نتائج البحث - "Michiyoshi Tanaka"

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Academic Journal

Local structural study of BaTiO3 using STEM-CBED with fast pixelated STEM detector / ピクセル型高速STEM検出器を用いたSTEM-CBED法によるBaTiO3の局所構造解析

المؤلفون: Hiroki Hashiguchi, Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Ryusuke Sagawa, Yukihito Kondo, 佐川隆亮, 橋口裕樹, 津田健治, 田中通義, 近藤行人

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2018, :2551

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Academic Journal

STEM-CBED法によるBaTiO3強誘電正方晶相の局所構造解析－温度依存性－ / Study on temperature-dependence of the local structures of the ferroelectric tetragonal phase of BaTiO3 using STEM-CBED

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2017, :2279

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3

Academic Journal

Local structural analysis of the paraelectric phase of KNbO3 using STEM-CBED / STEM-CBED法によるKNbO3常誘電相の局所構造解析

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2017, :2716

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4

Academic Journal

Local structure analysis of ferroelectric GeTe using STEM-CBED / STEM-CBED法による強誘電体GeTeの局所構造解析

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2016, :2579

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Academic Journal

Fundamentals of Convergent Beam Electron Diffraction

المؤلفون: Michiyoshi TANAKA

المصدر: Nihon Kessho Gakkaishi. 2002, 44(3):150

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Academic Journal

Our Study of Electron Crystallography and Electron Spectroscopy -the second part-

المؤلفون: Michiyoshi TANAKA

المصدر: Nihon Kessho Gakkaishi. 2003, 45(5):295

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Academic Journal

IUCrのEC meetingに出席して

المؤلفون: Michiyoshi TANAKA, 田中通義

المصدر: 日本結晶学会誌 / Nihon Kessho Gakkaishi. 2000, 42(5):455

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Academic Journal

The Past and Future of Electron Microscopy and Electron Diffraction

المؤلفون: Michiyoshi TANAKA

المصدر: Nihon Kessho Gakkaishi. 2000, 42(3):264

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Academic Journal

Ge濃度を制御したSi1-xGexの格子定数測定 / Lattice Parameter Determination of a Composition Controlled Si1-xGex Layer

المؤلفون: Kenji Tsuda, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka, Takayuki Akaogi, 寺内正己, 津田健治, 田中通義, 赤荻隆之

المصدر: まてりあ / Materia Japan. 2006, 45(12):887

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Academic Journal

Charge Density Analysis of Silicon using Convergent-Beam Electron Diffraction / 収束電子回折法によるSiの電子密度分布解析

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Yoichiro Ogata, 小形曜一郎, 津田健治, 田中通義

المصدر: まてりあ / Materia Japan. 2006, 45(12):885

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Academic Journal

Refinement of Crystal Structural Parameters and Charge Density of LaCrO3 Using CBED / 収束電子回折法によるLaCrO3の結晶構造・電子密度分布解析

المؤلفون: Kazunari Takagi, Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Takuya Hashimoto, Yoichiro Ogata, 小形曜一郎, 橋本拓也, 津田健治, 田中通義, 高木一成

المصدر: まてりあ / Materia Japan. 2004, 43(12):990

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Academic Journal

Studies of Decagonal Quasicrystals by Advanced Fanction Electron Microscopes / 高機能電子顕微鏡を用いて明らかにされた準結晶構造と準単位胞モデル

المؤلفون: An-Pang Tsai, Eiji Abe, Kenji Tsuda, Koh Saitoh, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka, 寺内正己, 津田健治, 田中通義, 蔡安邦, 阿部英司, 齋藤晃

المصدر: まてりあ / Materia Japan. 2000, 39(8):645

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Academic Journal

High Energy-Resolvtion Electron Energy-Loss Spectroscopy Microscope / 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡

المؤلفون: Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka, 寺内正己, 田中通義

المصدر: まてりあ / Materia Japan. 1999, 38(3):196

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Academic Journal

13pTJ-7 Analysis of electron density distribution of La_<1-x>Sr_xCrO_3 (x=0.3) using CBED II / 13pTJ-7 収束電子回折法による La_<1-x>Sr_xCrO_3 (x=0.3) の電子密度分布の解析 II(電子線, 領域 10)

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Takuya Hashimoto, Yoichiro Ogata, 小形曜一郎, 橋本拓也, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2004, :863

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Academic Journal

30pXD-11 収束電子回折法による結晶構造精密化への並列計算の導入 / Application of the parallel computation to the retinement of crystal structural parameters using convergent-beam electron diffraction

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Yoichiro Ogata, Yukikuni Akishige, 小形曜一郎, 津田健治, 田中通義, 秋重幸邦

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2003, :916

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21aYM-13 Convergent-beam electron diffraction study of La_<2-2x>Sr_<1+2x>Mn_2O_7(x=0.525). / 21aYM-13 収束電子回折法によるLa_<2-2x>Sr_<1+2x>Mn_2O_7(x=0.525)の結晶構造の研究(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

المؤلفون: Kazuma Hirota, Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Yoichiro Ogata, Youichi Murakami, 小形曜一郎, 廣田和馬, 村上洋一, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2005, :822

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24pYE-3 Domain structures observed by electron microscopy / 24pYE-3 電子顕微鏡・電子回折でみる分域像(強誘電体分域の測定法の新展開と新しい分域像,シンポジウム,領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

المؤلفون: Michiyoshi Tanaka, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2008, :933

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Academic Journal

28aXM-7 Analysis of electron density distribution of La_<1-x>Sr_xCrO_3 using CBED / 28aXM-7 収束電子回折法によるLa_<1-x>Sr_xCrO_3の電子密度分布の解析(X線・粒子線(電子線))(領域10)

المؤلفون: Kenji Tsuda, Michiyoshi Tanaka, Takuya Hashimoto, Yoichiro Ogata, 小形曜一郎, 橋本拓也, 津田健治, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2004, :959

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Transmission Electron Diffraction / 透過電子回折法

المؤلفون: Michiyoshi Tanaka, 田中通義

المصدر: 電子顕微鏡 / Denshi kenbikyo. 2000, 35(1):46

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27p-T-6 Al-Ni-Fe系デカゴナル非中心対称凖結晶の研究 / 27p-T-6 Stuctural study of non-centrosymmetric decagonal quasicrystals of Al-Ni-Fe alloys

المؤلفون: Michiyoshi TANAKA, 田中通義

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 1992, :237

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