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  1. 1
    Conference

    المساهمون: University of Ulm (UUlm), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-JUNIA (JUNIA), Université catholique de Lille (UCL)-Université catholique de Lille (UCL)

    المصدر: Device Research Conference ; https://hal.science/hal-03281290 ; Device Research Conference, Jun 2008, Santa barbara, United States

    مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]

    جغرافية الموضوع: Santa barbara, United States

  2. 2
    Conference

    المساهمون: University of Ulm (UUlm), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

    المصدر: International Semiconductor Device Research Symposium ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03281354 ; International Semiconductor Device Research Symposium, Dec 2007, Maryland, United States

    مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]

    جغرافية الموضوع: Maryland, United States

  3. 3
    Conference

    المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Puissance - IEMN (PUISSANCE - IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), University of Ulm (UUlm)

    المصدر: European Workshop on III-Nitride Semiconductor Materials and Devices ; https://hal.science/hal-03281380 ; European Workshop on III-Nitride Semiconductor Materials and Devices, Sep 2006, Heraklion, Greece

    مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]

    جغرافية الموضوع: Heraklion, Greece

  4. 4
    Conference
  5. 5
    Academic Journal

    المساهمون: University of Ulm (UUlm), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

    المصدر: ISSN: 0129-1564 ; International Journal of High Speed Electronics and Systems ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03281326 ; International Journal of High Speed Electronics and Systems, World Scientific Publishing, 2011, 17 (01), pp.91-95. ⟨10.1142/S012915640700428X⟩.

    مصطلحات موضوعية: GaN HEMT, power, AlInN, [SPI]Engineering Sciences [physics]

  6. 6
    Academic Journal
  7. 7
    Academic Journal
  8. 8
  9. 9
    Academic Journal

    المؤلفون: Gonschorek, M.1 marcus.gonschorek@epfl.ch, Carlin, J.-F.1, Feltin, E.2, Py, M. A.1, Grandjean, N.1

    المصدر: Journal of Applied Physics. Mar2011, Vol. 109 Issue 6, p063720. 8p. 11 Graphs.

    مصطلحات موضوعية: *ALUMINUM, *INDIUM, *GALLIUM nitride, *ELECTRON mobility, *HETEROSTRUCTURES

  10. 10
    Academic Journal
  11. 11
    Academic Journal
  12. 12
    Academic Journal
  13. 13
    Conference
  14. 14
    Electronic Resource
  15. 15
    Conference
  16. 16
    Academic Journal
  17. 17
    Conference

    المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)

    المصدر: Proceedings of the 2009 International Electron Devices Meeting, IEDM 2009 ; International Electron Devices Meeting, IEDM 2009 ; https://hal.science/hal-00474463 ; International Electron Devices Meeting, IEDM 2009, 2009, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/IEDM.2009.5424395⟩

  18. 18
    Conference

    المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)

    المصدر: Proceedings of ESA/MOD Workshop on GaN Microwave Component Technologies ; ESA/MOD Workshop on GaN Microwave Component Technologies ; https://hal.science/hal-00573164 ; ESA/MOD Workshop on GaN Microwave Component Technologies, 2009, Germany. pp.66-75

  19. 19
    Conference

    المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)

    المصدر: Proceedings of the 32nd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2008 ; 32nd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2008 ; https://hal.science/hal-00361120 ; 32nd Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2008, 2008, Belgium. pp.97-98

  20. 20
    Academic Journal

    المساهمون: Butté R., Carlin J.-F., Feltin, E., Gonschorek, M., Nicolay, S., Christmann, G., Simeonov, D., Castiglia, A., Dorsaz, J., Buehlmann, H.J., Christopoulos, S., Baldassarri Höger Von Högersthal, G., Grundy A.J.D., Mosca, M., Pinquier, C., Py, M.A., Demangeot, F., Frandon, J., Lagoudakis, P.G., Baumberg, J.J., Grandjean, N.

    Relation: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000249983900017; volume:40; issue:20; firstpage:6328; lastpage:6344; numberofpages:17; journal:JOURNAL OF PHYSICS D. APPLIED PHYSICS; http://hdl.handle.net/10447/21532