المؤلفون: Desage, Simon-Frédéric, Pitard, Gilles, Pillet, Maurice, Favrelière, Hugues, Frelin, Fabrice, Samper, Serge, Goïc, Gaëtan Le, Gwinner, Laurent, Jochum, Pierre

المساهمون: Laboratoire SYstèmes et Matériaux pour la MEcatronique (SYMME), Université Savoie Mont Blanc (USMB Université de Savoie Université de Chambéry ), LAboratoire de Recherche en Mécanique Appliquée (LARMAUR), Université de Rennes (UR)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire Electronique, Informatique et Image UMR6306 (Le2i), Université de Bourgogne (UB)-École Nationale Supérieure d'Arts et Métiers (ENSAM), Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-AgroSup Dijon - Institut National Supérieur des Sciences Agronomiques, de l'Alimentation et de l'Environnement-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CETEHOR Département technique du Comité FRANCECLAT, Comité Francéclat, Svetan Ratchev

المصدر: Precision Assembly Technologies and Systems : 7th IFIP WG 5.5 International Precision Assembly Seminar, IPAS 2014, Chamonix, France, February 16-18, 2014, Revised Selected Papers ; https://inria.hal.science/hal-01260893 ; Svetan Ratchev. Precision Assembly Technologies and Systems : 7th IFIP WG 5.5 International Precision Assembly Seminar, IPAS 2014, Chamonix, France, February 16-18, 2014, Revised Selected Papers, AICT-435, Springer, pp.94-106, 2014, IFIP Advances in Information and Communication Technology, 978-3-662-45585-2. ⟨10.1007/978-3-662-45586-9_13⟩

مصطلحات موضوعية: Computer Vision, Image Processing, Statistic, Quality Inspection, Surface metrology, [INFO]Computer Science [cs]

الاتاحة: https://inria.hal.science/hal-01260893
https://inria.hal.science/hal-01260893v1/document
https://inria.hal.science/hal-01260893v1/file/978-3-662-45586-9_13_Chapter.pdf
https://doi.org/10.1007/978-3-662-45586-9_13