المؤلفون: 石塚, 慧介

مصطلحات موضوعية: nano-contact, nano-mechanics, in-situ TEM, frequency modulation AFM, length extension resonator

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R100000039-I11512316

Degree: 博士(マテリアルサイエンス) -- 北陸先端科学技術大学院大学

المؤلفون: Akinori KOGURE, Hideo NAKAJIMA, Shiho MORIGUCHI, 中島 秀郎, 小暮 亮雅, 森口 志穂

المصدر: 表面技術 / Journal of The Surface Finishing Society of Japan. 2021, 72(3):150

المؤلفون: Santos Hernández, Sergio

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació, Atomic force microscopy, DNA, Sample interaction regimes, Modulation AFM, Mode, Spectroscopy, Resolution, Surface, Energy, Microscòpia de força atòmica, ADN

Relation: http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/103/23/10.1063/1.4840075; Santos, S. Enhanced sensitivity and contrast with bimodal atomic force microscopy with small and ultra-small amplitudes in ambient conditions. "Applied physics letters", 02 Desembre 2013, vol. 103, núm. 23, p. 231603-1-231603-5.; http://hdl.handle.net/2117/21802

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/21802
https://doi.org/10.1063/1.4840075

المؤلفون: Schwartz, Gustavo Ariel, Riedel, Clément, Arinero, Richard, Tordjeman, Philippe, Alegría, Angel, Colmenero, Juan

المساهمون: Centro de Fisica de Materiales (CFM), Consejo Superior de Investigaciones Cientificas España = Spanish National Research Council Spain (CSIC)-Universidad del País Vasco Espainia / Euskal Herriko Unibertsitatea España = University of the Basque Country Spain = Université du pays basque Espagne (UPV / EHU), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge (NANOMIR), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de mécanique des fluides de Toulouse (IMFT), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Universidad del País Vasco Espainia / Euskal Herriko Unibertsitatea España = University of the Basque Country Spain = Université du pays basque Espagne (UPV / EHU), Donostia International Physics Center - DIPC (SPAIN), Donostia International Physics Center (DIPC), Universidad del País Vasco Espainia / Euskal Herriko Unibertsitatea España = University of the Basque Country Spain = Université du pays basque Espagne (UPV / EHU)-Universidad del País Vasco Espainia / Euskal Herriko Unibertsitatea España = University of the Basque Country Spain = Université du pays basque Espagne (UPV / EHU)

المصدر: ISSN: 0304-3991 ; Ultramicroscopy ; https://hal.science/hal-00933984 ; Ultramicroscopy, 2011, vol. 111, pp. 1366-1369. ⟨10.1016/j.ultramic.2011.05.001⟩.

مصطلحات موضوعية: Nanodieklectrique, Amplitude modulation AFM, Dielectric spectroscopy, Polymers, Thin films, Heterogeneous materials, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials

Relation: OATAO: 10269

الاتاحة: https://hal.science/hal-00933984
https://hal.science/hal-00933984v1/document
https://hal.science/hal-00933984v1/file/Schwartz_10269.pdf
https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2011.05.001

المؤلفون: Hirofumi Yamada

المصدر: Nonlinear Theory and Its Applications, IEICE. 2017, 8(2):80

المؤلفون: Hirofumi YAMADA, 山田 啓文

المصدر: 表面科学 / Hyomen Kagaku. 2016, 37(10):475

المؤلفون: Akihito Imanishi, Ken-ichi Fukui, Noriki Osaka, Yasuyuki Yokota, 今西 哲士, 大坂 法紀, 横田 泰之, 福井 賢一

المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2015, :1488

المؤلفون: Masahiro Ohta, Ryohei Kokawa, 大田 昌弘, 粉川 良平

المصدر: 顕微鏡 / KENBIKYO. 2012, 47(1):22

المؤلفون: Sicard, Delphine

Thesis Advisors: Ecully, Ecole centrale de Lyon, Phaner-Goutorbe, Magali

مصطلحات موضوعية: Microscopie à force atomique, Modulation en amplitude, Lectine PA-IL, Pseudomonas aeruginosa, Glycocluster, Complexe lectine-sucre, Arrangement moléculaire, Intéraction lectine-lectine, Atomic force microscopy, Amplitude modulation - AFM, Lectin PA-IL, Lectin/glycocluster, Molecular arrangement, Lectin/lectin interaction

الاتاحة: http://www.theses.fr/2012ECDL0049/document

المؤلفون: Sicard , Delphine

المساهمون: INL - Chimie et Nanobiotechnologies ( INL - C&N ), Institut des Nanotechnologies de Lyon ( INL ), École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 ( UCBL ), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon ( CPE ) -Institut National des Sciences Appliquées de Lyon ( INSA Lyon ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ) -École Centrale de Lyon ( ECL ), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Institut National des Sciences Appliquées ( INSA ) -Centre National de la Recherche Scientifique ( CNRS ), Ecole Centrale de Lyon, Magali Phaner-Goutorbe, INL - Chimie et Nanobiotechnologies (INL - C&N), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Autre. Ecole Centrale de Lyon, 2012. Français. 〈NNT : 2012ECDL0049〉
Autre. Ecole Centrale de Lyon, 2012. Français. ⟨NNT : 2012ECDL0049⟩

مصطلحات موضوعية: [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other, [ SPI.OTHER ] Engineering Sciences [physics]/Other, Modulation en amplitude, Amplitude modulation - AFM, Lectin PA-IL, Lectin/lectin interaction, Atomic force microscopy, Molecular arrangement, Complexe lectine-sucre, Microscopie à force atomique, Lectin/glycocluster, Pseudomonas aeruginosa, Lectine PA-IL, Intéraction lectine-lectine, Arrangement moléculaire, Glycocluster

