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المؤلفون: Xavier Collilieux, Kristel Chanard, Laurent Métivier, Zuheir Altamimi, Paul Rebischung, Maylis Teyssendier-de-la-Serve
مصطلحات موضوعية: Engineering, Process management, business.industry, business
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2
المؤلفون: J.-P. Wallerand, Joffray Guillory, Christophe Alexandre, Maylis Teyssendier de la Serve, D. Truong
المساهمون: Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM (LCM), Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] (LNE )-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM), Institut National de l'Information Géographique et Forestière [IGN] (IGN), CEDRIC. Traitement du signal et architectures électroniques (CEDRIC - LAETITIA), Centre d'études et de recherche en informatique et communications (CEDRIC), Ecole Nationale Supérieure d'Informatique pour l'Industrie et l'Entreprise (ENSIIE)-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Ecole Nationale Supérieure d'Informatique pour l'Industrie et l'Entreprise (ENSIIE)-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)
المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, 68 (6), pp.2260-2267. ⟨10.1109/TIM.2019.2902804⟩مصطلحات موضوعية: Time delay and integration, Long-distance telemetry, Intensity modulation, 02 engineering and technology, law.invention, Optics, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Phase-based distance measurement, Metre, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], Electrical and Electronic Engineering, Adaptive optics, Instrumentation, Optical path length, Physics, Air refractive index, Laser diode, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Absolute Distance Measurement, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Interferometry, business, Intensity (heat transfer)
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3
المؤلفون: Maylis Teyssendier de la Serve, Jean-Pierre Wallerand, Joffray Guillory, Daniel Truong, Christophe Alexandre, José Cali, Stéphane Durand
المساهمون: Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM (LCM), Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] (LNE )-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM), Institut National de l'Information Géographique et Forestière [IGN] (IGN), CEDRIC. Traitement du signal et architectures électroniques (CEDRIC - LAETITIA), Centre d'études et de recherche en informatique et communications (CEDRIC), Ecole Nationale Supérieure d'Informatique pour l'Industrie et l'Entreprise (ENSIIE)-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)-Ecole Nationale Supérieure d'Informatique pour l'Industrie et l'Entreprise (ENSIIE)-Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM), Laboratoire Géomatique et foncier (GeF), Conservatoire National des Arts et Métiers [CNAM] (CNAM)
المصدر: HAL
Revue XYZ
Revue XYZ, Association Française de Topographie, 2018مصطلحات موضوعية: ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics