المؤلفون: Germanicus, Rosine, Coq, Phulpin, Tanguy, Niskanen, Kimmo, Michez, Alain, Lüders, Ulrike

المساهمون: Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Normandie Université (NU), CentraleSupélec, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), Université Paris-Sud - Paris 11 (UP11)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Jyväskylä (JYU), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Carno SiC-Ageing

المصدر: ISSN: 1012-0394.

مصطلحات موضوعية: AFM, sMIM, SiC-Mosfet, power MOSFET, silicon carbide (SiC), bipolar degradation, [PHYS]Physics [physics]

الاتاحة: https://hal.science/hal-04682254
https://hal.science/hal-04682254v1/document
https://hal.science/hal-04682254v1/file/2024-ICSCRM-SSP.361.85.pdf
https://doi.org/10.4028/p-hupmo0

المؤلفون: Germanicus, Rosine Coq, Phulpin, Tanguy, Niskanen, Kimmo, Michez, Alain, Lüders, Ulrike

مصطلحات موضوعية: power MOSFET, silicon carbide (SiC), bipolar degradation, AFM, sMIM

وصف الملف: application/pdf; 85-91; fulltext

Relation: Solid State Phenomena; 361; CONVID_233595274

الاتاحة: http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-202408285672

المؤلفون: Niskanen, Kimmo

Relation: https://zenodo.org/communities/radnext; https://zenodo.org/communities/eu; https://doi.org/10.5281/zenodo.11278263; https://doi.org/10.5281/zenodo.11278264; oai:zenodo.org:11278264

الاتاحة: https://doi.org/10.5281/zenodo.11278264

المؤلفون: Niskanen, Kimmo

Relation: https://zenodo.org/communities/radnext; https://zenodo.org/communities/eu; https://doi.org/10.5281/zenodo.13909075; https://doi.org/10.5281/zenodo.13909076; oai:zenodo.org:13909076

الاتاحة: https://doi.org/10.5281/zenodo.13909076

المؤلفون: Germanicus, Rosine Coq, Phulpin, Tanguy, Rogaume, Thomas, Niskanen, Kimmo, Froissart, Sandrine, Latry, O., Michez, Alain, Lüders, Ulrike

المساهمون: Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut Pprime UPR 3346 (PPrime Poitiers ), Université de Poitiers = University of Poitiers (UP)-École Nationale Supérieure de Mécanique et d’Aérotechnique Poitiers (ISAE-ENSMA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Jyväskylä (JYU), École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU), Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), CARNOT ESP Institute, CRISMAT-UMR6508 Laboratory

المصدر: ISTFA 2023: Proceedings of the 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis Conference ; ISTFA 2023 - the 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis Conference ; https://hal.science/hal-04285320 ; ISTFA 2023 - the 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis Conference, Nov 2023, Phoenix, United States. pp.483-490, ⟨10.31399/asm.cp.istfa2023p0483⟩ ; https://www.asminternational.org/istfa-2023/

مصطلحات موضوعية: [PHYS]Physics [physics], [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

جغرافية الموضوع: Phoenix, United States

الاتاحة: https://hal.science/hal-04285320
https://hal.science/hal-04285320v1/document
https://hal.science/hal-04285320v1/file/istfa2023p0483.pdf
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2023p0483

المؤلفون: Germanicus, Rosine Coq, Phulpin, Tanguy, Niskanen, Kimmo, Michez, Alain, Luders, U.

المساهمون: Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CentraleSupélec, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Accelerator Laboratory (JYFL-ACCLAB), Department of Physics Jyväskylä Univ (JYU), University of Jyväskylä (JYU)-University of Jyväskylä (JYU), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC)

المصدر: ICSCRM 2023 - the International Conference on Silicon Carbide and Related Material ; https://hal.science/hal-04313957 ; ICSCRM 2023 - the International Conference on Silicon Carbide and Related Material, Sep 2023, Sorrente, Italy ; https://icscrm-2023.org/welcome/

مصطلحات موضوعية: power MOSFET, silicon carbide (SiC), bipolar degradation, AFM, sMIM, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

جغرافية الموضوع: Sorrente, Italy

Relation: hal-04313957; https://hal.science/hal-04313957; https://hal.science/hal-04313957/document; https://hal.science/hal-04313957/file/ICSCRM2023-RCG-V4.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-04313957
https://hal.science/hal-04313957/document
https://hal.science/hal-04313957/file/ICSCRM2023-RCG-V4.pdf

المؤلفون: Söderström, Daniel, Luza, Lucas Matana, de Mattos, André Martins Pio, Gil, Thierry, Kettunen, Heikki, Niskanen, Kimmo, Javanainen, Arto, Dilillo, Luigi

المساهمون: Department of Physics Jyväskylä Univ (JYU), University of Jyväskylä (JYU), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (LIRMM, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC)

المصدر: ISSN: 0018-9499.