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::5f57113ad686e5e94cc4951f497baf83
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-00904559/document

المؤلفون: Philippe Tordjeman, Richard Arinero, Juan Colmenero, Gustavo Ariel Schwartz, Angel Alegría, Clément Riedel

المساهمون: Centro de Fisica de Materiales (CFM), Consejo Superior de Investigaciones Científicas [Madrid] (CSIC)-Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea [Espagne] (UPV/EHU), Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Composants à Nanostructure pour le moyen infrarouge (NANOMIR), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut de mécanique des fluides de Toulouse (IMFT), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Universidad del Pais Vasco / Euskal Herriko Unibertsitatea [Espagne] (UPV/EHU), Donostia International Physics Center - DIPC (SPAIN), Donostia International Physics Center (DIPC), University of the Basque Country/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU)-University of the Basque Country/Euskal Herriko Unibertsitatea (UPV/EHU), Centre National de la Recherche Scientifique - CNRS (FRANCE), Institut National Polytechnique de Toulouse - INPT (FRANCE), Université Toulouse III - Paul Sabatier - UT3 (FRANCE), Universidad del País Vasco - Euskal Herriko Unibertsitatea - EHU (SPAIN), Université de Montpellier 2 (FRANCE), Institut d'Electronique du Sud - IES (Montpellier, France), Institut National Polytechnique de Toulouse - Toulouse INP (FRANCE)

المصدر: Ultramicroscopy
Ultramicroscopy, Elsevier, 2011, vol. 111, pp. 1366-1369. ⟨10.1016/j.ultramic.2011.05.001⟩
Digital.CSIC. Repositorio Institucional del CSIC
instname

مصطلحات موضوعية: Dielectric spectroscopy, Materials science, Polymers, Matériaux, Electrostatic force microscope, Heterogeneous materials, Thin films, Photodetector, 02 engineering and technology, 010402 general chemistry, 01 natural sciences, Signal, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, Amplitude modulation, Optics, Spectroscopy, Instrumentation, business.industry, Amplifier, 021001 nanoscience & nanotechnology, Atomic and Molecular Physics, and Optics, 0104 chemical sciences, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Nanodieklectrique, Harmonic, 0210 nano-technology, business, Amplitude modulation AFM

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::9867082a9b426c6ea2daab9942dd025c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00933984

المؤلفون: Sicard, Delphine

المساهمون: INL - Chimie et Nanobiotechnologies (INL - C&N), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Centrale de Lyon, Magali Phaner-Goutorbe

المصدر: https://theses.hal.science/tel-00904559 ; Autre. Ecole Centrale de Lyon, 2012. Français. ⟨NNT : 2012ECDL0049⟩.

مصطلحات موضوعية: Atomic force microscopy, Amplitude modulation - AFM, Lectin PA-IL, Pseudomonas aeruginosa, Glycocluster, Lectin/glycocluster, Molecular arrangement, Lectin/lectin interaction, Microscopie à force atomique, Modulation en amplitude, Lectine PA-IL, Complexe lectine-sucre, Arrangement moléculaire, Intéraction lectine-lectine, [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other

Relation: NNT: 2012ECDL0049; tel-00904559; https://theses.hal.science/tel-00904559; https://theses.hal.science/tel-00904559/document; https://theses.hal.science/tel-00904559/file/TH_T2321_dsicard.pdf

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-00904559
https://theses.hal.science/tel-00904559/document
https://theses.hal.science/tel-00904559/file/TH_T2321_dsicard.pdf

المؤلفون: Sicard, Delphine

المساهمون: Ecully, Ecole centrale de Lyon, Phaner-Goutorbe, Magali

مصطلحات موضوعية: Microscopie à force atomique, Modulation en amplitude, Lectine PA-IL, Pseudomonas aeruginosa, Glycocluster, Complexe lectine-sucre, Arrangement moléculaire, Intéraction lectine-lectine, Atomic force microscopy, Amplitude modulation - AFM, Lectin PA-IL, Lectin/glycocluster, Molecular arrangement, Lectin/lectin interaction

Relation: http://www.theses.fr/2012ECDL0049/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2012ECDL0049/document

المؤلفون: 石塚, 慧介

مصطلحات موضوعية: nano-contact, nano-mechanics, in-situ TEM, frequency modulation AFM, length extension resonator

المؤلفون: 石塚, 慧介

المساهمون: いしづか, けいすけ

مصطلحات موضوعية: nano-contact, nano-mechanics, in-situ TEM, frequency modulation AFM, length extension resonator

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://hdl.handle.net/10119/16662

الاتاحة: http://hdl.handle.net/10119/16662

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Disseny i Programació de Sistemes Electrònics, Santos Hernández, Sergio

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació, Atomic force microscopy, DNA, Sample interaction regimes, Modulation AFM, Mode, Spectroscopy, Resolution, Surface, Energy, Microscòpia de força atòmica, ADN, Article

URL: http://hdl.handle.net/2117/21802
http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/103/23/10.1063/1.4840075
http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/103/23/10.1063/1.4840075

المؤلفون: Schwartz, Gustavo A., Riedel, C., Arinero, R., Tordjeman, Ph., Alegría, Ángel, Colmenero de León, Juan

مصطلحات الفهرس: Amplitude modulation AFM, Dielectric spectroscopy, Polymers, Thin films, artículo

URL: http://hdl.handle.net/10261/48302
http://dx.doi.org/10.1016/j.ultramic.2011.05.001