-
1Academic Journal
المؤلفون: SURI, A., PRATT, A., TEAR, S., WALKER, C., EL‐GOMATI, M.
المساهمون: FP7 People: Marie-Curie Actions, Engineering and Physical Sciences Research Council
المصدر: Journal of Microscopy ; volume 279, issue 3, page 207-211 ; ISSN 0022-2720 1365-2818
-
2Book
المؤلفون: Srnanek, R, Satka, A, Liday, J, Vogrincic, P, Kovac, J, Zadrazil, M, Frank, L, El Gomati, M
المصدر: Electron Microscopy and Analysis 1997 ; page 453-456 ; ISBN 9781003063056
-
3Academic Journal
المؤلفون: Thamm, A.-K., Wei, J., Zhou, J., Walker, C. G. H., Cabrera, H., Demydenko, M., Pescia, D., Ramsperger, U., Suri, A., Pratt, A., Tear, S. P., El-Gomati, M. M.
المصدر: Applied Physics Letters ; volume 120, issue 5 ; ISSN 0003-6951 1077-3118
-
4Academic Journal
المؤلفون: Browning, R., Bassett, P. J., El Gomati, M. M., Prutton, M.
المصدر: Proceedings of the Royal Society of London. Series A, Mathematical and Physical Sciences, 1977 Oct . 357(1689), 213-230.
URL الوصول: https://www.jstor.org/stable/79445
-
5Book
المؤلفون: Walker, C G H, El Gomati, M M, Romanovsky, V
المصدر: Springer Proceedings in Physics ; Microscopy of Semiconducting Materials ; page 495-498 ; ISSN 0930-8989 ; ISBN 9783540319146 9783540319153
-
6Academic Journal
المؤلفون: Wells, T, El-Gomati, M
المصدر: Journal of Physics: Conference Series ; volume 522, page 012054 ; ISSN 1742-6588 1742-6596
-
7Academic Journal
المؤلفون: Algarni, H, El-Gomati, M M, Al-Assiri, M S
المصدر: Journal of Physics: Conference Series ; volume 522, page 012075 ; ISSN 1742-6588 1742-6596
-
8Academic Journal
المؤلفون: Algarni, H, El-Gomati, M M, Al-Assiri, M S
المصدر: Journal of Physics: Conference Series ; volume 522, page 012076 ; ISSN 1742-6588 1742-6596
-
9Academic Journal
المؤلفون: Iacobucci, S., Fratini, M., Rizzo, A., Scarinci, F., Zhang, Y., Mann, M., Li, C., Milne, W. I., El Gomati, M. M., Lagomarsino, S., Stefani, G.
المصدر: Applied Physics Letters ; volume 100, issue 25 ; ISSN 0003-6951 1077-3118
-
10Academic Journal
المؤلفون: Bonet, C, El-Gomati, M M, Matthew, J A D, Tear, S P
المصدر: Journal of Physics: Conference Series ; volume 209, page 012070 ; ISSN 1742-6596
-
11Academic Journal
المؤلفون: EL Gomati, M. M., Walker, C. G. H., Assa'd, A. M. D., ZadraŽil, M.
المساهمون: EPSRC
المصدر: Scanning ; volume 30, issue 1, page 2-15 ; ISSN 0161-0457 1932-8745
-
12Academic Journal
المؤلفون: Mann, M, Teo, K B K, Milne, W I, El Gomati, M M, Wells, T, Tessner, T, Ovsyanko, M
المصدر: Proceedings of the Institution of Mechanical Engineers, Part N: Journal of Nanoengineering and Nanosystems ; volume 222, issue 3, page 95-99 ; ISSN 1740-3499 2041-3092
-
13Academic Journal
المؤلفون: Bonet, C, Pratt, A, El-Gomati, M, Matthew, JAD, Tear, SP
المصدر: Microscopy and Microanalysis ; volume 14, issue S2, page 946-947 ; ISSN 1431-9276 1435-8115
-
14Dissertation/ Thesis
المؤلفون: El Gomati, M. M.
مصطلحات موضوعية: 535, Optics & masers & lasers
-
15Book
المؤلفون: El-Gomati, M M, Wells, T C R, Jayakody, H
المصدر: Microscopy of Semiconducting Materials 2001 ; page 435-438 ; ISBN 9781351074629
-
16Academic Journal
المؤلفون: Walker, C. G. H., Zaggout, F., El-Gomati, M. M.
المصدر: Journal of Applied Physics; Dec2008, Vol. 104 Issue 12, p123713, 6p, 1 Black and White Photograph, 1 Graph
مصطلحات موضوعية: SECONDARY electron emission, SEMICONDUCTOR doping, SCANNING electron microscopy, OXYGEN, FIELD emission, ELECTRON beams, ELECTRON emission
-
17Conference
المؤلفون: El Gomati, M. M., Walker, C. G. H., Matthew, J. A. D.
المساهمون: Postek, Michael T., Newbury, Dale E., Platek, S. Frank, Joy, David C.
المصدر: Scanning Microscopy 2009 ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1117/12.821809
-
18Conference
المؤلفون: El Gomati, M. M., Zaggout, F. N., Walker, C. G. H., Zha, X.
المساهمون: Postek, Michael T., Newbury, Dale E., Platek, S. Frank, Joy, David C.
المصدر: Scanning Microscopy 2009 ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1117/12.821810
-
19Book
المؤلفون: Zaggout, F, El-Gomati, M
المصدر: Springer Proceedings in Physics ; Microscopy of Semiconducting Materials ; page 523-526 ; ISBN 9783540319146
-
20Book
المؤلفون: Romanovsky, V, El-Gomati, M, Wells, T, Day, J
المصدر: Springer Proceedings in Physics ; Microscopy of Semiconducting Materials ; page 499-502 ; ISBN 9783540319146