المؤلفون: Marnay, C., Kroposki, B., Melqin, M., Honghua, X., Chong, A., Chung, S.K., Hara, R., Ise, T., Iravani, R., Katirael, F., Albu, M., Hatzlargyrlou, N., Funabashi, T., Reilly, J., Driesen, Johan, Jiminez, G., Vallve, X.

Relation: IEEE LTS vol:3 issue:1 pages:79-85; https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/489405

الاتاحة: https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/489405