المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Koohestani, Mohsen, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Polytech' Angers, Université d'Angers, Cofinancement Région Pays de la Loire et Université d'Angers., RFI Wise

المصدر: ISSN: 1530-4388 ; IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ; https://univ-angers.hal.science/hal-04334074 ; IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2024, 24 (1), pp.2-13. ⟨10.1109/TDMR.2023.3340426⟩ ; https://ieeexplore.ieee.org/document/10347530.

مصطلحات موضوعية: Reliability, Degradation, Integrated circuit modeling, Integrated circuits, Stress, Data models, Immunity testing, step-stress ADT, DPI, ALT, physics based model, Weibull distribution, time-to-failure, reliability function, step-stress ADT DPI ALT physics based model Weibull distribution time-to-failure reliability function, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [STAT.OT]Statistics [stat]/Other Statistics [stat.ML]

Relation: hal-04334074; https://univ-angers.hal.science/hal-04334074; https://univ-angers.hal.science/hal-04334074/document; https://univ-angers.hal.science/hal-04334074/file/IEEETransactionsonDeviceReliability_finalisedR.pdf

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-04334074
https://univ-angers.hal.science/hal-04334074/document
https://univ-angers.hal.science/hal-04334074/file/IEEETransactionsonDeviceReliability_finalisedR.pdf
https://doi.org/10.1109/TDMR.2023.3340426

المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Koohestani, Mohsen, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Polytech' Angers, Université d'Angers, Region Pays de la Loire, University of Angers

المصدر: ISSN: 0026-2714.

مصطلحات موضوعية: Lifetime reliability Accelerated degradation tests Generalized Eyring model EMC conducted immunity testing Maximum likelihood estimation, Lifetime Reliability, Maximum Likelihood estimation, Generalized Eyring Model, Accelerated degradation tests, EMC immunity, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [INFO.INFO-PF]Computer Science [cs]/Performance [cs.PF], [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [STAT.AP]Statistics [stat]/Applications [stat.AP]

Relation: hal-04622696; https://univ-angers.hal.science/hal-04622696; https://univ-angers.hal.science/hal-04622696/document; https://univ-angers.hal.science/hal-04622696/file/Final_version_AttinyIC_MR_1-s2.0-S0026271424001276-main.pdf

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-04622696
https://univ-angers.hal.science/hal-04622696/document
https://univ-angers.hal.science/hal-04622696/file/Final_version_AttinyIC_MR_1-s2.0-S0026271424001276-main.pdf
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2024.115447

المؤلفون: Rashid, Jaber Al, Koohestani, Mohsen, Perdriau, Richard, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), 10.13039/501100013414-Conseil Régional des Pays de la Loire

المصدر: ISSN: 2637-6423 ; IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications ; https://univ-angers.hal.science/hal-03993665 ; IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, 2023, 5 (1), pp.27-32. ⟨10.1109/LEMCPA.2023.3240621⟩ ; https://ieeexplore.ieee.org/document/10035464.

مصطلحات موضوعية: DPI, conducted immunity, obsolescence, thermal stress, failure criterion, [SPI]Engineering Sciences [physics]

Relation: hal-03993665; https://univ-angers.hal.science/hal-03993665; https://univ-angers.hal.science/hal-03993665v2/document; https://univ-angers.hal.science/hal-03993665v2/file/Jaber_AL_RASHID_LEMCPA.pdf

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-03993665
https://univ-angers.hal.science/hal-03993665v2/document
https://univ-angers.hal.science/hal-03993665v2/file/Jaber_AL_RASHID_LEMCPA.pdf
https://doi.org/10.1109/LEMCPA.2023.3240621

المؤلفون: Indmeskine, Fatima-Ezahra, Saintis, Laurent, Kobi, Abdessamad, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Région Pays de la Loire, European Safety and Reliability Association, Polish Safety and Reliability Association

المصدر: Advances in Reliability, Safety and Security ; European Safety and Reliability Conference ESREL 2024 ; https://univ-angers.hal.science/hal-04673924 ; European Safety and Reliability Conference ESREL 2024, European Safety and Reliability Association, Jun 2024, Cracow, Poland. pp.79-86 ; https://esrel2024.com/

مصطلحات موضوعية: design of experiments, accelerated life test, crossed array design, reliability, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other, [STAT.AP]Statistics [stat]/Applications [stat.AP]

جغرافية الموضوع: Cracow, Poland

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-04673924

المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Saintis, Laurent, Koohestani, Mohsen, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), Région Pays de la Loire - RFI WISE, LifeLongEMC

المصدر: ISSN: 0026-2714.

