المؤلفون: Mehr, M. Yazdan, Hajipour, P., Karampoor, M.R., van Zeijl, H., van Driel, W.D., Cooremans, T., De Buyl, F., Zhang, G.Q.

المساهمون: Nederlandse Organisatie voor Wetenschappelijk Onderzoek, Technische Universiteit Delft, Institutes Organisation of NWO

المصدر: Microelectronics Reliability ; volume 164, page 115554 ; ISSN 0026-2714

الاتاحة: https://doi.org/10.1016/j.microrel.2024.115554
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271424002348?httpAccept=text/xml
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271424002348?httpAccept=text/plain