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1Conference
المؤلفون: Junige, Marcel, Oddoy, Tim, Yakimovab, Rositsa, Darakchievab, Vanya, Wenger, Christian, Lupinac, Grzegorz, Kitzmann, Julia, Albert, Matthias, Bartha, Johann W.
مصطلحات موضوعية: Atomic Layer Deposition (ALD), Aluminium(III) oxide (Al²O³), graphene, in-vacuo pre-treatment, Nitrogen trifluoride (NF³), in-situ real-time Spectroscopic Ellipsometry (irtSE), in-vacuo X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), Atomic Force Microscopy (AFM), Atomschichtabscheidung (ALD), Aluminium(III)oxid (Al²O³), Graphen, In-Vakuo-Vorbehandlung, Stickstoff trifluorid (NF³), in-situ Echtzeit Spektroskopische Ellipsometrie (irtSE), in-vacuo Röntgen-Photoelektronen Spektroskopie (XPS), Rasterkraftmikroskopie (AFM), info:eu-repo/classification/ddc/620, ddc:620
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2Conference
المؤلفون: Krug, M., Endler, I., Benner, F., Dirnstorfer, I., Müller, J., Sundqvist, J., Rose, M., Jakschik, S., Weber, J., Liepack, H.
مصطلحات موضوعية: Atomschichtabscheidung, Prozessentwicklung, Verfahrensbeschreibung, Grundmaterial, Chemisorption, chemische Reaktion, Spülgas, Anlagenkonzept, Anlagenkonstruktion, Gasströmung, Anwendungsgebiet, Solarzelle, Schutzschichtausbildung, Verschleißschutzschicht, Kraftstoffeinspritzung, Aluminiumoxid, Titanoxid, Siliciumoxid, Mischoxid
Time: 620, 666
Relation: Workshop "Atomic Layer Deposition - Grundlagen, Anwendungen und künftige Potentiale" 2012; Atomic Layer Deposition - Grundlagen, Anwendungen und künftige Potentiale; https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/376101