يعرض 1 - 20 نتائج من 45 نتيجة بحث عن '"Huisman, Leendert M."', وقت الاستعلام: 1.02s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
    Learning from Simple Indicative Conditionals

    المؤلفون: Huisman, Leendert M.

    المصدر: Erkenntnis (1975-), 2017 Jun 01. 82(3), 583-601.

    URL الوصول: http://www.jstor.org/stable/26164531


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Patent
    Scan chain diagnostics using logic paths
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    Patent
    Methods and apparatus for testing a scan chain to isolate defects
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    Patent
    Learning based logic diagnosis
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    Patent
    Using clock gating or signal gating to partition a device for fault isolation and diagnostic data collection
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    Patent
    METHODS AND APPARATUS FOR TESTING A SCAN CHAIN TO ISOLATE DEFECTS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    Patent
    Methods and apparatus for testing a scan chain to isolate defects
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    Patent
    SCAN CHAIN DIAGNOSTICS USING LOGIC PATHS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    Patent
    Inspection methods and structures for visualizing and/or detecting specific chip structures
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    Patent
    Designing scan chains with specific parameter sensitivities to identify process defects
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  11. 11
    Patent
    Segmented scan chains with dynamic reconfigurations
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  12. 12
    Patent
    INSPECTION METHODS AND STRUCTURES FOR VISUALIZING AND/OR DETECTING SPECIFIC CHIP STRUCTURES
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  13. 13
    Patent
    DEFECT DIAGNOSIS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  14. 14
    Patent
    Designing Scan Chains With Specific Parameter Sensitivities to Identify Process Defects
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  15. 15
    Patent
    LEARNING BASED LOGIC DIAGNOSIS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  16. 16
    Patent
    Methodology for fixing Qcrit at design timing impact
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  17. 17
    Patent
    METHODS AND APPARATUS FOR DEFECT ISOLATION
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  18. 18
    Patent
    Rapid fail analysis of embedded objects
    View record in USPTO Patent Grants

    أضف إلى المفضلة
  19. 19
    Patent
    SEGMENTED SCAN CHAINS WITH DYNAMIC RECONFIGURATIONS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
  20. 20
    Patent
    SCAN CHAIN DIAGNOSTICS USING LOGIC PATHS
    View record in USPTO Patent Applications

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء