يعرض 1 - 20 نتائج من 346 نتيجة بحث عن '"In-situ electron microscopy"', وقت الاستعلام: 0.61s تنقيح النتائج
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    المساهمون: Université Grenoble Alpes (UGA), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), INL - Matériaux Fonctionnels et Nanostructures (INL - MFN), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Programme "Recherche Technologique du Base" du Ministère de l'Enseignement Supérieur et de la Recherche français

    المصدر: EISSN: 2366-9608 ; Small Methods ; https://hal.science/hal-04121019 ; Small Methods, 2023, 7 (9), ⟨10.1002/smtd.202300537⟩

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    المؤلفون: Holmér, Jonatan, 1990

    المصدر: Investigation of strain effects of semiconductor nanowires by in situ microscopy transmission electron microscopy Enabling Science and Technology through European Electron Microscopy (ESTEEM3).

    وصف الملف: electronic

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    المساهمون: Petit, Christophe [Sorbonne Univ., Paris (France); CNRS, Paris (France)]

    المصدر: Physical Chemistry Chemical Physics. PCCP (Print); 17; 42

    وصف الملف: Medium: ED; Size: p. 28162-28170

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