المؤلفون: S. Ben Dhia, A. Boyer, B. Vrignon, M. Deobarro

المساهمون: The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

المصدر: http://hal-univ-tlse2.archives-ouvertes.fr/docs/00/93/60/80/PDF/BenDhia_-_JETTA_-IC_immunity_modellingV2_.pdf.

مصطلحات موضوعية: on-chip measurement, immunity modelling, power supply network

وصف الملف: application/pdf

Relation: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.429.3690; http://hal-univ-tlse2.archives-ouvertes.fr/docs/00/93/60/80/PDF/BenDhia_-_JETTA_-IC_immunity_modellingV2_.pdf

الاتاحة: http://citeseerx.ist.psu.edu/viewdoc/summary?doi=10.1.1.429.3690
http://hal-univ-tlse2.archives-ouvertes.fr/docs/00/93/60/80/PDF/BenDhia_-_JETTA_-IC_immunity_modellingV2_.pdf

المؤلفون: Adrien Doridant, B. Vrignon, Matthieu Aribaud, Kamel Abouda, Nicolas Baptistat

المصدر: 2017 11th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMCCompo).

مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, Electrical engineering, Integrated circuit, Integrated circuit design, Electromagnetic interference, law.invention, Reliability (semiconductor), law, EMI, Logic gate, Electronic engineering, State (computer science), business, Electronic circuit

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::e104f6aa77b2a4ac86079f681c233c58
https://doi.org/10.1109/emccompo.2017.7998083

المؤلفون: Jiancheng Li, Jianfei Wu, Alexandre Boyer, S. Bendhia, B. Vrignon

المصدر: Microelectronics Reliability. 53:1273-1277

مصطلحات موضوعية: Engineering, Low-dropout regulator, business.industry, Linear regulator, Direct current, Electromagnetic compatibility, Voltage regulator, Condensed Matter Physics, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Electromagnetic interference, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Control theory, Dropout voltage, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, business, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::16fa50e11a6569bca5845320ad90b7d2
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2013.07.124

المؤلفون: B. Vrignon, B. Li, C. Lemoine, S. Ben Dhia, Alexandre Boyer

المساهمون: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences [Beijing] (CAS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)

المصدر: Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2012, 28 (6), pp.791-802. ⟨10.1007/s10836-012-5335-y⟩
Journal of Electronic Testing
Journal of Electronic Testing, Springer Verlag, 2012, 28 (6), pp.791-802. ⟨10.1007/s10836-012-5335-y⟩

مصطلحات موضوعية: circuit aging, Engineering, Circuit design, Integrated circuits, Long term immunity, Integrated circuit design, 02 engineering and technology, Integrated circuit, 01 natural sciences, Electromagnetic interference, law.invention, Reliability (semiconductor), law, Control theory, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, immunity modelling, 010302 applied physics, reliability, business.industry, Transistor, 020206 networking & telecommunications, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Phase-locked loop, susceptibiity to electromagnetic interferences, business, Degradation (telecommunications)

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::2c61a388d3ab104634a04c8cf7878455
https://doi.org/10.1007/s10836-012-5335-y

المؤلفون: T. Marek, A. Doridant, B. Vrignon, D. Pagnoux, Y. Gao, K. Abouda

المصدر: EMC Compo

مصطلحات موضوعية: Coupling, Engineering, Silicon, business.industry, Electromagnetic compatibility, chemistry.chemical_element, Near and far field, Integrated circuit, Chip, Die (integrated circuit), law.invention, chemistry, law, Electronic engineering, Fail-safe, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ca7da769add6b4326c26063df0cc77bd
https://doi.org/10.1109/emccompo.2015.7358344

المؤلفون: B. Vrignon, A. Boyer, Manuel Cavarroc

المساهمون: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Service Instrumentation Conception Caractérisation (LAAS-I2C), ANR-12-INSE-0005,E-MATA HARI,Analyse électromagnétique, déchiffrement et ingénierie inverse de circuits intégrés(2012), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées

المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2015, 58 (1), pp. 257-269. ⟨10.1109/TEMC.2015.2486041⟩
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2015, 58 (1), pp. 257-269. ⟨10.1109/TEMC.2015.2486041⟩

مصطلحات موضوعية: Materials science, Near and far field, 02 engineering and technology, Integrated circuit, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, electromagnetic attack, on-chip sensor, susceptibility, law.invention, Computer Science::Hardware Architecture, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electrical and Electronic Engineering, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Electrical engineering, integrated circuit, 020206 networking & telecommunications, modeling, Condensed Matter Physics, Chip, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Magnetic field, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, near-field injection, business, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c25ec6ae9f48a8d9340d8d3cd4f2e0ea
https://hal.science/hal-01225324/document

المؤلفون: A. Boyer, Sonia Ben Dhia, He Huang, B. Vrignon

المساهمون: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées

المصدر: Asia-Pacific International EMC Symposium 2015
Asia-Pacific International EMC Symposium 2015, May 2015, Taipei, Taiwan. 4p

مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, EKV MOSFET Model, Computer science, Electromagnetic susceptibility, Electromagnetic compatibility, 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, Electromagnetic interference, law.invention, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, law, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Cmos operational amplifier, Electronic engineering, Operational amplifier

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c1208d11dd2b098e0f8ade8c7212f936
https://hal.science/hal-01159222

المؤلفون: B. Vrignon, J. Shepherd, A. Boyer

المصدر: 2015 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC).

مصطلحات موضوعية: Coupling, Engineering, business.industry, Electrical engineering, Near and far field, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Integrated circuit, Discrete circuit, Chip, Die (integrated circuit), Magnetic field, law.invention, Computer Science::Hardware Architecture, law, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electronic engineering, business, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::122ae444372217aeb37428c98666746e
https://doi.org/10.1109/apemc.2015.7175281

المؤلفون: B. Vrignon, Karim Tobich, Rachid Omarouayache, Jeremy Raoult, Laurent Chusseau, Alexandre Bover, John Shepherd, Thanh-Ha Le, Philippe Maurine, Maël Berthier, Bruno Robisson, Lionel Rivière, Anne-Lise Ribotta, Sylvie Jarrix

المساهمون: Institut d’Electronique et des Systèmes (IES), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Radiations et composants (RADIAC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Freescale Semiconductors, Toulouse, Freescale Semiconductors, ENSEEIHT, Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-ENSEEIHT, Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, MORPHO (SAFRAN), Équipe de Recherche Commune CEA - EMSE (SESAM : Secured Embedded Systems And Microelectronics) (ERC CEA / EMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC, Centre Microélectronique de Provence - Site Georges Charpak (CMP-GC) (CMP-ENSMSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)

المصدر: 22nd International Conference on Very Large Scale Integration
VLSI-SoC: Very Large Scale Integration-System-on-Chip
VLSI-SoC: Very Large Scale Integration-System-on-Chip, Oct 2014, Playa del Carmen, Mexico. pp.1-6, ⟨10.1109/VLSI-SoC.2014.7004189⟩
VLSI-SoC

مصطلحات موضوعية: Reverse engineering, Engineering, business.industry, Integrated circuit, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Fault (power engineering), computer.software_genre, Signal, law.invention, Fault propagation, law, Electronic engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, business, computer

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::a594947f9780d0e5f9709854fbce696d
https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-01434592

المؤلفون: A. Boyer, S. Ben Dhia, He Huang, B. Vrignon

المساهمون: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)

المصدر: EMC Europe 2014
EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-5

مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, on-chip measurement, Electrical engineering, integrated circuit, Integrated circuit, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Signal, Electromagnetic interference, conducted susceptibility, law.invention, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, law, Operational amplifier, Electronic engineering, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, System on a chip, Transient response, Time domain, business, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::4af9d1145be0fcd76ba39e9aca1c0309
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068127/document

