يعرض 1 - 20 نتائج من 104 نتيجة بحث عن '"ITO thin films"', وقت الاستعلام: 0.60s تنقيح النتائج
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    المساهمون: School of Electrical and Electronic Engineering

    وصف الملف: 11 p.

    Relation: Nanomaterials; Lian, J., Zhang, D., Hong, R., Yan, T., Lv, T., & Zhang, D. (2019). Broadband Absorption Tailoring of SiO2/Cu/ITO Arrays Based on Hybrid Coupled Resonance Mode. Nanomaterials, 9(6), 852-. doi:10.3390/nano9060852; http://hdl.handle.net/10220/49815; http://dx.doi.org/10.3390/nano9060852

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    Dissertation/ Thesis

    المؤلفون: Chommaux, Thibault

    المساهمون: Institut Pprime UPR 3346 (PPrime Poitiers ), Université de Poitiers = University of Poitiers (UP)-École Nationale Supérieure de Mécanique et d’Aérotechnique Poitiers (ISAE-ENSMA )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Poitiers, Pierre-Olivier Renault, Dominique Thiaudière

    المصدر: https://theses.hal.science/tel-04125783 ; Matériaux et structures en mécanique [physics.class-ph]. Université de Poitiers, 2023. Français. ⟨NNT : 2023POIT2256⟩.

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    Academic Journal

    المساهمون: L.E.S.I.M.S., Département de Physique, Université Ferhat-Abbas Sétif 1 Sétif (UFAS1), Compagnie industrielle des lasers Orléans (CILAS), Compagnie industrielle des lasers (CILAS), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - Département Opto-Acousto-Électronique - UMR 8520 (IEMN-DOAE), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL), No informations found in text.

    المصدر: ISSN: 0250-4707 ; Bulletin of Materials Science ; https://hal.science/hal-03183493 ; Bulletin of Materials Science, 2018, 41 (3), pp.74. ⟨10.1007/s12034-018-1595-1⟩.

    مصطلحات موضوعية: "ITO thin films", "sputtering", "structure", "electrical properties", "AFM", "Hall effect", [SPI]Engineering Sciences [physics], [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, [SPI.ACOU]Engineering Sciences [physics]/Acoustics [physics.class-ph]

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    Academic Journal

    المساهمون: School of Electrical and Electronic Engineering

    وصف الملف: 12 p.; application/pdf

    Relation: Nanomaterials; Lian, J., Zhang, D., Hong, R., Qiu, P., Lv, T., & Zhang, D. (2018). Defect-Induced Tunable Permittivity of Epsilon-Near-Zero in Indium Tin Oxide Thin Films. Nanomaterials, 8(11), 922-. doi:10.3390/nano8110922; https://hdl.handle.net/10356/88830; http://hdl.handle.net/10220/46977

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