يعرض 1 - 8 نتائج من 8 نتيجة بحث عن '"Brusamarello, L."', وقت الاستعلام: 0.37s تنقيح النتائج
  1. 1
    Conference
    A methodology to predict the impact of wafer level chip scale package stress on high-precision circuits

    المؤلفون: van Dalen, R., Tuinhout, H. P., Stoutjesdijk, M., van Zwol, J., Zaal, J. J. M., Janssen, J. H. J., Swartjes, F. H. M., Bastiaansen, P. A. M., Lammers, M. C., Brusamarello, L., Stekelenburg, M.

    المصدر: 2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/iedm.2015.7409646
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7402013/7409598/07409646.pdf?arnumber=7409646

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Conference
    Impact of Line Edge Roughness on Cell-to-Cell Coupling Variability in NAND Flash Arrays

    المؤلفون: Poliakov, Pavel, Blomme, P., Corbalan, Miranda, Anchlia, A., Dobrovolny, P., Brusamarello, L., Stucchi, M., Van Houdt, J., Dehaene, Wim

    Relation: pages:41-44; Int. Conf. on Ultimate integration on Silicon (ULIS) date:March, 2010; https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/274239

    الاتاحة: https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/274239

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    Conference
    Transistor sizing and folding techniques for radiation hardening

    المؤلفون: Kastensmidt, F. Lima, Assis, T., Ribeiro, I., Wirth, G., Brusamarello, L., Reis, R.

    المصدر: 2009 European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems ; volume 46, page 512-519

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/radecs.2009.5994705
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5981575/5993792/05994705.pdf?arnumber=5994705

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    Book
    Modeling the Impact of NBTI on the Reliability of Arithmetic Circuits

    المؤلفون: Camargo, V., da Silva, M., Brusamarello, L., Wirth, G., Glösekötter, P.

    Relation: https://www.hb.fh-muenster.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/8139

    الاتاحة: https://www.hb.fh-muenster.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/8139

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    Book
    Numerical Method for Modeling Process Variations and NBTI

    المؤلفون: Brusamarello, L., Wirth, G. I., Camargo, V., da Silva, M., da Silva, R., Glösekötter, P.

    Relation: https://www.hb.fh-muenster.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/8138

    الاتاحة: https://www.hb.fh-muenster.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/8138

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    Academic Journal
    Compact modeling and simulation of Random Telegraph Noise under non-stationary conditions in the presence of random dopants

    المؤلفون: Wirth, G., Vasileska, D., Ashraf, N., Brusamarello, L., Della Giustina, R., Srinivasan, P.

    المصدر: Microelectronics Reliability ; volume 52, issue 12, page 2955-2961 ; ISSN 0026-2714

    الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.07.011
    https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271412003617?httpAccept=text/xml
    https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0026271412003617?httpAccept=text/plain

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    Conference
    NBTI-aware technique for transistor sizing of high-performance CMOS gates.

    المؤلفون: da Silva, M.B., Camargo, V.V.A., Brusamarello, L., Wirth, G.I., da Silva, R.

    المصدر: 2009 10th Latin American Test Workshop; 2009, p1-5, 5p


    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    Conference
    Yield Analysis by Error Propagation Using Numerical Derivatives Considering WD and D2D variations.

    المؤلفون: Brusamarello, L., da Silva, R., Reis, R.A.L., Wirth, G.I.

    المصدر: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI '07); 2007, p86-91, 6p


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء