نتائج البحث - "J. Yamasaki"

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Academic Journal

Outline of NDIS 3436 as Non-destructive Air Permeability Test of Concrete Cover / コンクリートの表層透気試験方法規格（NDIS 3436）

المؤلفون: A. Nonaka, A. Tanaka, J. Yamasaki, K. Imamoto, K. Shimozawa, N. Yuasa, 下澤和幸, 今本啓一, 山﨑順二, 湯浅昇, 田中章夫, 野中英

المصدر: コンクリート工学 / Concrete Journal. 2021, 59(7):568

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Academic Journal

المؤلفون: A. Maeda, J. Yamasaki, N. Koyama, T. Iwashimizu, 前田朗, 小山宣幸, 山﨑順二, 岩清水隆

المصدر: コンクリート工学 / Concrete Journal. 2019, 57(12):915

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Academic Journal

Solving the noise problem in the quantitative-density electron tomography based on TV norm minimization / TVノルム最小化を用いた密度定量トモグラフィにおけるノイズ問題解決法

المؤلفون: J. Yamasaki, K. Teruya, N. Baba, N. Fujita, T. Kato, 加藤丈晴, 山﨑順, 照屋海登, 藤田直弘, 馬場則男

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2019, :2183

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Study on Thermal and Heat Insulation Materials to Suppress Temperature Rise inside Agitator Truck Drum in Summer Season / 暑中期における運搬車の遮熱・断熱対策がコンクリート温度の上昇に及ぼす影響に関する研究

المؤلفون: J. Yamasaki, K. Yamaji, T. Iwashimizu, Y. Hirofuji, 山路克昌, 山﨑順二, 岩清水隆, 廣藤義和

المصدر: コンクリート工学 / Concrete Journal. 2018, 56(8):634

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17aAB-4 Growth process of 3C-SiC films and stacking faults on Si(001) studied by TEM / 17aAB-4 透過電子顕微鏡を用いたSi(001)上の3C-SiC 膜形成及び積層欠陥生成過程の研究

المؤلفون: A. Ishida, J. Yamasaki, K. Akiyama, Y. Hirabayashi, 山崎順, 平林康男, 石田篤志, 秋山賢輔

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2015, :2436

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16aAB-4 電子線小角散乱を用いた回折位相イメージングの高精度化

المؤلفون: J. Yamasaki, Y. Shimaoka, 山崎順, 島岡勇記

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2015, :2395

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28pAM-13 Aberration corrected TEM analysis of the generation mechanism of stacking faults in 3C-SiC epitaxial films on Si(001) substrates / 28pAM-13 Si(001)基板上3C-SiCエピタキシャル薄膜における積層欠陥発生プロセスの収差補正TEM解析(28pAM 格子欠陥・ナノ構造(金属・半導体・転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

المؤلفون: A. Ishida, J. Yamasaki, K. Akiyama, N. Tanaka, S. Inamoto, Y. Hirabayashi, Y. Nomura, 山崎順, 平林康男, 田中信夫, 石田篤志, 秋山賢輔, 稲元伸, 野村優貴

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2014, :933

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28pAL-5 Measuring MRO sizes in amorphous materials by utilizing selected-area nano diffraction / 28pAL-5 制限視野ナノ電子回折を用いたアモルファスMRO構造のサイズ計測(28pAL X線・粒子線(電子線,陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

المؤلفون: A. Hirata, J. Yamasaki, M. Mori, N. Tanaka, Y. Hirotsu, 山崎順, 平田秋彦, 弘津禎彦, 森雅幸, 田中信夫

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2014, :927

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26pKA-10 収差補正HRTEMを用いた3C-SiC/Si(001)界面における積層欠陥の解析(格子欠陥・ナノ構造(半導体),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) / Analysis of stacking faults in 3C-SiC/Si(001)using aberration-corrected HRTEM

المؤلفون: A. Ishida, J. Yamasaki, K. Akiyama, N. Tanaka, S. Inamoto, Y. Hirabayashi, Y> Nomura, 山崎順, 平林康男, 田中信夫, 石田篤志, 秋山賢輔, 稲元伸, 野村優貴

