المؤلفون: 中島, 敏之, 12699, ナカシマ, トシユキ, Nakashima, Toshiyuki, 米岡, 将士, 14761, ヨネオカ, マサシ, 角田, 功, 14762, ツノダ, イサオ, 高倉, 健一郎, 14763, タカクラ, ケンイチロウ, 大山, 英典, 14764, オオヤマ, ヒデノリ, 中, 庸行, 14765, ナカ, ノブユキ, 吉野, 賢二, 12061, ヨシノ, ケンジ, 80284826, Yoshino, Kenji, Simoen, Eddy, 14767, Claeys, Cor, 14768, Yoneoka, Masashi, 14770, Tsunoda, Isao, 14771, Takakura, Kenichiro, 14772, Ohyama, Hidenori, 14773, Naka, Nobuyuki, 14774, 14775, 14776

مصطلحات موضوعية: Raman spectroscopy, Electron, Radiation damage, Strained Si, Hetero structures

وصف الملف: application/pdf

Relation: 宮崎大学工学部紀要; 42; 103; 107; Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki; AA00732558; http://hdl.handle.net/10458/4720

الاتاحة: https://miyazaki-u.repo.nii.ac.jp/record/2805/files/engineering103-107.pdf
http://hdl.handle.net/10458/4720
https://miyazaki-u.repo.nii.ac.jp/records/2805

المؤلفون: 中島, 敏之, 12699, ナカシマ, トシユキ, Nakashima, Toshiyuki, 出本, 竜也, 12700, イデモト, タツヤ, 米岡, 将士, 12701, ヨネオカ, マサシ, 角田, 功, 12702, ツノダ, イサオ, 高倉, 健一郎, 12703, タカクラ , ケンイチロウ, 大山, 英典, 12704, オオヤマ, ヒデノリ, 吉野, 賢二, 12061, ヨシノ, ケンジ, 80284826, Yoshino, Kenji, Simoen, E., 12706, Claeys, C., 12707, Idemoto, Tatsuya, 12709, Yoneoka, Masashi, 12710, Tsunoda, Isao, 12711, Takakura, Kenichiro, 12712, Ohyama, Hidenori, 12713, Simoen, Eddy, 12714, Claeys, Cor, 12715

مصطلحات موضوعية: Strained Si, Radiation damage, MOSFET, Electron, Hole mobility

وصف الملف: application/pdf

Relation: 宮崎大学工学部紀要; 41; 79; 84; Memoirs of Faculty of Engineering, University of Miyazaki; AA00732558; http://hdl.handle.net/10458/4099

الاتاحة: https://miyazaki-u.repo.nii.ac.jp/record/2496/files/engineering41_79-84.pdf
http://hdl.handle.net/10458/4099
https://miyazaki-u.repo.nii.ac.jp/records/2496