المؤلفون: Fiegna, Claudio, Capasso, Giuseppe <1994

مصطلحات الفهرس: ING-INF/01 Elettronica, Doctoral Thesis, PeerReviewed

URL: http://amsdottorato.unibo.it/11174/1/GC_PhD_Final_Thesis_FrontespizioUNIBO.pdf
http://amsdottorato.unibo.it/11174/
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المؤلفون: Capasso, Giuseppe <1994

المساهمون: Fiegna, Claudio

مصطلحات موضوعية: ING-INF/01 Elettronica

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Relation: http://amsdottorato.unibo.it/11174/1/GC_PhD_Final_Thesis_FrontespizioUNIBO.pdf; urn:nbn:it:unibo-30142; Capasso, Giuseppe (2024) Long-term reliability of power GaN HEMTS, [Dissertation thesis], Alma Mater Studiorum Università di Bologna. Dottorato di ricerca in Ingegneria elettronica, telecomunicazioni e tecnologie dell'informazione , 36 Ciclo. DOI 10.48676/unibo/amsdottorato/11174.

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