يعرض 1 - 4 نتائج من 4 نتيجة بحث عن '"宍戸 千絵"', وقت الاستعلام: 0.51s تنقيح النتائج
  1. 1
    Academic Journal
    Monitoring of Photoresist Pattern Thickness Using Top-down SEM Image / トップダウンSEM像を用いたレジストパタン膜厚管理

    المؤلفون: Atsushi MIYAMOTO, Chie SHISHIDO, Hidetoshi MOROKUMA, Ryo NAKAGAKI, Wataru NAGATOMO, Yuji TAKAGI, 中垣 亮, 宍戸 千絵, 宮本 敦, 諸熊 秀俊, 長友 渉, 高木 裕治

    المصدر: 精密工学会誌 / Journal of the Japan Society for Precision Engineering. 2007, 73(7):808


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    Academic Journal
    Study on Fabrication Process Parameter Estimation by Visual Measurement / 画像計測による製造プロセスパラメータ推定法の検討

    المؤلفون: Chie Shishido, Maki Tanaka, Ryo Nakagaki, Yuji Takagi, 中垣 亮, 宍戸 千絵, 田中 麻紀, 高木 裕治

    المصدر: 電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌） / IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems. 2007, 127(4):630


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    Academic Journal
    Robust Pattern Registration Method using Plural Evaluation Functions for LSI Patterns / 複数の評価関数を用いたロバストなLSIパターンの位置合わせ方法

    المؤلفون: Chie Shishido, Maki Tanaka, Masahiro Watanabe, Takashi Hiroi, 宍戸 千絵, 広井 高志, 渡辺 正浩, 田中 麻紀

    المصدر: 電気学会論文誌Ｃ（電子・情報・システム部門誌） / IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems. 2004, 124(3):621

    Full Text Finder

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    Academic Journal
    CD-SEMによる微細寸法計測技術 / Critical Dimension Measurement Technology Using CD-SEM

    المؤلفون: Chie SHISHIDO, Hiroki KAWADA, Mayuka OSAKI, Tadashi OTAKA, 大崎 真由香, 大高 正, 宍戸 千絵, 川田 洋揮

    المصدر: 表面科学 / Hyomen Kagaku. 2006, 27(11):636


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء