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1Academic Journal
المساهمون: 中国科学院微电子研究所,北京,100029, 北京大学软件与微电子学院,江苏无锡,214125
المصدر: 万方 ; 知网 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Periodical_wdzxyjsj201410006.aspx
مصطلحات موضوعية: FPGA芯片验证与测试, 测试方法, 测试向量, 测试覆盖率, FPGA chip verification and testing, testing method, testing vector, testing coverage
Relation: 微电子学与计算机.2014,(10),22-27.; 818198; http://hdl.handle.net/20.500.11897/221926
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2Academic Journal
المساهمون: 清华大学计算机科学与技术系 北京100084, 解放军总医院第一附属医院计算机中心 北京100048, 北京大学软件与微电子学院 北京102600
مصطلحات موضوعية: 测试充分性 基于模型的测试 测试覆盖率
Relation: 计算机科学.2013,40,(2),153-158.; 1212844; http://hdl.handle.net/20.500.11897/284669
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3Dissertation/ Thesis
المؤلفون: 张燕
المساهمون: 北京大学
المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Thesis_Y1774579.aspx
Relation: 北京大学.; 731998; http://hdl.handle.net/20.500.11897/369384
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4Dissertation/ Thesis
المؤلفون: 孔常柱
المساهمون: 北京大学
المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Thesis_Y1608808.aspx
Relation: 北京大学.; 715183; http://hdl.handle.net/20.500.11897/353200
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5Dissertation/ Thesis
المؤلفون: 邸晓峰
المساهمون: 北京大学
المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Thesis_Y1773641.aspx
Relation: 北京大学.; 738203; http://hdl.handle.net/20.500.11897/375509
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6Dissertation/ Thesis
المؤلفون: 李鹏举
المساهمون: 北京大学
المصدر: 万方 ; http://d.g.wanfangdata.com.cn/Thesis_Y1180741.aspx
Relation: 北京大学.; 733890; http://hdl.handle.net/20.500.11897/371251