المؤلفون: Skopalík, Daniel

Thesis Advisors: Krejčí, Jan, Lattenberg, Ivo

مصطلحات موضوعية: Measuring equipment with USB interface., Measuring equipment based on AVR microcontroller, Transistor testing, Měření parametrů tranzistorů, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR

الاتاحة: http://www.nusl.cz/ntk/nusl-377346

المؤلفون: Skopalík, Daniel

المساهمون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan

مصطلحات موضوعية: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface

وصف الملف: application/pdf; application/zip; text/html

Relation: SKOPALÍK, D. Tester tranzistorů připojitelný přes USB [online]. Brno: Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií. 2018.; 110039; http://hdl.handle.net/11012/81221

الاتاحة: http://hdl.handle.net/11012/81221

المؤلفون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan, Skopalík, Daniel

مصطلحات الفهرس: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface., Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/81221

المؤلفون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan

مصطلحات الفهرس: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface., Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/81221

المؤلفون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan

مصطلحات الفهرس: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface., Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/81221

المؤلفون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan

مصطلحات الفهرس: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface., Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/81221

المؤلفون: Lattenberg, Ivo, Krejčí, Jan, Skopalík, Daniel

مصطلحات الفهرس: Měření parametrů tranzistorů, testování tranzistorů, měřicí přístroj s mikrokontrolérem AVR, měřicí přístroj s rozhraním USB, Transistor parameters measurement, Transistor testing, Measuring equipment based on AVR microcontroller, Measuring equipment with USB interface., Text

URL: http://hdl.handle.net/11012/81221