pp.593-596. ⟨10.4028/www.scientific.net/MSF.924.593⟩
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017 (ICSCRM 2017)
International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2017 (ICSCRM 2017), Sep 2017, Washington DC, United States
The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2017)
The International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM 2017), Sep 2017, Washington D.C., United States

مصطلحات موضوعية: Materials science, 4H-SiC, Schottky barrier, 02 engineering and technology, Barrier heigh evolution, 01 natural sciences, 0103 physical sciences, JBS, General Materials Science, Surge, Surge Cycling, Diode, 010302 applied physics, business.industry, Mechanical Engineering, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Mechanics of Materials, Optoelectronics, Contact annealing, [ SPI.NANO ] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, 0210 nano-technology, business, [SPI.NRJ] Engineering Sciences [physics]/Electric power

وصف الملف: application/pdf

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