يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Liao, T.-j."', وقت الاستعلام: 0.28s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
    In situ observation of crystal/melt interface and infrared measurement of temperature profile during directional solidification of silicon wafer.

    المؤلفون: Liao, T.-j.1, Kang, Y.S.1, Lan, C.W.1 cwlan@ntu.edu.tw

    المصدر: Journal of Crystal Growth. Oct2018, Vol. 499, p90-97. 8p.

    مصطلحات موضوعية: *CRYSTAL structure, *MELTING, *SOLIDIFICATION, *SILICON wafers, *INFRARED radiation


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء