المؤلفون: Rivero Blanco, Carlos

مصطلحات موضوعية: Dispositivos electrónicos, Tecnología, Evolución tecnológica, Innovación en electrónica, Productos tecnológicos, Impacto social de la tecnología, Electrónica (Informática), 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://hdl.handle.net/20.500.14352/73140

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/73140
https://doi.org/10.6084/m9.figshare.22492078.v1

المؤلفون: Rezaei, Mohammadreza, Martín Holgado, Pedro, Morilla García, Yolanda, Franco Peláez, Francisco Javier, Fabero Jiménez, Juan Carlos, Mecha López, Hortensia, Puchner, Helmut, Hubert, Guillaume, Clemente Barreira, Juan Antonio

مصطلحات موضوعية: COTS, SRAM, proton tests, radiation hardness, reliability, soft error, Electrónica (Física), Radiactividad, Circuitos integrados, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2017-87237; ESP2015-68245-C4-4-P; https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9857595/proceeding; https://hdl.handle.net/20.500.14352/72903

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/72903
https://doi.org/10.1109/RADECS50773.2020.9857721
https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9857595/proceeding

المؤلفون: Tenllado van der Reijden, Christian, Piñuel Moreno, Luis

مصطلحات موضوعية: Raspberry Pi, Baremetal, Programación, Entrada Salida, Programación de ordenadores (Informática), Hardware, Electrónica (Informática), 1203.23 Lenguajes de Programación, 2203 Electrónica

Time: 004

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Relation: https://hdl.handle.net/20.500.14352/9303

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/9303

المؤلفون: Clemente Barreira, Juan Antonio, Hubert, Guillaume, Rezaei, Mohammadreza, Franco Peláez, Francisco Javier, Mecha López, Hortensia

مصطلحات موضوعية: Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2017- 87237; https://ieeexplore.ieee.org/document/9493198; https://hdl.handle.net/20.500.14352/4418

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/4418
https://doi.org/10.1109/TNS.2021.3099202
https://ieeexplore.ieee.org/document/9493198

المؤلفون: Qureshi, Yasir M., Simon, William A., Zapater Sancho, Marina, Olcoz Herrero, Katzalin, Atienza Alonso, David

مصطلحات موضوعية: Many-core, architectural exploration, Heterogeneous architectures, Gem5, Electrónica (Informática), 3304 Tecnología de Los Ordenadores

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Relation: ERC Consolidator Grant COMPUSAPIEN (GA No. 725657); H2020 WiPLASH (GA No. 863337); H2020 RECIPE (GA No. 801137); CABAHLA (S2018/TCS-4423); RTI2018-093684-B-I00; https://hdl.handle.net/20.500.14352/96657; Yasir Mahmood Qureshi, William Andrew Simon, Marina Zapater, Katzalin Olcoz, and David Atienza. 2021. Gem5-X: A Many-core Heterogeneous Simulation Platform for Architectural Exploration and Optimization. ACM Trans. Archit. Code Optim. 18, 4, Article 44 (July 2021), 27 pages. https://doi.org/10.1145/3461662

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/96657
https://doi.org/10.1145/3461662
https://dl.acm.org/doi/10.1145/3461662

المؤلفون: Ramezani, Reza, Clemente Barreira, Juan Antonio, Franco Peláez, Francisco Javier

مصطلحات موضوعية: Reliability Model, Multiple Cell Upsets, Soft Errors, Hardware Tasks, FPGA-based Designs, Física nuclear, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2017-87237; https://doi.org/10.1016/j.ress.2020.107036; https://hdl.handle.net/20.500.14352/6310

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/6310
https://doi.org/10.1016/j.ress.2020.107036

المؤلفون: Fabero Jiménez, Juan Carlos, Mecha López, Hortensia, Franco Peláez, Francisco Javier, Clemente Barreira, Juan Antonio, Korkian, Golnaz, Rey, Solenne, Cheymol, Benjamin, Baylac, Maud, Hubert, Guillaume, Velazco, Raoul

مصطلحات موضوعية: FPGA, neutron tests, radiation hardness, reliability, soft error, Electrónica (Física), Radiactividad, Circuitos integrados, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2017-87237; ANR-10-AIRT-05; https://ieeexplore.ieee.org/document/9020124; https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2977874; https://hdl.handle.net/20.500.14352/6088

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/6088
https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2977874
https://ieeexplore.ieee.org/document/9020124

المؤلفون: Hubert, Guillaume, Aubry, Sébastien, Clemente Barreira, Juan Antonio

مصطلحات موضوعية: Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://ieeexplore.ieee.org/document/9020117; https://hdl.handle.net/20.500.14352/7833

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/7833
https://doi.org/10.1109/TAES.2020.2977792
https://ieeexplore.ieee.org/document/9020117

المؤلفون: Franco Peláez, Francisco Javier, Clemente Barreira, Juan Antonio, Korkian, Golnaz, Fabero Jiménez, Juan Carlos, Mecha López, Hortensia, Velazco, Raoul

مصطلحات موضوعية: Birtdhay Statistics, FPGA, SEU, SRAM, Electrónica (Física), Radiactividad, Circuitos integrados, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: (FPA2017-82729-C6-4-R and TIN2017-87237); https://ieeexplore.ieee.org/document/9020111; https://hdl.handle.net/20.500.14352/6087

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/6087
https://doi.org/10.1109/TNS.2020.2977698
https://ieeexplore.ieee.org/document/9020111

المؤلفون: Bonnin Arias, Cristina Natalia, Gutiérrez Jorrín, Sara., Rodríguez Alonso, Xabier, Sánchez Ramos, Celia

مصطلحات موضوعية: 617.7-001.15, 617.735-001.15, 535.1, 004.353.2, Luz azul, LED, Dispositivos electrónicos, Protección luz azul, Óptica y optometría, Óptica fisiológica, Electrónica (Informática), 2209.11 Luz, 2209.15 Optometría, 3210 Medicina Preventiva, 3311.07 Instrumentos Electrónicos

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://hdl.handle.net/20.500.14352/105724

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/105724

المؤلفون: Clemente Barreira, Juan Antonio, Rezaei, Mohammadreza, Franco Peláez, Francisco Javier

مصطلحات موضوعية: Single Event Effects, Multiple Bit Upsets, Error Correction Codes, SRAM, Electrónica (Física), Física nuclear, Hardware, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: PID2020-112916GB-I00; https://hdl.handle.net/20.500.14352/65264

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/65264

المؤلفون: Korkian, Golnaz, Rahmanikia, Navid, Noori, Hamid, Clemente Barreira, Juan Antonio

مصطلحات موضوعية: Sensor network, Ring oscillator, Accuracy, Precision, Sampling time, Thermal overhead, FPGA, Hardware, Electrónica (Informática), 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2017-87237-P; https://hdl.handle.net/20.500.14352/19668; XXXX-XXXX

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/19668

المؤلفون: Muñoz San Martín, Sagrario, Barragán García, Vicenta María, Herrera Fernández, Fernando, Imaña Pascual, Jose Luis, Jiménez Sáez, José Carlos, Palacios Clemente, Pablo, Susi, Gianluca

مصطلحات موضوعية: Interactivo, Autoaprendizaje, Ciencias, Física (Física), Electromagnetismo, Electrónica (Física), Termodinámica, Electrónica (Informática), 22 Física, 2202 Electromagnetismo, 2213 Termodinámica, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: PIMCD2022; https://hdl.handle.net/20.500.14352/65855; 133

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/65855

المؤلفون: Clemente Barreira, Juan Antonio, Hubert, Guilaume, Fraire, Juan, Franco Peláez, Francisco Javier, Villa, Francesca, Rey, Solenne, Baylac, Maud, Puchner, Helmut, Mecha, Hortensia, Velazco, Raoul

مصطلحات موضوعية: COTS, SRAM, neutron tests, radiation hard- ness, reliability, soft error, low-bias voltage, Física nuclear, Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

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Relation: TIN2013-40968-P; TIN2017-87237-P; ANR-10-AIRT-05; http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=23; https://hdl.handle.net/20.500.14352/11974

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/11974
https://doi.org/10.1109/TNS.2018.2800905
http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=23

المؤلفون: Bonnin Arias, Cristina Natalia, Gutiérrez Jorrín, Sara, Rodríguez Alonso, Xabier, Sánchez Ramos, Celia

مصطلحات موضوعية: 617.7-001.15, 535.14, 004.3, Composición lumínica, Pantallas, Exposición ocular, Óptica y optometría, Oftalmología, Electrónica (Informática), 3304 Tecnología de Los Ordenadores, 2209.15 Optometría, 3210 Medicina Preventiva, 2209.08 Iluminación

وصف الملف: application/pdf

Relation: https://hdl.handle.net/20.500.14352/105734

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/105734

المؤلفون: Roldán, Marcelo, Fernández, Pilar, Rams, Joaquín, Sánchez, Fernando, Gómez Herrero, Adrián

مصطلحات موضوعية: nanoindentation, reduced activation ferritic martensitic (RAFM) steels, helium irradiation, irradiation hardening, nuclear fusion structural materials, Electrónica (Física), Electrónica (Informática), 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: EUROfusion (633053); ENE2015-70300-C3-1-R y MAT2012-384407-C03-01; TechnoFusión (II)-CM (S2013/MAE-2745); https://doi.org/10.3390/mi9120633; https://www.mdpi.com/2072-666X/9/12/633; https://hdl.handle.net/20.500.14352/12627

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/12627
https://doi.org/10.3390/mi9120633
https://www.mdpi.com/2072-666X/9/12/633

المؤلفون: Olivito, Javier, Serrano, Felipe, Clemente Barreira, Juan Antonio, Mecha, Hortensia, Resano, Javier

مصطلحات موضوعية: Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2013-46957-C2-1-P; TIN2014-52608-REDC; https://hdl.handle.net/20.500.14352/11976

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/11976
https://doi.org/10.1049/iet-cdt.2016.0095

المؤلفون: Ramezani, Reza, Sedaghat, Yasser, Clemente Barreira, Juan Antonio

مصطلحات موضوعية: FPGAs, Reliability, Task Graph, Scheduling, Early-fetch, Fault Tolerance, Física nuclear, Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2013-40968-P; http://ieeexplore.ieee.org/document/7779146/; https://hdl.handle.net/20.500.14352/18073

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/18073
https://doi.org/10.1109/TVLSI.2016.2631724
http://ieeexplore.ieee.org/document/7779146/

المؤلفون: Ramezani, Reza, Sedaghat, Yasser, Naghibzadeh, Mahmoud, Clemente, Juan Antonio

مصطلحات موضوعية: Fault Tolerance, Optimization, Reconfigurable Platforms, Reliability, Scheduling, Física nuclear, Circuitos integrados, Hardware, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203.07 Circuitos Integrados, 2203 Electrónica

وصف الملف: application/pdf

Relation: TIN2013-40968-P; http://ieeexplore.ieee.org/document/7849158/; https://hdl.handle.net/20.500.14352/18074

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/18074
https://doi.org/10.1109/TAES.2017.2667338
http://ieeexplore.ieee.org/document/7849158/

المؤلفون: Rezaei, Mohammadreza, Hubert, Guillaume, Martín Holgado, Pedro

مصطلحات موضوعية: COTS, SRAM, proton tests, radiation hardness, reliability, soft error, MUSCA-SEP3, Electrónica (Física), Física nuclear, Hardware, Electrónica (Informática), 2207 Física Atómica y Nuclear, 2203 Electrónica

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Relation: PID2020-112916GB-I00; https://hdl.handle.net/20.500.14352/71329

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.14352/71329
https://doi.org/10.1109/TNS.2022.3140473