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    Optical monitoring methods and strategies for magnetron sputtered thin-film filters

    المؤلفون: Zideluns, Janis

    المساهمون: Institut FRESNEL (FRESNEL), Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Centrale Marseille, Julien Lumeau, Fabien Lemarchand

    المصدر: Optics / Photonic. Ecole Centrale Marseille, 2022. English. ⟨NNT : 2022ECDM0004⟩

    مصطلحات موضوعية: Revêtements optiques, Contrôle de l'épaisseur des couches minces, Thin film thickness monitoring, Pulvérisation magnétron, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic, Optical coatings, Magnetron sputtering

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3430::305e840a470cfa027c12b13e9ac9db84
    https://theses.hal.science/tel-04072733/document

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  2. 2
    Dissertation/ Thesis
    Méthodes et stratégies de contrôle optique pour la fabrication de filtres en couches minces par pulvérisation magnétron ; Optical monitoring methods and strategies for magnetron sputtered thin-film filters

    المؤلفون: Zideluns, Janis

    المساهمون: Institut FRESNEL (FRESNEL), Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Centrale Marseille, Julien Lumeau, Fabien Lemarchand

    المصدر: https://theses.hal.science/tel-04072733 ; Optics / Photonic. Ecole Centrale Marseille, 2022. English. ⟨NNT : 2022ECDM0004⟩.

    مصطلحات موضوعية: Optical coatings, Thin film thickness monitoring, Magnetron sputtering, Revêtements optiques, Contrôle de l'épaisseur des couches minces, Pulvérisation magnétron, [SPI.OPTI]Engineering Sciences [physics]/Optics / Photonic

    Relation: NNT: 2022ECDM0004

    الاتاحة: https://theses.hal.science/tel-04072733
    https://theses.hal.science/tel-04072733v1/document
    https://theses.hal.science/tel-04072733v1/file/Zideluns_Thesis_final.pdf

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  3. 3
    Dissertation/ Thesis
    Optical monitoring methods and strategies for magnetron sputtered thin-film filters ; Méthodes et stratégies de contrôle optique pour la fabrication de filtres en couches minces par pulvérisation magnétron

    المؤلفون: Zideluns, Janis

    المساهمون: Ecole centrale de Marseille, Lumeau, Julien, Lemarchand, Fabien

    مصطلحات موضوعية: Revêtements optiques, Contrôle de l'épaisseur des couches minces, Pulvérisation magnétron, Optical coatings, Thin film thickness monitoring, Magnetron sputtering

    Relation: http://www.theses.fr/2022ECDM0004/document

    الاتاحة: http://www.theses.fr/2022ECDM0004/document

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  4. 4
    Electrogenerated Mesoporous Silica Thin Films : Thickness Control and Electroanalytical Applications

    المؤلفون: Sikolenko, Taisiia

    المساهمون: Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie du CNRS (INC)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Lorraine, Alain Walcarius, UL, Thèses

    المصدر: Chemical Sciences. Université de Lorraine, 2020. English. ⟨NNT : 2020LORR0242⟩

    مصطلحات موضوعية: Electrochemiluminescence, EASA, Glyphosate, Film de silice mésoporeuse, Thickness control, [CHIM] Chemical Sciences, Ru(bpy)32+, Mesoporous silica films, [CHIM]Chemical Sciences, Électrochimiluminescence, Contrôle de l'épaisseur

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::97ab84f9af2a7ea08618eb90869165ba
    https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348/file/DDOC_T_2020_0242_SIKOLENKO.pdf

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  5. 5
    Dissertation/ Thesis
    Electrogenerated Mesoporous Silica Thin Films : Thickness Control and Electroanalytical Applications ; Films minces de silice mésoporeuse électrogénérée : contrôle de l’épaisseur et applications analytiques

    المؤلفون: Sikolenko, Taisiia

    المساهمون: Laboratoire de Chimie Physique et Microbiologie pour les Matériaux et l'Environnement (LCPME), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lorraine (UL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Lorraine, Alain Walcarius

    المصدر: https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348 ; Chemical Sciences. Université de Lorraine, 2020. English. ⟨NNT : 2020LORR0242⟩.

    مصطلحات موضوعية: Mesoporous silica films, EASA, Thickness control, Ru(bpy)32+, Glyphosate, Electrochemiluminescence, Film de silice mésoporeuse, Contrôle de l'épaisseur, Électrochimiluminescence, [CHIM]Chemical Sciences

    Relation: NNT: 2020LORR0242; tel-03230348; https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348; https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348/document; https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348/file/DDOC_T_2020_0242_SIKOLENKO.pdf

    الاتاحة: https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348
    https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348/document
    https://hal.univ-lorraine.fr/tel-03230348/file/DDOC_T_2020_0242_SIKOLENKO.pdf

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    Dissertation/ Thesis
    Films minces de silice mésoporeuse électrogénérée : contrôle de l’épaisseur et applications analytiques ; Electrogenerated Mesoporous Silica Thin Films : Thickness Control and Electroanalytical Applications

    المؤلفون: Sikolenko, Taisiia

    المساهمون: Université de Lorraine, Walcarius, Alain

    مصطلحات موضوعية: Film de silice mésoporeuse, EASA, Contrôle de l'épaisseur, Ru(bpy)₃²⁺, Glyphosate, Électrochimiluminescence, Mesoporous silica films, Thickness control, Electrochemiluminescence, 541.37, 620.112 95

    Relation: http://www.theses.fr/2020LORR0242/document

    الاتاحة: http://www.theses.fr/2020LORR0242/document

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