المؤلفون: B. Vrignon, M. Cavarroc, A. Boyer, John Shepherd

المساهمون: Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Service Instrumentation Conception Caractérisation (LAAS-I2C), ANR-12-INSE-0005,E-MATA HARI,Analyse électromagnétique, déchiffrement et ingénierie inverse de circuits intégrés(2012), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)

المصدر: EMC Europe 2014
EMC Europe 2014, Sep 2014, Goteborg, Sweden. pp.1-6

مصطلحات موضوعية: Engineering, business.industry, near-field scan injection, 020208 electrical & electronic engineering, Induced voltage, Electrical engineering, 020206 networking & telecommunications, Near and far field, 02 engineering and technology, Integrated circuit, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, electromagnetic attack, susceptibility, law.invention, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Computer Science::Hardware Architecture, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, business, Electronic circuit, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::508fb6af2141d2691ff588581971e9bc
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01068126/document

المؤلفون: Rongjun Shen, Jianfei Wu, Jiancheng Li, Sonia Ben Dhia, Etienne Sicard, B. Vrignon, Alexandre Boyer

المساهمون: College of Life and Health Sciences, Institute of Neuroscience, Équipe Énergie et Systèmes Embarqués (LAAS-ESE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), Multimedia Research Center (MRC), University of Alberta, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Laboratoire Toulousain de Technologie et d'Ingénierie des Systèmes (LATTIS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-IUT Toulouse 2 Blagnac, School of Electronic Science and Engineering, National Key Laboratory for Parallel and Distributed Processing [Changsha], National University of Defense Technology [China]-National University of Defense Technology [China], Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse 1 Capitole (UT1)

المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2014, 56 (3), pp.726-735. ⟨10.1109/TEMC.2013.2294951⟩

مصطلحات موضوعية: Conducted electromagnetic interference, Engineering, Low-dropout regulator, business.industry, Voltage regulator, Condensed Matter Physics, Chip, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Electromagnetic interference, law.invention, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Modeling and simulation, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Capacitor, law, EMI, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::fd2a747e03dd4d13e19c77aa96d8a22e
https://hal.science/hal-01159232

المؤلفون: B. Vrignon, J. Shepherd, P. Caunegre, Jianfei Wu

المصدر: EMC Compo

مصطلحات موضوعية: Design phase, Engineering, Low-dropout regulator, Cad tools, business.industry, Circuit design, SIGNAL (programming language), Electromagnetic compatibility, Electronic engineering, CAD, business, Circuit extraction

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7e5adc92ecf7e881a90dcb6465ebc91a
https://doi.org/10.1109/emccompo.2013.6735201

المؤلفون: A. Boyer, Christophe Lemoine, B. Vrignon, S. Ben Dhia

المصدر: 2012 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility.

مصطلحات موضوعية: Coupling, Engineering, business.industry, Electrical engineering, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Integrated circuit design, Integrated circuit, Noise (electronics), Electromagnetic interference, Model validation, law.invention, Computer Science::Hardware Architecture, law, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electromagnetic devices, Electronic engineering, business, Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::668745d1dc381cbbbfe1be89da9d8d97
https://doi.org/10.1109/apemc.2012.6237884

المؤلفون: Wei Mao, B. Vrignon, Weiying Li, Richard Wang, John Shepherd, Yu Tian

المصدر: 2012 Asia-Pacific Symposium on Electromagnetic Compatibility.

