-
1Academic Journal
المؤلفون: Guzmán de Sousa, Bennys
المساهمون: "null"
وصف الملف: PDF; application/pdf
Relation: http://revistas.javeriana.edu.co/index.php/revUnivOdontologica/article/view/799/450; Universitas Odontologica; Vol 29, No 62 (2010): Universitas Odontologica; http://revistas.javeriana.edu.co/index.php/revUnivOdontologica/article/view/799; http://hdl.handle.net/10554/30860
-
2Academic Journal
المؤلفون: Guzmán de Sousa, Bennys, Koury González, Juan Miguel, García Hurtado, Edgar, Méndez de la Espriella, Catalina, Antúnez Riveros, Marcia
المصدر: Universitas Odontológica, ISSN 2027-3444, Vol. 29, Nº. 62, 2010, pags. 39-44
مصطلحات موضوعية: Interfase, cementos selladores endodónticos, TopSeal®, microscopía electrónica de barrido, System B, Interface, endodontic sealer cements, scanning electron microscopy
وصف الملف: application/pdf
-
3Electronic Resource
المؤلفون: Guzmán de Sousa, Bennys; Pontificia Universidad Javeriana, Koury González, Juan Miguel; Pontificia Universidad Javeriana, García Hurtado, Edgar; Pontificia Universidad Javeriana, Méndez de la Espriella, Catalina; Pontificia Universidad Javeriana, Antúnez Riveros, Marcia; Universidad de Los Andes
URL:
http://hdl.handle.net/10554/30860 http://revistas.javeriana.edu.co/index.php/revUnivOdontologica/article/view/799/450 http://revistas.javeriana.edu.co/index.php/revUnivOdontologica/article/view/799/450
Universitas Odontologica; Vol 29, No 62 (2010): Universitas Odontologica
Universitas Odontologica; Vol 29, No 62 (2010): Universitas Odontologica