يعرض 1 - 5 نتائج من 5 نتيجة بحث عن '"浦口 雄世"', وقت الاستعلام: 0.40s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
    Control of Jc Anisotropy in YBCO Films by Spatial Distribution of Nano-Particles / ナノ粒子の空間分布によるYBCO薄膜のJcの異方性の制御

    المؤلفون: Momotaro Suenaga, Takaaki Furusawa, Takanori Fujiyoshi, Tetsuro Sueyoshi, Yusei Uraguchi, 古澤 隆章, 末吉 哲郎, 末永 桃太郎, 浦口 雄世, 藤吉 孝則

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2016, :2152

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Academic Journal
    Jc properties in YBCO-based multilayered films with growth controlled nanodots and heavy-ion irradiation defects / 成長制御したナノ粒子と重イオン照射欠陥を含むYBCO擬似多層膜のJc特性

    المؤلفون: Momotaro Suenaga, Takahiro Makihara, Takanori Fujiyoshi, Tetsuro Sueyoshi, Tetsuya Kotaki, Yusei Uraguchi, 上瀧 哲也, 末吉 哲郎, 末永 桃太郎, 浦口 雄世, 牧原 隆博, 藤吉 孝則

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2015, :2075

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    Academic Journal
    GdBCOコーテッドコンダクタの臨界電流密度に対する交差した柱状欠陥の連続性の影響 / Influence of Continuity of Splayed Columnar Defects on Critical Current Density in GdBCO Coated Conductors

    المؤلفون: Takafumi Kai, Takanori Fujiyoshi, Tetsuro Sueyoshi, Tetsuya Kotaki, Yuuichi Furuki, Yuusei Uraguchi, 上瀧 哲也, 古木 裕一, 末吉 哲郎, 浦口 雄世, 甲斐 隆史, 藤吉 孝則

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2014, :2122

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    Academic Journal
    Jc Properties in Multilayer Films Composed of YBCO and Growth Controlled Nanodots / 成長制御したナノ粒子とYBCOからなる多層膜のJc特性

    المؤلفون: Momotaro Suenaga, Takahiro Makihara, Takanori Fujiyoshi, Tetsuro Sueyoshi, Tetsuya Kotaki, Yusei Yraguchi, 上瀧 哲也, 末吉 哲郎, 末永 桃太郎, 浦口 雄世, 牧原 隆博, 藤吉 孝則

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2015, :2097

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    Academic Journal
    BaZrO3/YBa2Cu3Oy擬似多層膜への照射柱状欠陥の導入によるハイブリッド磁束ピンニング / Hybrid Flux Pinning in BaZrO3/YBa2Cu3Oy Quasi-multilayered Films with Columnar Defects

    المؤلفون: 上瀧 哲也, 光木 文秋, 末吉 哲郎, 池上 知顯, 浦口 雄世, 藤吉 孝則

    المصدر: Record of Joint Conference of Electrical and Electronics Engineers in Kyushu. 2013, :295


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء