يعرض 1 - 20 نتائج من 133 نتيجة بحث عن '"PZT thin films"', وقت الاستعلام: 0.54s تنقيح النتائج
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    المصدر: Yao , Y , Naden , A B , Zhang , F , Edwards , D , Joshi , P , Rodriguez , B J , Kumar , A & Bassiri-Gharb , N 2020 , ' Direct processing of PbZr 0.53 Ti 0.47 O 3 films on glass and polymeric substrates ' , Journal of the European Ceramic Society , vol. 40 , no. 15 , pp. 5369-5375 . https://doi.org/10.1016/j.jeurceramsoc.2020.07.052

    وصف الملف: application/pdf

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    المساهمون: Laboratoire de Génie Electrique et Ferroélectricité (LGEF), Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux (LITEN), Institut National de L'Energie Solaire (INES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

    المصدر: ISSN: 1424-8220 ; Sensors ; https://hal.science/hal-02113785 ; Sensors, 2018, 18 (6), pp.1859. ⟨10.3390/s18061859⟩.

    Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/pmid/29882829; PUBMED: 29882829

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    المساهمون: Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de Recherche en Génie Civil et Mécanique (GeM), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-École Centrale de Nantes (ECN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), 2014 07965, Région Pays de la Loire

    المصدر: ISSN: 2194-4296.

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    المؤلفون: Lima, E. C., Araujo, E. B.

    المساهمون: Universidade Estadual Paulista (UNESP)

    مصطلحات موضوعية: phase transformation, PZT thin films, residual stress

    وصف الملف: 28-35

    Relation: Ferroelectrics; 0,260; http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2016.1171651; Ferroelectrics, v. 499, n. 1, p. 28-35, 2016.; http://hdl.handle.net/11449/173091; 2-s2.0-84975105760; 2-s2.0-84975105760.pdf

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    Conference

    المساهمون: Universidade Estadual Paulista (UNESP)

    Relation: Proceedings of 2012 21st IEEE Int. Symp. on Applications of Ferroelectrics held jointly with 11th IEEE European Conference on the Applications of Polar Dielectrics and IEEE PFM, ISAF/ECAPD/PFM 2012; http://dx.doi.org/10.1109/ISAF.2012.6297844; Proceedings of 2012 21st IEEE Int. Symp. on Applications of Ferroelectrics held jointly with 11th IEEE European Conference on the Applications of Polar Dielectrics and IEEE PFM, ISAF/ECAPD/PFM 2012.; http://hdl.handle.net/11449/73689; WOS:000313016400125; 2-s2.0-84867907929; 6725982228402054

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    المساهمون: Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), aixACCT Systems GmbH, Centre de Recherche Public Gabriel Lippmann, Dept. Sci. & Anal. Mat

    المصدر: ISSN: 1098-0121 ; EISSN: 1550-235X.

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    Academic Journal

    المؤلفون: Lima, E. C., Araujo, E. B., Eiras, J. A.

    المساهمون: Universidade Estadual Paulista (UNESP)

    وصف الملف: 87-95

    Relation: Ferroelectrics; http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2020.1713346; Ferroelectrics, v. 556, n. 1, p. 87-95, 2020.; http://hdl.handle.net/11449/200303; 2-s2.0-85083481788

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