يعرض 1 - 6 نتائج من 6 نتيجة بحث عن '"Dimopoulos, M. G."', وقت الاستعلام: 0.40s تنقيح النتائج
  1. 1
    Conference
    Wavelet analysis of current measurements for mixed-signal circuit testing

    المؤلفون: Dimopoulos, M. G., Papakostas, D. K., Vassios, B. D., Hatzopoulos, A. A.

    المصدر: Proceedings of 2010 IEEE International Symposium on Circuits and Systems ; page 1923-1926

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/iscas.2010.5537999
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5512009/5536941/05537999.pdf?arnumber=5537999

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Academic Journal
    Wavelet Analysis for the Detection of Parametric and Catastrophic Faults in Mixed-Signal Circuits

    المؤلفون: Spyronasios, A D, Dimopoulos, M G, Hatzopoulos, A A

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ; volume 60, issue 6, page 2025-2038 ; ISSN 0018-9456 1557-9662

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/tim.2011.2115550
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/19/5765517/05729820.pdf?arnumber=5729820

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    Academic Journal
    A Nondestructive Method for Accurately Extracting Substrate Parameters of Arbitrary Doping Profile in Nanoscale VLSI

    المؤلفون: Bontzios, Y. I., Dimopoulos, M. G., Hatzopoulos, A. A.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement ; volume 60, issue 9, page 3173-3184 ; ISSN 0018-9456 1557-9662

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/tim.2011.2124790
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/19/5978243/05740596.pdf?arnumber=5740596

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    Periodical
    Wavelet energy-based mahalanobis distance metric for testing analog and mixed-signal circuits

    المؤلفون: Spyronasios, A. D., Dimopoulos, M. G., Hatzopoulos, A. A.

    المصدر: International Journal of Microelectronics and Computer Science.

    مصطلحات موضوعية: analogowy i mieszany test sygnału, test obwodu, falki, odległość Mahalanobisa, Analog and Mixed-Signal Testing, Circuit Test, wavelets, Mahalanobis distance

    URL الوصول: http://yadda.icm.edu.pl/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-LOD6-0024-0017

    View record in BazTech

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    Periodical
    Automated substrate resistance extraction in nanoscale VLSI by exploiting a geometry-based analytical model

    المؤلفون: Bontzios, Y. I., Dimopoulos, M. G., Hatzopoulos, A. A.

    المصدر: International Journal of Microelectronics and Computer Science.

    مصطلحات موضوعية: szum podłożowy, układ scalony, modelowanie geometryczne, pochodzenie oporu, modelowanie oporu, zasilanie pasożytnicze, substrate noise, integrated circuits, geometric modeling, resistance extraction, resistance modeling, parasitics

    URL الوصول: http://yadda.icm.edu.pl/baztech/element/bwmeta1.element.baztech-article-LOD7-0029-0060

    View record in BazTech

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    Academic Journal
    Wavelet energy-based testing using supply current measurements.

    المؤلفون: Dimopoulos, M. G.1 mdimop@ieee.org, Spyronasios, A. D.2, Papakostas, D. K.1, Hatzopoulos, A. A.2

    المصدر: IET Science, Measurement & Technology (Institution of Engineering & Technology). Mar2010, Vol. 4 Issue 2, p76-85. 10p. 4 Diagrams, 5 Charts, 3 Graphs.

    مصطلحات موضوعية: *TEST methods, *FAULT tolerance (Engineering), MICROCONTROLLERS, ELECTRONIC controllers, MIXED signal circuits


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء