المؤلفون: 周劲, 郝一龙, 武国英

المساهمون: 北京大学微电子学系MEMS,研究所,北京,100871

المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Conference_7030417.aspx

مصطلحات موضوعية: 紫外探测器, 紫外通信, 紫外成像, 器件性能

Relation: 中国微米/纳米第六届学术年会.太原,2003/8/27.; 1220289; http://hdl.handle.net/20.500.11897/24066

الاتاحة: https://hdl.handle.net/20.500.11897/24066