المؤلفون: 孙磊

المساهمون: 北京大学

المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Thesis_Y1181343.aspx

مصطلحات موضوعية: IO标准单元库, ESD保护电路, CMOS电路片, 缓冲电路, 闩锁效应

Relation: 北京大学.; 728558; http://hdl.handle.net/20.500.11897/365979

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.11897/365979