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    Évaluation des méthodologies de réseaux neuronaux pour la compréhension des phénomènes d’interface dans les matériaux intégrés dans les domaines de la microélectronique : application au cas de l’épitaxie en phase solide dans le silicium

    المؤلفون: Lot, Ruggero

    المساهمون: Équipe Modélisation Multi-niveaux des Matériaux (LAAS-M3), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), UT3 : Université Toulouse 3 Paul Sabatier, Anne HEMERYCK, Stefano De Gironcoli

    المصدر: Micro and nanotechnologies/Microelectronics. UT3 : Université Toulouse 3 Paul Sabatier, 2022. English. ⟨NNT : ⟩

    مصطلحات موضوعية: Théorie de la Fonctionnelle de la Densité, Potentiel Machine Learning, Solid Phase Epitaxy, amorphous, amorphe, Neural networkDensity Functional Theory, Epitaxie En Phase Solide, silicon, interface, Silicium, Réseau de neurones, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4074::a37e760477370666d55a78767c53996c
    https://hal.laas.fr/tel-04123446

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  2. 2
    Dissertation/ Thesis
    Evaluation of neutral network methodologies for understanding the interface phenomena in integrated materials in microelectronics : application to the case of solid phase epitaxy in silicon ; Évaluation des méthodologies de réseaux neuronaux pour la compréhension des phénomènes d'interface dans les matériaux intégrés dans les domaines de la microélectronique : application au cas de l'épitaxie en phase solide dans le silicium

    المؤلفون: Lot, Ruggero

    المساهمون: Équipe Modélisation Multi-niveaux des Matériaux (LAAS-M3), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Université Paul Sabatier - Toulouse III, Anne Hemeryck, Stefano De Gironcoli

    المصدر: https://theses.hal.science/tel-04324760 ; Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2022. English. ⟨NNT : 2022TOU30326⟩.

    مصطلحات موضوعية: SPE, Density functional theory, Amorphous, Interface, ML potential, Neuralnetwork, Epitaxie en phase solide, Potentiel machine learning, Réseaux de neurones, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

    Relation: NNT: 2022TOU30326

    الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-04324760
    https://theses.hal.science/tel-04324760v2/document
    https://theses.hal.science/tel-04324760v2/file/2022TOU30326.pdf

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  3. 3
    Dissertation/ Thesis
    Evaluation of neural network methodologies for understanding interface phenomena in integrated materials in microelectronics : application to the case of solid-phase epitaxy in Silicon ; Évaluation des méthodologies de réseaux neuronaux pour la compréhension des phénomènes d’interface dans les matériaux intégrés dans les domaines de la microélectronique : application au cas de l’épitaxie en phase solide dans le silicium

    المؤلفون: Lot, Ruggero

    المساهمون: Équipe Modélisation Multi-niveaux des Matériaux (LAAS-M3), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), UT3 : Université Toulouse 3 Paul Sabatier, Anne HEMERYCK, Stefano De Gironcoli

    المصدر: https://laas.hal.science/tel-04123446 ; Micro and nanotechnologies/Microelectronics. UT3 : Université Toulouse 3 Paul Sabatier, 2022. English. ⟨NNT : ⟩.

    مصطلحات موضوعية: Solid Phase Epitaxy, Interface, Potentiel Machine Learning, Neural networkDensity Functional Theory, amorphous, silicon, Epitaxie En Phase Solide, Réseau de neurones, Théorie de la Fonctionnelle de la Densité, amorphe, Silicium, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

    Relation: tel-04123446; https://laas.hal.science/tel-04123446; https://laas.hal.science/tel-04123446/document; https://laas.hal.science/tel-04123446/file/LOT%20Ruggero.pdf

    الاتاحة: https://laas.hal.science/tel-04123446
    https://laas.hal.science/tel-04123446/document
    https://laas.hal.science/tel-04123446/file/LOT%20Ruggero.pdf

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  4. 4
    Dissertation/ Thesis
    Évaluation des méthodologies de réseaux neuronaux pour la compréhension des phénomènes d'interface dans les matériaux intégrés dans les domaines de la microélectronique : application au cas de l'épitaxie en phase solide dans le silicium ; Evaluation of neutral network methodologies for understanding the interface phenomena in integrated materials in microelectronics : application to the case of solid phase epitaxy in silicon

    المؤلفون: Lot, Ruggero

    المساهمون: Toulouse 3, Hemeryck, Anne, De Gironcoli, Stefano

    مصطلحات موضوعية: Epitaxie en phase solide, Interface, Density functional theory, Amorphous, Potentiel machine learning, Réseaux de neurones, SPE, ML potential, Neuralnetwork

    Relation: http://www.theses.fr/2022TOU30326/document

    الاتاحة: http://www.theses.fr/2022TOU30326/document

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