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1ConferenceLebensdauerbestimmung für Lotkontakte von SMD-Bauelementen unter Vibrations- und Temperaturbelastung
المؤلفون: Meier, Karsten, Lautenschläger, Georg, Röllig, Mike, Schießl, Andreas, Wolter, Klaus-Jürgen
مصطلحات موضوعية: Lotkontakt, Lebensdauermodell, Lebensdauerbestimmung, SMD-Bauelement
Time: 620, 666
Relation: Tagung Elektronische Baugruppen und Leiterplatten (EBL) 2014; Elektronische Baugruppen und Leiterplatten, EBL 2014; https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/384423
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2Academic Journal
المؤلفون: Meier, Karsten, Lautenschläger, Georg, Wolter, Klaus-Jürgen, Röllig, Mike, Schießl, Andreas
مصطلحات موضوعية: Lotkontakt, Hochtemperaturspeicher, schwingende Belastung, Risswachstum
Time: 620, 666
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3Academic Journal
المؤلفون: Meier, Karsten, Lautenschläger, Georg, Wolter, Klaus-Jürgen, Röllig, Mike, Schießl, Andreas
مصطلحات موضوعية: Lotkontakt, Hochtemperaturspeicher, schwingende Belastung, Risswachstum
Time: 620, 666
Relation: Produktion von Leiterplatten und Systemen : PLUS; https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/236160