يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Claquage par avalanche"', وقت الاستعلام: 0.28s تنقيح النتائج
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    Dissertation/ Thesis
    Study of the noise aging mechanisms in single-photon avalanche photodiode for time-of-flight imaging ; Etude des mécanismes de vieillissement du bruit de photodiode à avalanche à photon unique pour l'imagerie par temps de vol

    المؤلفون: Sicre, Mathieu

    المساهمون: Lyon, INSA, Calmon, Francis

    مصطلحات موضوعية: Electronique, Diode à avalanche à photon unique, Taux de comptage dans l’obscurité, Fiabilité, Dégradation type porteurs chauds, Conception assistée par ordinateur, Méthode de Monte Carlo, Caractérisation électro-Optique, Claquage par avalanche, Electronic Board, Single Photon Avalanche Diode (SPAD), Dark Count Rate (DCR), Reliability, Hot-Carrier Degradation (HCD), CAD - Computer-Aided design, Monte Carlo method, Electro-Optical characterization, Avalanche collapse, 621.381 548 072

    Relation: http://www.theses.fr/2023ISAL0104/document

    الاتاحة: http://www.theses.fr/2023ISAL0104/document

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