المساهمون: O'Keefe, Michael

المصدر: Microscopy and Microanalysis; 8; 5; Other Information: Submitted to Microscopy and Microanalysis, Volume 8, No.5; Journal Publication Date: 10/2002; PBD: 17 Jul 2001

وصف الملف: Medium: ED; Size: 29 pages

URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/servlets/purl/835339

المؤلفون: Taylor, Seth T., Mardinly, John, O'Keefe, Michael A.

مصطلحات موضوعية: Materials science, HRTEM image simulations metrology gate oxides defect analysis

وصف الملف: application/pdf

URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/1t3141dr