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2013, :861

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26aKE-6 TEM像の非線形強度減衰の定量評価とトモグラフィー再構成への影響(X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン)) / Quantification of non-linear intensity attenuation in TEM images and its influence on tomography reconstruction

المؤلفون: J. Yamasaki, M. Mutoh, N. Tanaka, S. Arai, S. Ohta, 大田繁正, 山崎順, 武藤道洋, 田中信夫, 荒井重勇

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2013, :858

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27pRE-9 Precise analysis of interface roughness in La_2O_3/Si by C_s-corrected TEM/STEM / 27pRE-9 収差補正TEM/STEMを用いたLa_2O_3/Si界面ラフネスの精密解析(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

المؤلفون: E. Okunishi, H. Iwai, J. Yamasaki, K. Kakushima, N. Tanaka, S. Inamoto, 奥西栄治, 山崎順, 岩井洋, 田中信夫, 稲元伸, 角嶋邦之

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2009, :940

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28p-ZA-11 In-situ HRTEM observation of electron iradiation effects in Si at 4K / 28p-ZA-11 シリコンにおける電子線照射効果の低温(4K)その場高分解能TEM観察

المؤلفون: J. Yamasaki, N. Kimura, S. Takeda, 山崎順, 木村能章, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 1999, :104

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28p-ZA-10 Amorphization in sillicon by electron irradiation at low temperatures / 28p-ZA-10 シリコンおける電子線照射誘起の非晶質化

المؤلفون: J. Yamasaki, S. Takeda, 山崎順, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 1999, :104

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25aT-9 シリコンナノホールの極低温での生成過程 / Nucleation and grawth of Silicon nanoholes at 4-300K.

المؤلفون: J. Yamasaki, S. Takeda, Y. Ohno, 大野裕, 山崎順, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2000, :803

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7aSL-9 白金スーパー結晶のHRTEM, HAADF-STEM,EELSによる研究((電子線),X線・粒子線,領域10) / Platinum-Supercrystals Studied by HRTEM, HAADF-STEM AND EELS

المؤلفون: J. Yamasaki, N. Tanaka, O. Terasaki, R. Ryoo, Y. Murooka, 室岡義栄, 寺崎治, 山崎順, 田中信夫

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2002, :808

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25aXR-3 SiGeにおける電子線照射効果(25aXR 格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性分野)) / 25aXR-3 The effects of electron irradiation for SiGe

المؤلفون: H. Kohno, J. Kikkawa, J. Yamasaki, S. Takeda, Y. Ohno, 吉川純, 大野裕, 山崎順, 河野日出夫, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2002, :891

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24pPSA-63 シリコン表面上の電子線照射誘起欠陥のSTM観察 / STM observation of defects created on a Si{111} surface by electron irradiation

المؤلفون: D. Hamada, H. Kohno, J. Yamasaki, K. Shirahama, M. Tanbara, N. Ozaki, S. Takeda, Y. Ohno, 丹原匡彦, 大野裕, 尾崎信彦, 山崎順, 河野日出夫, 濱田大介, 白浜晃一, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2000, :786

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23aYP-8 シリコンにおけるアモルファス化の素過程 / Elementary process of amorphization in Si

المؤلفون: J. Yamasaki, K. Tsuda, S. Takeda, 山崎順, 津田健治, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2000, :831

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28pYQ-10 シリコン表面ナノホールのSTM観察 / Observation of Si surface nanoholes by Scanning Tunneling Microscopy.

المؤلفون: J. Yamasaki, N. Ozaki, S. Takeda, Y. Ohno, 大野裕, 尾崎信彦, 山崎順, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2001, :812

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19aTG-7 シリコンにおける照射誘起アモルファス化の温度依存性 / Temperature dependence of radiation-induced amorphization in Si

المؤلفون: J. Yamasaki, K. Tsuda, S. Takeda, 山崎順, 津田健治, 竹田精治

المصدر: Meeting Abstracts of the Physical Society of Japan. 2001, :808

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