نتائج البحث - "柳部正樹"

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Academic Journal

Study on Learning Image Generation Using Deep Convolutional Auto-encoder for Defect Inspection Sensitivity Control in Electronic Component Inspection / 電子部品検査における欠陥検査感度制御のためのDeep Convolutional Auto-encoderを用いた学習画像生成の検討

المؤلفون: Kentarou OOI, Koki NISHIMURA, Masaki YANABE, Shunji MAEDA, Tomohiro TANAKA, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 田中智裕, 西村晃紀

المصدر: 精密工学会誌 / Journal of the Japan Society for Precision Engineering. 2019, 85(8):733

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Academic Journal

Proposal on Improvement of Defect Identification Performance by Dimensional Reduction Focusing on Localization of HOG Feature in Electronic Component Inspection / 電子部品検査におけるHOG特徴量の局在性に着目した次元削減による欠陥識別性能向上に関する提案

المؤلفون: Koki NISHIMURA, Masaki YANABE, Shunji MAEDA, Takeru MORIYAMA, Tomohiro NAGATANI, 前田俊二, 柳部正樹, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘

المصدر: 精密工学会誌 / Journal of the Japan Society for Precision Engineering. 2019, 85(5):469

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Academic Journal

Deep Convolutional Auto-encoderによる生成画像を用いた電子部品欠陥検査感度の評価手法の検討

المؤلفون: Kentarou Ooi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Tomohiro Tanaka, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 田中智裕, 西村晃紀

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2019, :420

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Academic Journal

電子部品検査における画像生成による欠陥学習データ確保の検討

المؤلفون: Kentarou Ooi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Tomohiro Tanaka, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 田中智裕, 西村晃紀

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2019, :416

5

Academic Journal

Deep Convolutional AutoEncoderを用いた電子部品検査における画像生成による識別困難欠陥への対応

المؤلفون: Kentaro Oi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Tomohiro Tanaka, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 森山健, 田中智裕, 西村晃紀, 長谷智紘

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2019, :412

6

Academic Journal

Proposal of Electronic Component Visual Inspection Method with Histogram-Based Local Feature / ヒストグラムベースの局所特徴量を用いた電子部品の外観検査手法の提案

المؤلفون: Koki NISHIMURA, Masaki YANABE, Masaya HASHIMOTO, Shunji MAEDA, Takeru MORIYAMA, Tomohiro NAGATANI, Tomoyuki ARAKI, 前田俊二, 柳部正樹, 森山健, 橋本将弥, 荒木智行, 西村晃紀, 長谷智紘

المصدر: 精密工学会誌 / Journal of the Japan Society for Precision Engineering. 2018, 84(7):664

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Academic Journal

電子部品検査のためのHOG特徴量の次元削減による欠陥識別精度向上の検討

المؤلفون: Kentaro Ooi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Tomohiro Tanaka, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 森山健, 田中智裕, 西村晃紀, 長谷智紘

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2018, :640

8

Academic Journal

電子部品検査精度の向上のためのオートエンコーダを用いた欠陥画像生成手法の検討

المؤلفون: Kentarou Ooi, Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Tomohiro Tanaka, 前田俊二, 大井健太郎, 柳部正樹, 森山健, 田中智裕, 西村晃紀, 長谷智紘

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2018, :632

9

Academic Journal

Consideration of electronic component inspection with HOG feature / HOG特徴量を電子部品検査に適用した場合の課題検討

المؤلفون: Koki Nishimura, Masaki Yanabe, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Yuta Aoto, 前田俊二, 柳部正樹, 森山健, 西村晃紀, 長谷智紘, 青戸勇太

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2017, :219

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Academic Journal

電子部品検査における過検出抑制のためのHOG特徴量に関する検討

المؤلفون: Koki Nishimura, Masaki Fujii, Masaki Yanabe, Masaya Hashimoto, Shunji Maeda, Takeru Moriyama, Tomohiro Nagatani, Yuta Aoto, 前田俊二, 柳部正樹, 森山健, 橋本将弥, 藤井将貴, 西村晃紀, 長谷智紘, 青戸勇太

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2017, :221

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