مصطلحات موضوعية: Proton Irradiation, Radiation Effects, Retention Time, SDRAM, Single Event Effects, Stuck bits, Technology Nodes, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

الاتاحة: https://hal.science/hal-04192915
https://hal.science/hal-04192915v1/document
https://hal.science/hal-04192915v1/file/2023___TNS___Technology_Dependence_of_Stuck_Bits_and_Single_Event_Upsets_in_110__72__and_63_nm_SDRAMs___HAL_Version.pdf
https://doi.org/10.1109/TNS.2023.3295435

المؤلفون: Niskanen, Kimmo, Kettunen, Heikki, Söderström, Daniel, Rossi, Mikko, Jaatinen, Jukka, Javanainen, Arto

مصطلحات موضوعية: logic gates, radiation effects, protons, silicon carbide, reliability, stress, elektroniikkakomponentit, ionisoiva säteily, säteilyfysiikka, transistorit, protonit

وصف الملف: application/pdf; 1838-1843; fulltext

Relation: IEEE Transactions on Nuclear Science; 70; CONVID_176845642

الاتاحة: http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-202302091694

المؤلفون: Niskanen, Kimmo, Kettunen, Heikki, Lahti, Mikko, Rossi, Mikko, Jaatinen, Jukka, Söderström, Daniel, Javanainen, Arto

مصطلحات موضوعية: logic gates, silicon carbide, stress, electric breakdown, radiation effects, MOSFET, degradation, transistorit, elektronit, elektroniikkakomponentit, säteilyfysiikka, ionisoiva säteily

وصف الملف: application/pdf; 456-461; fulltext

Relation: IEEE Transactions on Nuclear Science; 70; CONVID_176805188

الاتاحة: http://urn.fi/URN:NBN:fi:jyu-202302081679

المؤلفون: Söderström, Daniel, Matana Luza, Lucas, Martins Pio de Mattos, André, Gil, Thierry, Kettunen, Heikki, Niskanen, Kimmo, Javanainen, Arto, Dilillo, Luigi

المساهمون: University of Jyväskylä (JYU), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (LIRMM, Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Vanderbilt University Nashville

المصدر: RADECS 2022 - RADiation and its Effects on Components and Systems ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03834026 ; RADECS 2022 - RADiation and its Effects on Components and Systems, Oct 2022, Venice, Italy. , 2022 ; https://www.radecs2022.org/

مصطلحات موضوعية: Proton Irradiation, Radiation Effects, SDRAM, Single Event Effects, Stuck Bits, Technology Nodes, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems, [SPI]Engineering Sciences [physics]

جغرافية الموضوع: Venice, Italy

Time: Venice, Italy

الاتاحة: https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03834026
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03834026v1/document
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03834026v1/file/2022___RADECS___Technology_Dependence_of_Stuck_Bits_and_Single_Event_Upsets_in_110__72__and_63_nm_SDRAMs___HAL_Version.pdf

المؤلفون: Coq Germanicus, Rosine, Niskanen, Kimmo, Michez, Alain, Moultif, Niemat, Jouha, Wadia, Latry, O., Boch, Jérôme, Lüders, Ulrike, Touboul, Antoine

المساهمون: Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Radiations et composants (RADIAC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Fiabilité et Systèmes en Environnements Contraints (FSEC), Groupe de physique des matériaux (GPM), Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0255-5476.

مصطلحات موضوعية: Power MOSFET, Silicon carbide (SiC), Neutrons, Single event burnout (SEB), Failure analysis, [PHYS.NEXP]Physics [physics]/Nuclear Experiment [nucl-ex]

الاتاحة: https://hal.science/hal-03702520
https://hal.science/hal-03702520v1/document
https://hal.science/hal-03702520v1/file/MSF.1062.544.pdf
https://doi.org/10.4028/p-973n9u

المؤلفون: Martinella, Corinna, Natzke, Philipp, Alía, Rubén G., Kadi, Yacine, Niskanen, Kimmo, Rossi, Mikko, Jaatinen, Jukka, Kettunen, Heikki, Tsibizov, Alexander, Grossner, Ulrike, id_orcid:0 000-0002-2495-8550, Javanainen, Arto

المصدر: Microelectronics Reliability, 128

مصطلحات موضوعية: SiC MOSFETs, Heavy-ion, Latent damage, SEEs

وصف الملف: application/application/pdf

Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/000722165500006; http://hdl.handle.net/20.500.11850/517286

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.11850/517286
https://doi.org/10.3929/ethz-b-000517286

المؤلفون: Coq Germanicus, Rosine, Chaudhary, Mahima, Niskanen, Kimmo, Larose, Xavier, Chazal, Vanessa, Bascoul, Guillaume

المساهمون: Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de Physique et d'Etude des Matériaux (UMR 8213) (LPEM), Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris), Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Université Paris Sciences et Lettres (PSL)-Sorbonne Université (SU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Department of Physics Jyväskylä Univ (JYU), University of Jyväskylä (JYU), Thales SIX GTS France, Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), SiC-Ageing CARNOT ESP

المصدر: 2024 IEEE 11th Workshop on Wide Bandgap Power Devices & Applications (WiPDA)
https://hal.science/hal-04838098
2024 IEEE 11th Workshop on Wide Bandgap Power Devices & Applications (WiPDA), 2024, pp.1-6. ⟨10.1109/wipda62103.2024.10773106⟩

