المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Saintis, Laurent, Koohestani, Mohsen, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), Région Pays de la Loire - RFI WISE, LifeLongEMC

المصدر: ISSN: 0026-2714.

مصطلحات موضوعية: Degradation path model, Electrical simulation model, Reliability performance estimation, Lifetime data distribution, Failure threshold, Accelerated degradation, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [INFO.INFO-PF]Computer Science [cs]/Performance [cs.PF], [INFO.INFO-MO]Computer Science [cs]/Modeling and Simulation

Relation: hal-03794416; https://hal.science/hal-03794416; https://hal.science/hal-03794416/document; https://hal.science/hal-03794416/file/ESREf2022%20Microelectronics_Jaber%20%281%29.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-03794416
https://hal.science/hal-03794416/document
https://hal.science/hal-03794416/file/ESREf2022%20Microelectronics_Jaber%20%281%29.pdf
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114682

المؤلفون: Jaber Al Rashid, Laurent Saintis, Mohsen Koohestani, Mihaela Barreau

المساهمون: ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Région Pays de la Loire - RFI WISE, LifeLongEMC

المصدر: Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2022, pp.114682. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114682⟩
Microelectronics Reliability, 2022, 138, pp.114682. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114682⟩

مصطلحات موضوعية: Reliability performance estimation, Degradation path modelAccelerated degradation, Condensed Matter Physics, [INFO.INFO-MO]Computer Science [cs]/Modeling and Simulation, Accelerated degradation, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, [INFO.INFO-PF]Computer Science [cs]/Performance [cs.PF], [SPI]Engineering Sciences [physics], Failure threshold, Degradation path model, Lifetime data distribution, Electrical simulation model, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::f65431535b0f8dfbbb9736d13036509a
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03789127

المؤلفون: PEI, Da-ming

المصدر: DEStech Transactions on Computer Science and Engineering; 2nd International Conference on Computer, Network Security and Communication Engineering (CNSCE 2017) ; 2475-8841

مصطلحات موضوعية: Proteus, Electrical simulation model, CT1628, DLL

Relation: https://www.dpi-journals.com/index.php/dtcse/article/view/8865

الاتاحة: https://www.dpi-journals.com/index.php/dtcse/article/view/8865
https://doi.org/10.12783/dtcse/cnsce2017/8865