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1Conference
المؤلفون: Boutayeb, A., Golanski, D., Guyader, F., Joblot, S., Baron, F., Chantraine, P., Escarabajal, Y., Gourhant, O., Inard, A., Jenny, C., Duval, J., Delmedico, S., Theodorou, C., Ponthenier, F., Lacord, J.
المصدر: 2024 IEEE European Solid-State Electronics Research Conference (ESSERC) ; page 9-12
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2ConferenceHigh Density Embedded PCM Cell in 28nm FDSOI Technology for Automotive Micro-Controller Applications
المؤلفون: Arnaud, F., Ferreira, P., Piazza, F., Gandolfo, A., Zuliani, P., Mattavelli, P., Gomiero, E., Samanni, G., Jasse, J., Jahan, C., Reynard, J. P., Berthelon, R., Weber, O., Villaret, A., Dumont, B., Grenier, J. C., Ranica, R., Gallon, C., Boccaccio, C., Souhaite, A., Desvoivres, L., Ristoiu, D., Favennec, L., Caubet, V., Delmedico, S., Cherault, N., Beneyton, R., Chouteau, S., Sassoulas, P. O., Clement, L., Boivin, P., Turgis, D., Disegni, F., Ogier, J. L., Federspiel, X., Kermarrec, O., Molgg, M., Viscuso, A., Annunziata, R., Maurelli, A., Cappelletti, P., Ciantar, E.
المصدر: 2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
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3Conference
المؤلفون: Arnaud, F., Zuliani, P., Reynard, J.P., Gandolfo, A., Disegni, F., Mattavelli, P., Gomiero, E., Samanni, G., Jahan, C., Berthelon, R., Weber, O., Richard, E., Barral, V., Villaret, A., Kohler, S., Grenier, J.C., Ranica, R., Gallon, C., Souhaite, A., Ristoiu, D., Favennec, L., Caubet, V., Delmedico, S., Cherault, N., Beneyton, R., Chouteau, S., Sassoulas, P.O., Vernhet, A., Le Friec, Y., Domengie, F., Scotti, L., Pacelli, D., Ogier, J.L., Boucard, F., Lagrasta, S., Benoit, D., Clement, L., Boivin, P., Ferreira, P., Annunziata, R., Cappelletti, P.
المصدر: 2018 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
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4Academic Journal
المؤلفون: Delmedico, S., Benyatou, T., Guillot, Gérard, Gendry, Michel, Oustric, M., Venet, T., Tardy, Jacques, Hollinger, Guy, Chovet, A., Mathieu, N.
المساهمون: Laboratoire de physique de la matière (LPM), Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire d'électronique, automatique et mesures électriques (LEAME), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon, Laboratoire de Physique des Composants à Semiconducteurs (LPCS), École Nationale Supérieure d'Électronique et de Radioélectricité de Grenoble (ENSERG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0924-4247 ; EISSN: 1873-3069.
مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Relation: hal-02119481; https://hal.science/hal-02119481; https://hal.science/hal-02119481/document; https://hal.science/hal-02119481/file/SDM-SA-1995-1-s2.0-0924424794009092-main.pdf
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5Conference
المؤلفون: Berthelon, Rémy, Andrieu, F., Josse, E., Bingert, R., Weber, O., Serret, E., Aurand, A., Delmedico, S., Farys, V., Bernicot, C., Bechet, E., Bernard, E., Poiroux, T., Rideau, D., Scheer, P., Baylac, E., Perreau, P., Jaud, M.A., Lacord, J., Petitprez, E., Pofelski, A., Ortolland, S., Sardin, P., Dutartre, D., Claverie, Alain, Vinet, M., Marin, J.C., Haond, M.
