المؤلفون: Ghizzo, L., Guibaud, G., de Nardi, C., Jamin, F., Chazal, V., Trémouilles, D., Monflier, R., Richardeau, Frédéric, Bascoul, G., González, M., Trémouilles, David, Monflier, Richard

المساهمون: Thales SIX GTS France, Convertisseurs Statiques (LAPLACE-CS), LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT), Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), THALES COMMUNICATIONS & SECURITY, THALES France, Service Techniques et Équipements Appliqués à la Microélectronique (LAAS-TEAM), Centre National d'Études Spatiales Toulouse (CNES), Service Instrumentation Conception Caractérisation (LAAS-I2C)

المصدر: International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA) - 2023 ; 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2023) ; https://hal.science/hal-04307540 ; 49th International Symposium for Testing and Failure Analysis ISTFA 2023), Nov 2023, Phoenix, United States. pp.491-499, ⟨10.31399/asm.cp.istfa2023p0491⟩ ; https://www.asminternational.org/istfa-2023/

مصطلحات موضوعية: HEMT p-GaN, fault localization, defect physical analysis, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

جغرافية الموضوع: Phoenix, United States

Relation: hal-04307540; https://hal.science/hal-04307540; https://hal.science/hal-04307540/document; https://hal.science/hal-04307540/file/Full_paper_ISTFA23_FV4-HAL.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-04307540
https://hal.science/hal-04307540/document
https://hal.science/hal-04307540/file/Full_paper_ISTFA23_FV4-HAL.pdf
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2023p0491

المؤلفون: Julliard, P.L., Johnsson, A., Zographos, N., Demoulin, R., Monflier, R., Jay, A., Er-Riyahi, O., Monsieur, F., Joblot, S., Deprat, F., Rideau, D., Pichler, P., Hémeryck, A., Cristiano, F.

المساهمون: Horizon 2020

المصدر: Solid-State Electronics ; volume 200, page 108521 ; ISSN 0038-1101

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2022.108521
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0038110122002921?httpAccept=text/xml
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0038110122002921?httpAccept=text/plain

المؤلفون: Bedel Pereira, E., Bassaler, J., Laval, H., Holec, J., Monflier, R., Mesnilgrente, F., Salvagnac, L., Daran, E., Duployer, B., Tenailleau, C., Gourdon, A., Jancarik, A., Séguy, I.

المصدر: RSC Advances ; volume 12, issue 2, page 671-680 ; ISSN 2046-2069

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1039/d1ra07808a
http://pubs.rsc.org/en/content/articlepdf/2022/RA/D1RA07808A

المؤلفون: Chery, N., Zhang, M., Monflier, R., Mallet, N., Seine, G., Paillard, V., Poumirol, J. M., Larrieu, G., Royet, A. S., Kerdilès, S., Acosta-Alba, P., Perego, M., Bonafos, C., Cristiano, F.

المساهمون: Agence Nationale de la Recherche, European Union's Horizon 2020 research and innovation

المصدر: Journal of Applied Physics ; volume 131, issue 6 ; ISSN 0021-8979 1089-7550

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1063/5.0073827
https://pubs.aip.org/aip/jap/article-pdf/doi/10.1063/5.0073827/16505291/065301_1_online.pdf

المؤلفون: Monflier, R., Tabata, T., Rizk, H., Roul, J., Huet, K., Mazzamuto, F., Acosta Alba, P., Kerdilès, S., Boninelli, S., La Magna, A., Scheid, E., Cristiano, F., Bedel-Pereira, E.

المصدر: Applied Surface Science ; volume 546, page 149071 ; ISSN 0169-4332

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2021.149071
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0169433221001471?httpAccept=text/xml
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0169433221001471?httpAccept=text/plain

المؤلفون: Levillayer, M., Duzellier, S., Massiot, I., Arnoult, A., Nuns, T., Inguimbert, C., Aicardi, C., Parola, S., Olivie, F., Monflier, R., Le Cocq, T., Rey, R., Pons, C., Almuneau, G., Artola, L.

المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science; Aug2021, Vol. 68 Issue 8, p1694-1700, 7p

مصطلحات موضوعية: ELECTRONS, PHOTOVOLTAIC power systems, PHOTOVOLTAIC cells, NITRIDES, QUANTUM efficiency

المؤلفون: Monflier, R.^1,2, Thene, M.^1,2, Salvagnac, L.^1,2, Franc, B.^1,2, Bedel Pereira, E.^1,2, Bobo, J. F.^3,4, Seguy, I.^1,2

المصدر: IEEE Transactions on Magnetics. Feb2019, Vol. 55 Issue 2, p1-4. 4p.

مصطلحات موضوعية: DIAMINES, POLARONS, ORGANIC light emitting diodes, X-rays, EXCITON theory

المؤلفون: Monflier, R., Tabata, T., Cristiano, F., Toque-Tresonne, I., Mazzamuto, F., Roul, J., Hungria-Hernandez, M.-T., Routaboul, C., Bedel-Pereira, E.

المصدر: 2016 IEEE Nanotechnology Materials & Devices Conference (NMDC); 2016, p1-2, 2p