المؤلفون: Martínez Marín, Pol

المساهمون: University/Department: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria

Thesis Advisors: Artigas Pursals, Roger, Bermúdez Porras, Carlos

المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

مصطلحات موضوعية: Microscòpia, Metrologia òptica, Processat d’imatges, Microscopy, Optical metrology, Image processing, Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: http://hdl.handle.net/10803/689380

المؤلفون: Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Artigas Pursals, Roger, Carles Santancana, Guillem

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Microscopy, Corneal topography, Microscòpia, Topografia corneal

وصف الملف: 15 p.; application/pdf

Relation: https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-30-19-34328&id=498994; Martínez, P. [et al.]. Single-shot optical surface profiling using extended depth of field 3D microscopy. "Optics express", 12 Setembre 2022, vol. 30, núm. 19, p. 34328-34342.; http://hdl.handle.net/2117/376027

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/376027
https://doi.org/10.1364/OE.464416

المؤلفون: Järvinen, Hannu, Kassamakov, I., Viitala, T., Bermúdez Porras, Carlos, Artigas Pursals, Roger, Martínez Marín, Pol

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura, Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física, Optical measurements, Metrology, Calibration, Nanometrology, Transfer standard, CSI, SWLI, AFM, Traceability, Òptica -- Mesuraments, Metrologia, Calibratge

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/ab8c6a; Järvinen, H. [et al.]. Step height standards based on self-assembly for 3D metrology of biological samples. "Measurement science and technology", 1 Setembre 2020, vol. 31, núm. 9, p. 94008-1-94008-6.; http://hdl.handle.net/2117/332256

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/332256
https://doi.org/10.1088/1361-6501/ab8c6a

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria, Artigas Pursals, Roger, Bermúdez Porras, Carlos, Martínez Marín, Pol

المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Microscòpia, Metrologia òptica, Processat d’imatges, Microscopy, Optical metrology, Image processing, Doctoral thesis

URL: http://hdl.handle.net/2117/396981
http://hdl.handle.net/10803/689380

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Artigas Pursals, Roger, Carles Santancana, Guillem

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Microscopy, Corneal topography, Microscòpia, Topografia corneal, Article

URL: http://hdl.handle.net/2117/376027
https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-30-19-34328&id=498994
https://opg.optica.org/oe/fulltext.cfm?uri=oe-30-19-34328&id=498994

المؤلفون: Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Carles, G., Cadevall Artigues, Cristina, Matilla Sánchez, Aitor, Mariné, Jordi, Artigas Pursals, Roger

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Microscopy, Focus Variation, Confocal, Optical sectioning, Structured light, Metrologia, Microscòpia

وصف الملف: 11 p.; application/pdf

Relation: https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11782/117820Q/Metrological-characterization-of-different-methods-for-recovering-the-optically-sectioned/10.1117/12.2592371.short; Martínez, P. [et al.]. Metrological characterization of different methods for recovering the optically sectioned image by means of structured light. A: SPIE Optical Metrology. "Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XII: 21-25 June 2021, online only, Germany". Washington: International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2021, p. 1-11. DOI 10.1117/12.2592371.; http://hdl.handle.net/2117/352353

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/352353
https://doi.org/10.1117/12.2592371

المؤلفون: Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Cadevall Artigues, Cristina, Matilla Sánchez, Aitor, Artigas Pursals, Roger

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Microscopy, Optical measurements, Focus Variation, Confocal, Three dimensional measurements, Optical inspection, Metrologia, Microscòpia, Òptica -- Mesuraments

وصف الملف: 9 p.; application/pdf

Relation: https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11352/2554716/Three-dimensional-imaging-confocal-profiler-without-in-plane-scanning/10.1117/12.2554716.short; Martínez, P. [et al.]. Three-dimensional imaging confocal profiler without in-plane scanning. A: SPIE Photonics Europe. "Optics and Photonics for Advanced Dimensional Metrology: 6-10 April 2020, online only, France". Washington: International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2020, p. 1-9. ISBN 9781510634770. DOI 10.1117/12.2554716.; http://hdl.handle.net/2117/352359

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/352359
https://doi.org/10.1117/12.2554716

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Carles, G., Cadevall Artigues, Cristina, Matilla Sánchez, Aitor, Mariné, Jordi, Artigas Pursals, Roger

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Microscopy, Focus Variation, Confocal, Optical sectioning, Structured light, Metrologia, Microscòpia, Conference report

URL: http://hdl.handle.net/2117/352353
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11782/117820Q/Metrological-characterization-of-different-methods-for-recovering-the-optically-sectioned/10.1117/12.2592371.short
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11782/117820Q/Metrological-characterization-of-different-methods-for-recovering-the-optically-sectioned/10.1117/12.2592371.short

المؤلفون: Bermúdez, Carlos, Martínez Marín, Pol, Cadevall Artigues, Cristina, Artigas Pursals, Roger

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Focus Variation, Confocal, Three dimensional measurements, Optical inspection, Metrologia