المساهمون: STMicroelectronics Crolles (ST-CROLLES), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Matériaux et dispositifs pour l'Electronique et le Magnétisme (CEMES-MEM), Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales (CEMES), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie de Toulouse (ICT), Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Institut de Recherche pour le Développement (IRD)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: VLSI Technology, 2016 IEEE Symposium on ; https://hal.science/hal-01719493 ; VLSI Technology, 2016 IEEE Symposium on, 2016, Unknown, Unknown Region. ⟨10.1109/VLSIT.2016.7573425⟩
مصطلحات موضوعية: CMOS integrated circuits, Integrated circuit design, Integrated circuit layout, Integrated circuit testing, VLSI circuits, CMOS technology, Co-optimization, Delay improvements, Fully depleted silicon-on-insulator, Longitudinal stress, Nanobeam diffraction, Ring oscillator, Stress management, Silicon on insulator technology, [PHYS]Physics [physics]
جغرافية الموضوع: Unknown, Unknown Region
Relation: hal-01719493; https://hal.science/hal-01719493
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6Conference
المؤلفون: Weber, O., Josse, E., Andrieu, F., Cros, A., Richard, E., Perreau, P., Baylac, E., Degors, N., Gallon, C., Perrin, E., Chhun, S., Petitprez, E., Delmedico, S., Simon, J., Druais, G., Lasserre, S., Mazurier, J., Guillot, N., Bernard, E., Bianchini, R., Parmigiani, L., Gerard, X., Pribat, C., Gourhant, O., Abbate, F., Gaumer, C., Beugin, V., Gouraud, P., Maury, P., Lagrasta, S., Barge, D., Loubet, N., Beneyton, R., Benoit, D., Zoll, S., Chapon, J.-D., Babaud, L., Bidaud, M., Gregoire, M., Monget, C., Le-Gratiet, B., Brun, P., Mellier, M., Pofelski, A., Clement, L.R., Bingert, R., Puget, S., Kruck, J.-F., Hoguet, D., Scheer, P.
المصدر: 2014 Symposium on VLSI Technology (VLSI-Technology): Digest of Technical Papers
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7Conference
المؤلفون: Gu, Y., Miley, G., DelMedico, S.
المصدر: Digest of Technical Papers. Tenth IEEE International Pulsed Power Conference ; volume 2, page 1500-1505
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8Conference
المؤلفون: DelMedico, S. G., Barnouin, O. M., Petra, M., Miley, G. H.
المصدر: AIP Conference Proceedings ; volume 369, page 1009-1021 ; ISSN 0094-243X
الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1063/1.50396
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9Conference
المؤلفون: DelMedico, S., Barnouin, O., Petra, M., Miley, G.H.
المصدر: International Conference on Plasma Science (papers in summary form only received) ; page 221
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10Report
المؤلفون: Ahne, D, Caldwell, D, Davis, K, Delmedico, S, Heinen, E, Ismail, S, Sumner, C, Bock, J, Buente, B, Gliane, R
المصدر: USRA, NASA(USRA University Advanced Design Program Fifth Annual Summer Conference.
مصطلحات موضوعية: Systems Analysis
Relation: Workshop on Scaling Effects in Composite Materials and Structures; Proceedings of the 5th Annual Summer Conference: NASA/USRA University Advanced Design Program
URL الوصول: https://ntrs.nasa.gov/citations/19940004523
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11Conference
المؤلفون: Arnaud, F., Boeuf, F., Salvetti, F., Lenoble, D., Wacquant, F., Regnier, C., Morin, P., Emonet, N., Denis, E., Oberlin, J.C., Ceccarelli, D., Vannier, P., Imbert, G., Sicard, A., Perrot, C., Belmont, O., Guilmeau, I., Sassoulas, P.O., Delmedico, S., Palla, R.
المصدر: 2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407); 2003, p65-66, 2p
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12Conference
المؤلفون: Gu, Y., Miley, G., DelMedico, S.
المصدر: Digest of Technical Papers Tenth IEEE International Pulsed Power Conference; 1995, Issue 2, p1500-1500, 1p
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المؤلفون: Ahne, D., Caldwell, D., Davis, K., Delmedico, S., Heinen, E., Ismail, S., Sumner, C., Bock, J., Buente, B., Gliane, R.
المصدر: CASI
جغرافية الموضوع: Unclassified, Unlimited, Publicly available
Time: 66
Relation: http://ntrs.nasa.gov/search.jsp?R=19940004523; Accession ID: 94N71278