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1Report
المؤلفون: Brose, Sascha Manuel
مصطلحات موضوعية: Maske Halbleitertechnologie, Chip, Extremes Ultraviolett, Mikroelektronik, EUV-Lithografie, Halbleitertechnologie, Electrical engineering
وصف الملف: application/pdf
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المؤلفون: Brose, Sascha Manuel
المساهمون: Taubner, Thomas Günter, Loosen, Peter, Juschkin, L.
المصدر: Aachen 1 Online-Ressource (III, 239 Seiten) : Illustrationen, Diagramme (2018). doi:10.18154/RWTH-2019-02641 = Dissertation, RWTH Aachen University, 2018
مصطلحات موضوعية: high-resolution photoresists, extrem ultraviolette Strahlung, interference lithography, Interferenzlithografie, hochauflösende Photoresists, transmission masks, ddc:530, periodische Strukturanordnungen, extreme ultraviolet radiation, periodic structures, Nanostrukturierung, Transmissionsmasken, nanopatterning