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11056/110560W/Active-illumination-focus-variation/10.1117/12.2525981.short; Bermúdez, C. [et al.]. Active illumination focus variation. A: SPIE Optical Metrology. "Optical Measurement Systems for Industrial Inspection XI: 24-27 June 2019, Munich, Germany". Washington: International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2019, p. 110560W:1-110560W:11. ISBN 978-1-5106-2792-5. DOI 10.1117/12.2525981.; http://hdl.handle.net/2117/351821

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/351821
https://doi.org/10.1117/12.2525981

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Martínez Marín, Pol, Bermúdez, Carlos, Cadevall Artigues, Cristina, Matilla Sánchez, Aitor, Artigas Pursals, Roger

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Microscopy, Optical measurements, Focus Variation, Confocal, Three dimensional measurements, Optical inspection, Metrologia, Microscòpia, Òptica -- Mesuraments, Conference report

URL: http://hdl.handle.net/2117/352359
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11352/2554716/Three-dimensional-imaging-confocal-profiler-without-in-plane-scanning/10.1117/12.2554716.short
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11352/2554716/Three-dimensional-imaging-confocal-profiler-without-in-plane-scanning/10.1117/12.2554716.short

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Järvinen, Hannu, Kassamakov, I., Viitala, T., Bermúdez Porras, Carlos, Artigas Pursals, Roger, Martínez Marín, Pol

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Instrumentació i mesura, Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió::Òptica física, Optical measurements, Metrology, Calibration, Nanometrology, Transfer standard, CSI, SWLI, AFM, Traceability, Òptica -- Mesuraments, Metrologia, Calibratge, Article

URL: http://hdl.handle.net/2117/332256
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/ab8c6a
https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1361-6501/ab8c6a

المؤلفون: Bermúdez, Carlos, Felgner, André, Martínez Marín, Pol, Matilla Sánchez, Aitor, Cadevall Artigues, Cristina, Artigas Pursals, Roger

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Microscopy, Metrology, Calibration, Imaging systems, Confocal microscopy, Surface measurements, Microscòpia, Metrologia, Calibratge

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/10678/106780M/Residual-flatness-error-correction-in-three-dimensional-imaging-confocal-microscopes/10.1117/12.2306903.short?SSO=1; Bermúdez, C. [et al.]. Residual flatness error correction in three-dimensional imaging confocal microscopes. A: SPIE Photonics Europe. "Optical Micro- and Nanometrology VII : 25-26 April 2018, Strasbourg, France". Washington: International Society for Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE), 2018, p. 1106780M:1-1106780M:10. ISBN 9781510618831. DOI 10.1117/12.2306903.; http://hdl.handle.net/2117/352358

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2117/352358
https://doi.org/10.1117/12.2306903

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Bermúdez, Carlos, Martínez Marín, Pol, Cadevall Artigues, Cristina, Artigas Pursals, Roger

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Metrology, Focus Variation, Confocal, Three dimensional measurements, Optical inspection, Metrologia, Conference report

URL: http://hdl.handle.net/2117/351821
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11056/110560W/Active-illumination-focus-variation/10.1117/12.2525981.short
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11056/110560W/Active-illumination-focus-variation/10.1117/12.2525981.short

المؤلفون: Martínez Marín, Pol

المساهمون: Laguarta Bertran, Ferran, Artigas Pursals, Roger, Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria

المصدر: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instname

مصطلحات موضوعية: Interferometria, Imatgeria (Tècnica), Interferometry, Confocal Microscopy, Surface measurements, Calibration, Imaging systems, Enginyeria de la telecomunicació [Àrees temàtiques de la UPC], Metrology

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::401f85b20931d38149dbbcdc7ba7c238
http://hdl.handle.net/2117/123905

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Òptica i Optometria, Laguarta Bertran, Ferran, Artigas Pursals, Roger, Martínez Marín, Pol

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria de la telecomunicació, Interferometry, Imaging systems, Confocal Microscopy, Metrology, Surface measurements, Calibration, Interferometria, Imatgeria (Tècnica), Master thesis

URL: http://hdl.handle.net/2117/123905

المؤلفون: Universitat Politècnica de Catalunya. Doctorat en Enginyeria Òptica, Universitat Politècnica de Catalunya. Centre de Desenvolupament de Sensors, Instrumentació i Sistemes, Universitat Politècnica de Catalunya. GREO - Grup de Recerca en Enginyeria Òptica, Bermúdez, Carlos, Felgner, André, Martínez Marín, Pol, Matilla Sánchez, Aitor, Cadevall Artigues, Cristina, Artigas Pursals, Roger

مصطلحات الفهرس: Àrees temàtiques de la UPC::Ciències de la visió, Microscopy, Metrology, Calibration, Imaging systems, Confocal microscopy, Surface measurements, Microscòpia, Metrologia, Calibratge, Conference report

URL: http://hdl.handle.net/2117/352358
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/10678/106780M/Residual-flatness-error-correction-in-three-dimensional-imaging-confocal-microscopes/10.1117/12.2306903.short?SSO=1
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/10678/106780M/Residual-flatness-error-correction-in-three-dimensional-imaging-confocal-microscopes/10.1117/12.2306903.short?SSO=1