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المؤلفون: Egot, S., Klingler, M., Kone, L., Baranowski, S., Lafon, F., Leullieux, C., Marot, C.
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
المصدر: Proceedings of 2EMC Symposium on Embedded EMC ; https://hal.science/hal-00140790 ; Proceedings of 2EMC Symposium on Embedded EMC, 2005, Rouen, France
Relation: hal-00140790; https://hal.science/hal-00140790
الاتاحة: https://hal.science/hal-00140790