المؤلفون: Rashid, Md Jaber Al

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Université d'Angers, Mihaela Barreau, Laurent Saintis, Mohsen Koohestani

المصدر: https://theses.hal.science/tel-04470767 ; Other. Université d'Angers, 2023. English. ⟨NNT : 2023ANGE0028⟩.

مصطلحات موضوعية: Electromagnetic compatibility, Direct power injection, Conducted immunity, Accelerated degradation test, Reliability modeling, Physics-Based degradation model, Injection directe de puissance, Immunité conduite, Test de durée de vie accélérée, Modélisation de la fiabilité, Modèle de dégradation basé sur la physique, [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other

Relation: NNT: 2023ANGE0028; tel-04470767; https://theses.hal.science/tel-04470767; https://theses.hal.science/tel-04470767/document; https://theses.hal.science/tel-04470767/file/ALRASHID.pdf

الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-04470767
https://theses.hal.science/tel-04470767/document
https://theses.hal.science/tel-04470767/file/ALRASHID.pdf

المؤلفون: Rashid, Md Jaber Al

المساهمون: Angers, Barreau, Mihaela, Saintis, Laurent, Koohestani, Mohsen

مصطلحات موضوعية: Injection directe de puissance, Immunité conduite, Test de durée de vie accélérée, Modélisation de la fiabilité, Modèle de dégradation basé sur la physique, Electromagnetic compatibility, Direct power injection, Conducted immunity, Accelerated degradation test, Reliability modeling, Physics-Based degradation model, 621.381 5

Time: 537

Relation: http://www.theses.fr/2023ANGE0028/document

الاتاحة: http://www.theses.fr/2023ANGE0028/document