-
1
المؤلفون: Martins, Alexandre Daniel Batista
المساهمون: Cardoso, António João Marques, Farinha, José Manuel Torres, uBibliorum
مصطلحات موضوعية: Metrologia, HMM - Hidden Markov Models, OLM - Online Calibration Monitoring, Manutenção, Sensores, Machine Learning, Metrology, Domínio/Área Científica::Engenharia e Tecnologia::Engenharia e Gestão Indústrial
وصف الملف: application/pdf
الاتاحة: http://hdl.handle.net/10400.6/14110