المؤلفون: Bezuglyi, M. O., Bezugla, N. V., Horban, D. V.

مصطلحات موضوعية: ellipsoidal reflector, photometry, scattering anisotropy factor, tissue anisotropy factor, еліпсоїдальний рефлектор, фотометрія, фактор анізотропії розсіяння, симуляція Монте-Карло, эллипсоидальный рефлектор, фотометрия, фактор анизотропии рассеяния, симуляция Монте-Карло, 535.2:616-71

وصف الملف: Pp. 62–70; application/pdf

Relation: Наукові вісті КПІ : міжнародний науково-технічний журнал, 2019, № 4(126); Bezuglyi, M. O. Determination of the Tissue Anisotropy Factor During the Photometry by Ellipsoidal Reflectors / M. O. Bezuglyi, N. V. Bezugla, D. V. Horban // Наукові вісті КПІ : міжнародний науково-технічний журнал. – 2019. – № 4(126). – С. 62–70. – Бібліогр.: 29 назв.; https://ela.kpi.ua/handle/123456789/40204; https://doi.org/10.20535/kpi-sn.2019.4.177082

الاتاحة: https://ela.kpi.ua/handle/123456789/40204
https://doi.org/10.20535/kpi-sn.2019.4.177082

المؤلفون: Горбань, Д. В., Horban, D. V.

المساهمون: Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»

مصطلحات موضوعية: 535.2

جغرافية الموضوع: 16-17 листопада 2017 року, 16-17 November 2017, Тернопіль, Ternopil

Time: 616-71

وصف الملف: 73-74

Relation: Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“; Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies"; 1. M. A. Bezuglyi, N. V. Bezuglaya, and I. V. Helich, "Ray tracing in ellipsoidal reflectors for optical biometry of media," Appl. Opt. 56, 8520-8526 (2017).; 2. Безуглый М. А. Обработка изображений при эллипсоидальной фотометрии / М. А. Безуглый, Н. В. Безуглая, А. Б. Самиляк // Приборы и методы измерений. – 2016. – Т. 7, № 1.– С. 67 – 76.; 3. Безуглий М. О. Метод фотометричного дзеркального еліпсоїда обертання для дослідження шорсткості поверхні / М.О. Безуглий, Д.В. Ботвиновський, В.В. Зубарєв, Я.О. Коцур // Методи та прилади контролю якості. – 2011. – № 27. – С. 77 – 83.; 2. Bezuhlyi M. A. Obrabotka izobrazhenii pri ellipsoidalnoi fotometrii, M. A. Bezuhlyi, N. V. Bezuhlaia, A. B. Samiliak, Pribory i metody izmerenii, 2016, V. 7, No 1, P. 67 – 76.; 3. Bezuhlyi M. O. Metod fotometrychnoho dzerkalnoho elipsoida obertannia dlia doslidzhennia shorstkosti poverkhni, M.O. Bezuhlyi, D.V. Botvynovskyi, V.V. Zubariev, Ya.O. Kotsur, Metody ta prylady kontroliu yakosti, 2011, No 27, P. 77 – 83.; Горбань Д. В. Біометричні передумови проектування фотометрів з еліпсоїдальними рефлекторами / Д. В. Горбань // Збірник тез доповідей Ⅵ Міжнародної науково-технічної конференції молодих учених та студентів „Актуальні задачі сучасних технологій“, 16-17 листопада 2017 року. — Т. : ТНТУ, 2017. — Том Ⅰ. — С. 73–74. — (Сучасні технології в будівництві, машино- та приладобудуванні).; http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840; Horban D. V. (2017) Biometrychni peredumovy proektuvannia fotometriv z elipsoidalnymy reflektoramy [Biometric prerequisites for the design of photometers with ellipsoidal reflectors]. Book of abstract the Ⅵ International scientific and technical conference of young researchers and students "Current issues in modern technologies" (Tern., 16-17 November 2017), vol. Ⅰ, pp. 73-74 [in Ukrainian].

الاتاحة: http://elartu.tntu.edu.ua/handle/lib/22840

المؤلفون: Horban, D. V.

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2402::f5f431ac9b25a99f68ba788dcf1122be
http://rep.bntu.by/handle/data/46891

Alternate Title: ОПРЕДЕЛЕНИЕ ФАКТОРА АНИЗОТРОПИИ ТКАНИ МЕТОДОМ ФОТОМЕТРИИ ЭЛЛИПСОИДАЛЬНЫМИ РЕФЛЕКТОРАМИ (Russian)
ВИЗНАЧЕННЯ ФАКТОРА АНІЗОТРОПІЇ ТКАНИНИ МЕТОДОМ ФОТОМЕТРІЇ ЕЛІПСОЇДАЛЬНИМИ РЕФЛЕКТОРАМИ (Ukrainian)

المؤلفون: Bezuglyi, M. O., Bezugla, N. V., Horban, D. V.

المصدر: KPI Science News; 2019, Issue 4, p62-70, 9p

المؤلفون: Horban, D. V.

مصطلحات الفهرس: Научный доклад (Working Paper)

URL: http://hdl.handle.net/rour/84403uri