مصطلحات موضوعية: Degradation path model, Electrical simulation model, Reliability performance estimation, Lifetime data distribution, Failure threshold, Accelerated degradation, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [INFO.INFO-PF]Computer Science [cs]/Performance [cs.PF], [INFO.INFO-MO]Computer Science [cs]/Modeling and Simulation

Relation: hal-03794416; https://hal.science/hal-03794416; https://hal.science/hal-03794416/document; https://hal.science/hal-03794416/file/ESREf2022%20Microelectronics_Jaber%20%281%29.pdf

الاتاحة: https://hal.science/hal-03794416
https://hal.science/hal-03794416/document
https://hal.science/hal-03794416/file/ESREf2022%20Microelectronics_Jaber%20%281%29.pdf
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114682

المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Koohestani, Mohsen, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), ESEO - RF-EMC (RF-EMC), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest Angers (ESEO), Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: Proceedings of the 31st European Safety and Reliability Conference ; https://univ-angers.hal.science/hal-03361394 ; Proceedings of the 31st European Safety and Reliability Conference, Sep 2021, Angers, France. pp.1850-1857, ⟨10.3850/978-981-18-2016-8_154-cd⟩

مصطلحات موضوعية: EMC, electromagnetic robustness, reliability, integrated circuits, conducted immunity and emission model, EFT, [SPI]Engineering Sciences [physics], [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [INFO.INFO-MO]Computer Science [cs]/Modeling and Simulation, [INFO.INFO-PF]Computer Science [cs]/Performance [cs.PF], [INFO.INFO-RO]Computer Science [cs]/Operations Research [cs.RO]

جغرافية الموضوع: Angers, France

Relation: hal-03361394; https://univ-angers.hal.science/hal-03361394; https://univ-angers.hal.science/hal-03361394/document; https://univ-angers.hal.science/hal-03361394/file/154.pdf

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-03361394
https://univ-angers.hal.science/hal-03361394/document
https://univ-angers.hal.science/hal-03361394/file/154.pdf
https://doi.org/10.3850/978-981-18-2016-8_154-cd

المؤلفون: Ben Said Amrani, Nabil, Saintis, Laurent, Sarsri, Driss, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Laboratoire des Technologies de l'Information et de la Communication de l'ENSA de Tanger.

المصدر: ISSN: 1895-8281.

مصطلحات موضوعية: Dynamic Hybrid System, Mechatronics, Multi-domain Interactions, predictive reliability, Quantitative modeling, Dynamic Bayesian Network, [SPI.MECA.GEME]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanical engineering [physics.class-ph]

Relation: hal-02182695; https://hal.science/hal-02182695; https://hal.science/hal-02182695/document; https://hal.science/hal-02182695/file/10.2478_jok-2019-0002.pdf; OKINA: ua19960

الاتاحة: https://hal.science/hal-02182695
https://hal.science/hal-02182695/document
https://hal.science/hal-02182695/file/10.2478_jok-2019-0002.pdf
https://doi.org/10.2478/jok-2019-0002

المؤلفون: Ben Said Amrani, Nabil, Saintis, Laurent, Sarsri, Driss, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire des Technologies de l'Information et de la Communication de l'ENSA de Tanger., Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: ISSN: 1895-8281.

مصطلحات موضوعية: epistemic uncertainties, evidential network, Mechatronics, Multi-domain Interactions, reliability, uncertainty of model, Belief Function, [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other

Relation: hal-02288851; https://hal.science/hal-02288851; https://hal.science/hal-02288851/document; https://hal.science/hal-02288851/file/10.2478_jok-2019-0045.pdf; OKINA: ua20177

الاتاحة: https://hal.science/hal-02288851
https://hal.science/hal-02288851/document
https://hal.science/hal-02288851/file/10.2478_jok-2019-0045.pdf
https://doi.org/10.2478/jok-2019-0045

المؤلفون: Amrani Nabil B., Sarsri Driss, Barreau Mihaela, Saintis Laurent

المصدر: MATEC Web of Conferences, Vol 286, p 05002 (2019)

