المؤلفون: Wang, C., Nam, S. W., Cotte, J. M., Peng, H., Jahnes, C. V., Wang, D., Bruce, R., Guillorn, M., Gignac, L. M., Advocate, W. H., Breslin, C. M., Brink, M., Bucchignano, J., Duch, E. A., Galan, A., Kratschmer, E., Litwinowicz, P. J., Lofaro, M. F., Price, W., Rossnagel, S. M., Goldblatt, R. D., Joseph, E. A., Pfeiffer, D., Rao, S. Papa, Royyuru, A., Stolovitzky, G. A., Colgan, E. G., Lin, Q., Polonsky, S.

المصدر: 2013 IEEE International Electron Devices Meeting ; page 14.1.1-14.1.4

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/iedm.2013.6724627
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6709840/6724533/06724627.pdf?arnumber=6724627