مصطلحات موضوعية: [PHYS]Physics [physics]

الاتاحة: https://hal.science/hal-04838098
https://doi.org/10.1109/wipda62103.2024.10773106

المؤلفون: Coronetti, Andrea, Alia, Ruben Garcia, Budroweit, Jan, Rajkowski, Tomasz, Costa Lopes, Israel Da, Niskanen, Kimmo, Soderstrom, Daniel, Cazzaniga, Carlo, Ferraro, Rudy, Danzeca, Salvatore, Mekki, Julien, Manni, Florent, Dangla, David, Virmontois, Cedric, Kerboub, Nourdine, Koelpin, Alexander, Saigné, Frédéric, Wang, Pierre, Pouget, Vincent, Touboul, Antoine, Javanainen, Arto, Kettunen, Heikki, Germanicus, Rosine Coq

المساهمون: European Organization for Nuclear Research (CERN), CERN Genève, German Aerospace Center (DLR), 3D Plus, Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), University of Jyväskylä (JYU), Science and Technology Facilities Council (STFC), Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES), Hamburg University of Technology (TUHH), Vanderbilt University Nashville, Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux (CRISMAT), Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche sur les Matériaux Avancés (IRMA), Normandie Université (NU)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Normandie Université (NU)-Institut national des sciences appliquées Rouen Normandie (INSA Rouen Normandie), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université de Rouen Normandie (UNIROUEN), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Normandie Université (NU)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0018-9499.

مصطلحات موضوعية: System verification, Space missions, Radiation effects, Performance evaluation, Total ionizing dose, Protons, Neutrons, Radiation hardening (electronics), Commercial off-the-shelf (COTS), Facilities, Radiation hardness assurance, Risk acceptance, Single-event effect (SEE), Small satelllites, System-level testing, Test methodology, Total ionizing dose (TID), [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [PHYS.PHYS.PHYS-SPACE-PH]Physics [physics]/Physics [physics]/Space Physics [physics.space-ph]

الاتاحة: https://hal.science/hal-03341566
https://hal.science/hal-03341566v1/document
https://hal.science/hal-03341566v1/file/Radiation_Hardness_Assurance_Through_System-Level_Testing_Risk_Acceptance_Facility_Requirements_Test_Methodology_and_Data_Exploitation.pdf
https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3061197

المؤلفون: Niskanen, Kimmo

المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Montpellier, Antoine Touboul, Rosine Coq Germanicus

المصدر: Electronics. Université Montpellier, 2020. English. ⟨NNT : 2020MONTS125⟩

مصطلحات موضوعية: Radiation, Défaillance, Seb, Radiations, Failure, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::80430eddaeec534e7c599257380f2cb3
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-03391631

المؤلفون: Niskanen, Kimmo

المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Montpellier, Antoine Touboul, Rosine Coq Germanicus

المصدر: https://theses.hal.science/tel-03391631 ; Electronics. Université Montpellier, 2020. English. ⟨NNT : 2020MONTS125⟩.

مصطلحات موضوعية: Radiation, Seb, Failure, Radiations, Défaillance, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

Relation: NNT: 2020MONTS125; tel-03391631; https://theses.hal.science/tel-03391631; https://theses.hal.science/tel-03391631/document; https://theses.hal.science/tel-03391631/file/NISKANEN_2020_archivage.pdf

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-03391631
https://theses.hal.science/tel-03391631/document
https://theses.hal.science/tel-03391631/file/NISKANEN_2020_archivage.pdf

المؤلفون: Niskanen, Kimmo, Touboul, Antoine, Germanicus, Rosine Coq, Wrobel, Frédéric, Saigné, F., Boch, Jérôme, Michez, Alain, Pouget, Vincent

المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: IEEE RADECS2018 ; https://hal.science/hal-02086450 ; IEEE RADECS2018, Sep 2018, Goteborg, Sweden

مصطلحات موضوعية: [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Goteborg, Sweden

الاتاحة: https://hal.science/hal-02086450

المؤلفون: Rajkowski, Tomasz, Saigné, Frédéric, Niskanen, Kimmo, Boch, Jérôme, Maraine, Tadec, Kohler, Pierre, Dubus, Patrick, Touboul, Antoine, Wang, Pierre-Xiao

المصدر: Electronics (2079-9292); Jun2021, Vol. 10 Issue 11, p1235, 1p

مصطلحات موضوعية: TEST systems, FAILURE analysis

المؤلفون: Eva Fialová

المساهمون: Lucsányi Dávid, Niskanen Kimmo

مصطلحات موضوعية: G4SEE, Monte Carlo Simulace, Single Event Efekty, Lineární přenos energie, Deponovaná energie, Monte Carlo Simulations, Single Event Effects, Linear Energy Transfer, Energy Deposition

Relation: KOS-1241055430405; http://hdl.handle.net/10467/114543

الاتاحة: http://hdl.handle.net/10467/114543