مصطلحات موضوعية: Predictive Reliability, Mechatronics, Modeling, Reconfiguration, Functional Analysis, Dysfunctional Analysis, Petri Networks, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040

Relation: https://www.matec-conferences.org/articles/matecconf/pdf/2019/35/matecconf_cmm18_05002.pdf; https://doaj.org/toc/2261-236X; https://doaj.org/article/bc04bc747c634a1f8d96e0ec6eab18cc

الاتاحة: https://doi.org/10.1051/matecconf/201928605002
https://doaj.org/article/bc04bc747c634a1f8d96e0ec6eab18cc

المؤلفون: Al Rashid, Jaber, Koohestani, Mohsen, Perdriau, Richard, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: Region Pays de la Loire, Universite Angers, ESEO School of Engineering

المصدر: IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications ; volume 5, issue 1, page 27-32 ; ISSN 2637-6423

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1109/lemcpa.2023.3240621
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8566057/10079119/10035464.pdf?arnumber=10035464

المؤلفون: Amrani, Nabil Bensaid, Saintis, Laurent, Sarsri, Driss, Barreau, Mihaela

المصدر: Incertitudes et fiabilité des systèmes multiphysiques ; volume 17, issue 1 ; ISSN 2514-569X

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.21494/iste.op.2017.0123

المؤلفون: Dhouibi, Mohamed Slim, Perquis, Jean-Mars, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Valeo Driving Assistance Domain, VALEO

المصدر: Congrès Lambda Mu 19 de Maîtrise des Risques et Sûreté de Fonctionnement ; https://hal.science/hal-01136888 ; Congrès Lambda Mu 19 de Maîtrise des Risques et Sûreté de Fonctionnement, 2014, Dijon, France. ⟨10.4267/2042/56185⟩ ; http://documents.irevues.inist.fr/handle/2042/54347

مصطلحات موضوعية: [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other

جغرافية الموضوع: Dijon, France

Relation: hal-01136888; https://hal.science/hal-01136888; https://hal.science/hal-01136888v2/document; https://hal.science/hal-01136888v2/file/lambda_mu_19_slim_dhouibi_paper.pdf; OKINA: ua9277

الاتاحة: https://hal.science/hal-01136888
https://hal.science/hal-01136888v2/document
https://hal.science/hal-01136888v2/file/lambda_mu_19_slim_dhouibi_paper.pdf
https://doi.org/10.4267/2042/56185

المؤلفون: Demri, Amel, CHARKI, Abdérafi, GUERIN, Fabrice, Barreau, Mihaela, Christofol, Hervé

المساهمون: Association Française de Mécanique

المصدر: CFM 2007 - 18ème Congrès Français de Mécanique ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549 ; CFM 2007 - 18ème Congrès Français de Mécanique, Aug 2007, Grenoble, France

مصطلحات موضوعية: APTE, BdF, TAF, AMDE Arbre de défail, Réseaux Bayésiens, [PHYS.MECA]Physics [physics]/Mechanics [physics]

جغرافية الموضوع: Grenoble, France

Relation: hal-03362549; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549/document; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549/file/bitstream_22781.pdf

الاتاحة: https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549/document
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03362549/file/bitstream_22781.pdf

المؤلفون: Baussaron, Julien, Barreau, Mihaela, Gerville-Réache, Léo, Guérin, Fabrice, Schimmerling, Paul

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: ISSN: 0951-8320.

مصطلحات موضوعية: Reliability assessment, Degradation process, Data simulation, [SPI]Engineering Sciences [physics]

Relation: hal-03287214; https://univ-angers.hal.science/hal-03287214; https://univ-angers.hal.science/hal-03287214/document; https://univ-angers.hal.science/hal-03287214/file/1-s2.0-s0951832014000799-main.pdf; OKINA: ua5775

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-03287214
https://univ-angers.hal.science/hal-03287214/document
https://univ-angers.hal.science/hal-03287214/file/1-s2.0-s0951832014000799-main.pdf
https://doi.org/10.1016/j.ress.2014.04.011

المؤلفون: Voiculescu, Sorin, Guerin, Fabrice, Barreau, Mihaela

المصدر: Quality Technology & Quantitative Management ; volume 8, issue 4, page 439-450 ; ISSN 1684-3703

الاتاحة: http://dx.doi.org/10.1080/16843703.2011.11673269
http://www.tandfonline.com/doi/pdf/10.1080/16843703.2011.11673269

المؤلفون: Vangvichith, M., Autret, D., Tiplica, Téodor, Barreau, Mihaela, Dufreneix, S.