مصطلحات موضوعية: Engineering, Electrostatic discharge, business.industry, Electromagnetic compatibility, Electrical engineering, Power injection, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, Integrated circuit, law.invention, Snapback, EMI, law, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Electronic engineering, business, RC circuit, Hardware_LOGICDESIGN

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::16247c53c155c36bc56fd7bb0edd7df5
https://doi.org/10.1109/apemc.2012.6237993

المؤلفون: B. Vrignon, Alexandre Boyer, Raul Fernandez-Garcia, Sonia Bendhia, Ignacio Gil

المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya [Barcelona] (UPC), Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE), Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées

المصدر: IEICE Transactions on Electronics
IEICE Transactions on Electronics, 2011, E94-C (12), pp.1906
IEICE Transactions on Electronics, Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, 2011, E94-C (12), pp.1906

مصطلحات موضوعية: Engineering, Electrical modelling, 02 engineering and technology, 01 natural sciences, 7. Clean energy, Electromagnetic interference, Computer Science::Hardware Architecture, MOSFET, EMI, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, Drain current, 010302 applied physics, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Mathematics::History and Overview, Electrical engineering, Current source, Condensed Matter::Mesoscopic Systems and Quantum Hall Effect, Electronic, Optical and Magnetic Materials, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, Equivalent circuit, business, Electromagnetic Compatibility (EMC), Voltage

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::aca61f667c2314bdb7d1ad7dea23694f
https://hal.science/hal-00669506/file/DPI_MOSFET_5.pdf

المؤلفون: Patrice M. Parris, Linpeng Wei, Hongwei Zhao, Jian Yang, Richard Wang, B. Vrignon, Richard Moseley, Emre Salman, Qiang Li, Jim Feddeler, Dan Blomberg, Radu M. Secareanu, Olin L. Hartin, Waley Li, John Shepherd

المصدر: 2010 International SoC Design Conference.

مصطلحات موضوعية: Design framework, Engineering, Event (computing), business.industry, Integrated circuit, Transient analysis, law.invention, Substrate (building), Reliability (semiconductor), law, Electronic engineering, Transient (oscillation), business, Electronic circuit

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b3f6aa506cfbd8ef5f9edb572101572b
https://doi.org/10.1109/socdc.2010.5682984

المؤلفون: B. Vrignon, Franck Galtie

المصدر: 2010 Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility.

مصطلحات موضوعية: Noise, Engineering, business.industry, Systems architecture, Electromagnetic compatibility, Automotive industry, Systems engineering, Control engineering, Topology (electrical circuits), Design strategy, Architecture, business, Power management integrated circuit

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8820af4c353b8d0890e0413aae553583
https://doi.org/10.1109/apemc.2010.5475610

المؤلفون: L. Guillot, S. Ben Dhia, Alexandre Boyer, A.C. Ndoye, B. Vrignon

المساهمون: Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS), Université Toulouse Capitole (UT Capitole), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Laboratoire Toulousain de Technologie et d'Ingénierie des Systèmes (LATTIS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Freescale Semiconductor, Freescale semiconductor, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse 1 Capitole (UT1), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)

المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2009, 51 (4), pp.892
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2009, 51 (4), pp.892

مصطلحات موضوعية: Engineering, Automotive industry, 02 engineering and technology, Integrated circuit, 01 natural sciences, Automotive engineering, Integrated circuit testing, law.invention, Reliability (semiconductor), law, Power electronics, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, electromagnetic compatibility, Electronic circuit, 010302 applied physics, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Electromagnetic compatibility, conducted emission, Condensed Matter Physics, Accelerated aging, aging effects, Atomic and Molecular Physics, and Optics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, visual_art, Electronic component, visual_art.visual_art_medium, business

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::78b2f0628d828e68eb2f81c9dd631cdb
https://hal.science/hal-00669519/file/Boyer_2009_-Evolution_of_IC_Emission_Spectrum_after_Ageing_-_for_publication.pdf

المؤلفون: Eric Rogard, Etienne Sicard, Richard Moseley, B. Vrignon, John Shepherd

المصدر: 2009 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility.

مصطلحات موضوعية: Phase-locked loop, Engineering, Microcontroller, Electromagnetics, business.industry, Ball grid array, Automotive industry, Electronic engineering, Electromagnetic compatibility, 32-bit, business, Automotive electronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c2ce498c1f1c59b87f2c63e92bb077cf
https://doi.org/10.1109/isemc.2009.5284680