المؤلفون: 日比野, 倫夫, 下山, 宏, 杉山, せつ子, 花井, 孝明

مصطلحات موضوعية: 走査透過電子顕微鏡, 非弾性散乱電子, 特殊コントラスト, 電子信号間演算, 弾性散乱電子, ノイズ除去, ディジタル処理システム, Specific contrast, Digital processing system, Noise elimination, Inelastically scattered electron, SN比, 非弾性散乱, 量子検出効率, Electron signal manipulation, デコンボリュ-ション処理, 弾性散乱, Elastically scattered electron, Scanning transmission electron microscopy

الاتاحة: http://hdl.handle.net/2237/12957