المساهمون: Institut de Cancérologie de l'Ouest Angers/Nantes (UNICANCER/ICO), UNICANCER, Centre Intégré d'Oncologie Nantes/Angers, Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: ISSN: 1120-1797 ; Physica Medica ; https://univ-angers.hal.science/hal-02531005 ; Physica Medica, 2019, 61, pp.103-111. ⟨10.1016/j.ejmp.2019.04.014⟩.

مصطلحات موضوعية: Design of experiment, Heterogeneous media, Algorithm, Dose calculation, [SPI]Engineering Sciences [physics]

Relation: hal-02531005; https://univ-angers.hal.science/hal-02531005

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-02531005
https://doi.org/10.1016/j.ejmp.2019.04.014

المؤلفون: Vangvichith, M., Autret, D., Posnic, M., Barreau, Mihaela, Tiplica, Téodor, Dufreneix, S.

المساهمون: Centre Intégré d'Oncologie Nantes/Angers, Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: ISSN: 1120-1797.

مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]

الاتاحة: https://hal.science/hal-02516121
https://doi.org/10.1016/j.ejmp.2018.09.045

المؤلفون: Ben Said Amrani, Nabil, Saintis, Laurent, Barreau, Mihaela, Sarsri, Driss

المساهمون: Laboratoire des Technologies de l'Information et de la Communication de l'ENSA de Tanger., Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: Congrès Lambda Mu 20 de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement ; https://hal.science/hal-01628529 ; Congrès Lambda Mu 20 de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, 2016, Saint-Malo, France. ⟨10.4267/2042/61845⟩ ; http://documents.irevues.inist.fr/bitstream/handle/2042/61845/lm20_com_8F_2_117_Bensaid_Amrani.pdf?sequence=1

مصطلحات موضوعية: Réseaux de Pétri, Fiabilité, Interactions multi-domaines, loi d’arrhenius, modèle de cox, facteur d’influence, Modélisation dysfonctionnelle, Modélisation fonctionnelle, [SPI.MECA.GEME]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Mechanical engineering [physics.class-ph], [SPI.OTHER]Engineering Sciences [physics]/Other

جغرافية الموضوع: Saint-Malo, France

Relation: hal-01628529; https://hal.science/hal-01628529; OKINA: ua16428

الاتاحة: https://hal.science/hal-01628529
https://doi.org/10.4267/2042/61845

المؤلفون: Ben Said Amrani, Nabil, Saintis, Laurent, Sarsri, Driss, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire des Technologies de l'Information et de la Communication de l'ENSA de Tanger., Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA), Laboratoire des technologies Innovantes Tanger (LTI), Ecole Nationale des Sciences Appliquées Tanger (ENSAT)

المصدر: International Conference on Automation, Control Engineering and Computer Science (ACECS ) ; https://univ-angers.hal.science/hal-02516169 ; International Conference on Automation, Control Engineering and Computer Science (ACECS ), Mar 2016, hammamet, Tunisia. pp.41-46 ; IPCO

مصطلحات موضوعية: Belief Function, epistemic uncertainties, Interactive aspect, Mechatronic, Petri Network, predictive reliability, reliability, Uncertainties, [SPI]Engineering Sciences [physics]

جغرافية الموضوع: hammamet, Tunisia

Relation: hal-02516169; https://univ-angers.hal.science/hal-02516169

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-02516169

المؤلفون: Kangoye, Sékou, Todoskoff, Alexis, Barreau, Mihaela

المساهمون: Laboratoire Angevin de Recherche en Ingénierie des Systèmes (LARIS), Université d'Angers (UA)

المصدر: 2015 IEEE AUTOTESTCON
https://univ-angers.hal.science/hal-02514017
2015 IEEE AUTOTESTCON, Nov 2015, National Harbor, United States. pp.203-212, ⟨10.1109/AUTEST.2015.7356490⟩

مصطلحات موضوعية: [MATH]Mathematics [math]

جغرافية الموضوع: National Harbor, United States

Relation: hal-02514017; https://univ-angers.hal.science/hal-02514017

الاتاحة: https://univ-angers.hal.science/hal-02514017
https://doi.org/10.1109/AUTEST.2015.7356490