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3Academic Journal
المؤلفون: DECOOPMAN, Thibaut, TRIER, Marc, MARTIN, Nadine, BOISBUNON, Dider, LEMASSON, Alain, TAILHADES, Jacques, FRIJLINK, Peter, HOEFLE, Matthias, COJOCARI, Oleg, PIIRONEN, Petri, PÉRICHAUD, Marie-Genevieve
مصطلحات موضوعية: wave detectors, detectors
وصف الملف: application/pdf
Relation: DECOOPMAN, Thibaut, TRIER; Marc, MARTIN, Nadine et al. Millimetre-wave detectors for direct detection radiometers. In: Global Symposium on Millimeter Waves (GSMM) & ESA Workshop on Millimetre-Wave Technology and Applications: proceedings, 6-8 June 2016, Espoo, Finland, 2004, pp. 1-4. ISBN 978-1-5090-1348-7.; https://doi.org/10.1109/GSMM.2016.7500316; http://repository.utm.md/handle/5014/12481
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5Conference
المؤلفون: Moron, Joel, Leblanc, Remy, Lecourt, Francois, Frijlink, Peter
المصدر: 2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS
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12Conference
المؤلفون: Gasmi, Ahmed, El Kaamouchi, Majid, Poulain, Julien, Wroblewski, Bertrand, Lecourt, Francois, Dagher, Gulnar, Frijlink, Peter, Leblanc, Remy
المصدر: 2017 IEEE Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICS)
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15Conference
المؤلفون: Leblanc, Remy, Ibeas, Noelia Santos, Gasmi, Ahmed, Auvray, Francis, Poulain, Julien, Lecourt, Francois, Dagher, Gulnar, Frijlink, Peter
المصدر: 2016 IEEE Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium (CSICS)
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16Conference
المؤلفون: Alexander, Naomi E., Alderman, Byron, Allona, Fernando, Frijlink, Peter, Gonzalo, Ramón, Hägelen, Manfred, Ibáñez, Asier, Krozer, Viktor, Langford, Marian L., Limiti, Ernesto, Platt, Duncan, Schikora, Marek, Wang, Hui, Weber, Marc Andree
المساهمون: Wikner, David A.
مصطلحات موضوعية: 100 Philosophie, 150 Psychologie, 300 Sozialwissenschaften, Soziologie, Anthropologie
Relation: Alexander, Naomi E.; Alderman, Byron; Allona, Fernando; Frijlink, Peter; Gonzalo, Ramón; Hägelen, Manfred; Ibáñez, Asier; Krozer, Viktor; Langford, Marian L.; Limiti, Ernesto; Platt, Duncan; Schikora, Marek; Wang, Hui; Weber, Marc Andree orcid:0000-0001-5062-2404 TeraSCREEN: Multi-frequency multi-mode Terahertz screening for border checks. Wikner, David A. Proceedings of SPIE 9078 Paper 907802, 1-12 In: Passive and Active Millimeter-Wave Imaging XVII (2014) Bellingham, WA 17th Passive and Active Millimeter-Wave Imaging (Baltimore, MD) [Konferenzveröffentlichung]
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17Conference
المؤلفون: Lecourt, François, Douvry, Yannick, Lesecq, Marie, Defrance, N., Agboton, Alain, Okada, Etienne, Hoel, Virginie, de Jaeger, Jean-Claude, Chmielowska, Magdalena, Rennesson, Stephanie, Chenot, Sebastien, Cordier, Yvon, Lacheze, L., Bouzid, Salhi, Frijlink, Peter
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications (CRHEA), Université Nice Sophia Antipolis (1965 - 2019) (UNS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Côte d'Azur (UniCA), OMMIC
المصدر: Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies, J3N 2013 ; https://hal.science/hal-00941541 ; Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies, J3N 2013, 2013, Marseille, France
مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
الاتاحة: https://hal.science/hal-00941541
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18Conference
المؤلفون: Agboton, Alain, Defrance, N., Altuntas, Philippe, Avramovic, Vanessa, Cutivet, Adrien, Ouhachi, Rezki, de Jaeger, Jean-Claude, Bouzid-Driad, Samira, Hassan, Maher, Renvoise, M., Frijlink, Peter
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Puissance - IEMN (PUISSANCE - IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), OMMIC, French National Research AgencyFrench National Research Agency (ANR), SATELLITE project, GaNEX laboratory of excellence (LABEX), Renatech technological network
المصدر: 43rd Conference on European Solid-State Device Research
https://hal.science/hal-03285110
43rd Conference on European Solid-State Device Research, Sep 2013, Bucharest, Romaniaمصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
Relation: hal-03285110; https://hal.science/hal-03285110
الاتاحة: https://hal.science/hal-03285110
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19Conference
المؤلفون: Agboton, Alain, Defrance, N., Altuntas, Philippe, Avramovic, Vanessa, Cutivet, Adrien, Ouhachi, Rezki, de Jaeger, Jean-Claude, Bouzid-Driad, Samira, Hassan, Maher, Renvoise, M., Frijlink, Peter
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), OMMIC
المصدر: Proceedings of 43rd European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2013 ; 43rd European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2013 ; https://hal.science/hal-00997378 ; 43rd European Solid-State Device Research Conference, ESSDERC 2013, 2013, Bucharest, Romania. pp.57-60, ⟨10.1109/ESSDERC.2013.6818818⟩
مصطلحات موضوعية: aluminum gallium nitride, delays, gallium nitride, HEMTs, logic gates, MODFETs, performance evaluation, [SPI]Engineering Sciences [physics]
Relation: hal-00997378; https://hal.science/hal-00997378
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20Conference
المؤلفون: Hassan, Maher, Delmouly, Vincent, Rouchy, U., Renvoisé, Michel, Frijlink, Peter, Smith, Derek, Zaknoune, M., Ducatteau, Damien, Avramovic, Vanessa, Scavennec, André, Godin, Jean, Riet, Muriel, Maneux, Cristell, Ardouin, Bertrand
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Alcatel-Thalès III-V lab (III-V Lab), THALES France -ALCATEL, Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CPU
المصدر: Conference Proceedings - International Conference on Indium Phosphide and Related Materials ; https://hal.science/hal-00671674 ; Conference Proceedings - International Conference on Indium Phosphide and Related Materials, Dec 2011, Berlin, Germany. pp.Art n°68
مصطلحات موضوعية: DHBT, GaAsSb, InP, Semiconductors, Type II hetero-junction, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Relation: hal-00671674; https://hal.science/hal-00671674
الاتاحة: https://hal.science/hal-00671674